Wyszukiwarka
Abstrakt
This work presents the result of structure investigations ofV 2O5 nanorods grown from thin films and powders prepared by sol-gel method. To examine the best temperature of nanorods crystallization, thin films deposited by spin-coating method on quartz glass or silicon substrates and bulk xerogel powders were annealed at various temperatures ranging from 100∘C to 600∘C. The structure of the samples was characterized by X-ray diffraction method (XRD), scanning electron microscope (SEM), differential scanning calorimetry (DSC), thermogravimetric analysis (TGA), and mass spectroscopy (MS). The rod-like structure of V2O5 was obtained at 600∘C on both quartz glass and silicon substrates and also from the bulk xerogel. The growth process and the effect of annealing treatment on the nanostructure are briefly discussed.
Cytowania
-
2 8
CrossRef
-
0
Web of Science
-
3 4
Scopus
Autorzy (6)
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Journal of Nanomaterials
nr 2015,
strony 1 - 8,
ISSN: 1687-4110 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2015
- Opis bibliograficzny:
- Prześniak-Welenc M., Łapiński M. S., Lewandowski T., Kościelska B., Wicikowski L., Sadowski W.: The influence of thermal conditions on V2O5 nanostructures prepared by sol-gel method// Journal of Nanomaterials. -Vol. 2015, (2015), s.1-8
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1155/2015/418024
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Powiązane datasety
- dane badawcze The AFM micrographs of vanadium oxides thin films obtained at 800°C
- dane badawcze Cycling performances of the V2O5 nanorods as cathode material in Li-ion batteries
- dane badawcze Rate performance of the V2O5 nanocrystals as cathode material in Li-ion batteries
- dane badawcze The AFM micrographs of vanadium oxides thin films obtained at 1200°C
- dane badawcze SEM micrographs of morphology evolution of V2O5 thin films on quartz glass
- dane badawcze XRD patterns of V2O5 thin films deposited on silicon substrate
- dane badawcze The AFM micrographs of vanadium oxides thin films obtained at 400°C
- dane badawcze XRD patterns of the V2O5 nanorods after thermal treatment under reducing atmosphere
- dane badawcze XRD patterns of V2O5 thin films deposited on quartz glass
- dane badawcze The AFM micrographs of vanadium oxides thin films obtained at 600°C
wyświetlono 295 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Electrical conductivity and relaxation processes in V2O5 nanorods prepared by sol–gel method
- M. Prześniak-Welenc,
- N. A. Wójcik,
- A. Winiarski
- + 5 autorów