Wyniki wyszukiwania dla: ecu parameters

• Parameters

  Czasopisma

  ISSN: 0031-1723

• Parametro

  Czasopisma

  ISSN: 0031-1731

• ECS Transactions

  Czasopisma

  ISSN: 1938-5862 , eISSN: 1938-6737

• EMU

  Czasopisma

  ISSN: 0158-4197 , eISSN: 1448-5540

• Fuzzy Collision Threat Parameters Area (FCTPA) - a new display proposal

  Publikacja

  • R. Szłapczyński

  - Rok 2007

  W rozdziale przedstawiono nową metodę wizualizacji umożliwiającą nawigatorom oszacowanie sytuacji zbliżenia dwóch statków i w razie konieczności - wybór manewru antykolizyjnego. Metoda ta jest oparta na metodzie CTPA i oferuje następujące, nowe w stosunku do CTPA elementy: rozmyte sektory zabronionych prędkości i kursów oraz możliwość zastosowania dowolnej domeny statku. Metoda jest wystarczająco szybka do zastosowania w dowolnym...

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Growth and properties of Ti-Cu films with respect to plasma parameters in dual-magnetron sputtering discharges

  Publikacja

  • V. Stranak
  • H. Wulff
  • R. Bogdanowicz
  • S. Drache
  • Z. Hubicka
  • M. Cada
  • M. Tichy
  • R. Hippler

  - EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL D - Rok 2011

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Eco-Engineering

  Czasopisma

  ISSN: 1347-0485 , eISSN: 1880-4500

• Journal of ECT (The)

  Czasopisma

  ISSN: 1095-0680 , eISSN: 1533-4112

• Analiza akustyczna jako parametr klasyfikacji formalnej homonimii międzyjęzykowej [The acoustic analysis as a parameter for classifying interlingual homonymy]

  Publikacja

  • K. Wojan

  - Rok 2002

• Structure and optical parameters of Eu doped tellurium oxide thin films prepared by reactive magnetron sputtering method

  Publikacja

  • M. S. Łapiński
  • M. Walas
  • A. Gapska
  • D. Kulik
  • A. Szmytke
  • P. Twardowski
  • W. Sadowski
  • B. Kościelska

  - THIN SOLID FILMS - Rok 2019

  In this work the structural properties and photoluminescence of tellurium dioxide thin films doped by europium were described. Thin films were deposited by magnetron sputtering method and simultaneously heated at 200 °C. Presence of Eu ions and their valence states was confirmed by X-ray photoemission spectroscopy measurements. The structure of the films as well as the influence of europium dopant on crystalline structure of the...

  Pełny tekst do pobrania w portalu