Search
dr inż. Michał Kowalewski
Employment
- Assistant professor at Department of Metrology and Optoelectronics
Research fields
Publications
Filters
total: 28
Catalog Publications
Year 2018
-
A random signal generation method for microcontrollers with DACs
PublicationA new method of noise generation based on software implementation of a 7-bit LFSR based on a common polynomial PRBS7 using microcontrollers equipped with internal ADCs and DACs and a microcontroller noise generator structure are proposed in the paper. Two software applications implementing the method: written in ANSI C and based on the LUT technique and written in AVR Assembler are also proposed. In the method the ADC results are...
Year 2017
-
A compact smart sensor based on a neural classifier for objects modeled by Beaunier's model
PublicationA new solution of a smart microcontroller sensor based on a simple direct sensor-microcontroller interface for technical objects modeled by two-terminal networks and by the Beaunier’s model of anticorrosion coating is proposed. The tested object is stimulated by a square pulse and its time voltage response is sampled four times by the internal ADC of microcontroller. A neural classifier based on measurement data classifies the...
-
Measurement system based on USB Z-Wave controller
PublicationA wireless measurement system based on the Z-Wave standard is presented in this paper. The system is composed of a U SB Z-Stick Gen5 controller connected to a Personal Computer and a Fibaro controller FGRGBWM-441. Operation of the system is controlled by software written in C++ using OpenZWave library. Some metrological aspects of the system are evaluated: accuracy, linearity, resolution and frequency of voltage measurements.
Year 2016
-
A concept of measurement system based on the Z-Wave standard
PublicationIn the paper a new concept of measurement system based on the Z-Wave standard is presented. This standard is dedicated to use mainly in home automation systems, but its properties enable to use it in dispersed measurement systems and support wireless communication between measurement nodes in a mesh-type network. In the paper basic metrological aspects of the Z-Wave standard and an example of impedance measurement system are discussed.
Year 2015
-
A method of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps with theTCBF classifier
PublicationA new approach of self-testing of analog circuits based on fully differential op-amps of mixed-signal systems controlled by microcontrollers is presented. It consists of a measurement procedure and a fault diagnosis procedure. We measure voltage samples of a time response of a tested circuit on a stimulation of a unit step function given at the common-mode reference voltage input of the op-amp. The fault detection and fault localization...
Year 2014
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikato-rach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi
PublicationPrzedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzysta-niem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera....
-
Zastosowanie sygnałów o projektowanych kształtach do diagnostyki obiektów wysoko-impedancyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej
PublicationW artykule przedstawiono metodę szybkiej spektroskopii impedancyjnej obiektów o wysokich impedancjach (|Zx| > 1 GOhm) z zastosowaniem sygnałów o projektowanych kształtach. Sygnał pobudzenia wytwarzany jest w module DAQ U2531A i doprowadzany na wejście badanego obiektu za pośrednictwem przetwornika cyfrowo-analogowego (CA). Sygnały odpowiedzi proporcjonalne do napięcia na mierzonej impedancji Zx oraz prądu płynącego przez Zx są...
Year 2013
-
Fast High-Impedance Spectroscopy Method Using SINC Signal Excitation
PublicationIn this paper the method of fast impedance spectroscopy of technical objects with high impedance (|Zx| > 1 Gohm) is evaluated by means of simulation and practical experiment. The method is based on excitation of an object with a sinc signal and sampling response signals proportional to current flowing through and voltage across the measured impedance. The object impedance spectrum is obtained with use of continuous Fourier transform...
-
Selection of excitation signals for high-impedance spectroscopy
PublicationA method of fast impedance spectroscopy of technical objects with high impedance (|Zx| > 1 GOhm) is evaluated in this paper. An object is excited with a signal generated by a digital-to-analog converter (DAC) located on the U2531A DAQ module. Response signals proportional to current flowing through and voltage across the measured object are sampled by analog-to-digital converters (ADC) in the DAQ module. The object impedance spectrum...
Year 2012
-
Evaluation of the fast impedance spectroscopy method in the laboratory measurement system
PublicationIn this paper the method for fast impedancespectroscopy of technical objects with very high impedance(|Zx| ≥ 1 GΩ) is evaluated by means of simulation and practicalexperiment. The method is based on excitation of an object, witha square pulse and measurements of voltage and currentresponses with DAQ card. The object impedance spectrum isobtained with use of continuous Fourier transform. Someimprovements of the method concerned...
-
Remote Monitoring System for Impedance Spectroscopy using Wireless Sensor Network
PublicationThe architecture of a miniaturized impedanceanalyser with wireless communication module for remoteImpedance Spectroscopy (IS) of anticorrosion coatings ondifficult-to-reach objects (e.g. on the steel construction ofthe bridge) is described in this paper. Some practical aspectsof implementation of a Wireless Sensor Network (WSN) arealso discussed. A low scale, middle range, WSN networkcomposed of a Base Station (BS) with a Personal...
-
Usage of Two-Center Basis Function Neural Classifiers in Compact Smart Resistive Sensors
PublicationA new solution of the smart resistance sensorwith the Two-Center Basis Function (TCBF) neuralclassifier, for which the resistance sensor is a component ofan anti-aliasing filter of an ADC is proposed. Thetemperature measurement procedure is based on excitationof the filter by square impulses, sampling time response ofthe filter and processing measured voltage values by theTCBF classifier. All steps of the measurement procedure...
Year 2011
-
Specjalizowane sieci neuronowe z Dwucentrowymi Funkcjami Bazowymi do zastosowań w testerach wbudowanych μBIST
PublicationPrzedmiotem artykułu są nowe, przydatne do zastosowań w testerach wbudowanych BIST, specjalizowane sieci neuronowe do lokalizacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, o podwyższonej odporności na maskujący wpływ rozrzutów tolerancyjnych elementów nieuszkodzonych. Sieci opracowane zostały w dwóch wariantach: z Dwucentrowymi Radialnymi (DRB) oraz Elipsoidalnymi (DEB) funkcjami Bazowymi. Dzięki wydłużonym...
-
Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania...
Year 2010
-
New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits
PublicationIn the paper a new fault diagnosis-oriented neural network and a diagnostic method for localization of parametric faults in Analog Electronic Circuits (AECs) with tolerances is presented. The method belongs to the class of dictionary Simulation Before Test (SBT) methods. It utilizes dictionary fault signatures as a family of identification curves dispersed around nominal positions by component tolerances of the Circuit Under Test...
-
Odporne na wpływ tolerancji, słownikowe metody diagnostyki uszkodzeń układów elektronicznych ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym
PublicationW pracy przedstawiono nową klasę słownikowych metod diagnostyki uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu. Wykorzystano koncepcję polegającą na konstrukcji sygnatur słownika uszkodzeń w postaci krzywych identyfikacyjnych i zastosowaniu klasyfikatorów neuronowych dobrze dopasowanych do tych sygnatur. W pierwszej...
Year 2009
-
An application of the TCRBF neural network in multi-node fault diagnosis method
PublicationPrzedstawiono nową metodę samo-testowania części analogowej w systemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Układ badany pobudzany jest przebiegiem sinusoidalnym przez generator zamontowany w systemie, a jego odpowiedź jest próbkowana w wybranych węzłach przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Detekcja i lokalizacja uszkodzenia jest dokontwana przez sieć neuronową typu TCRBF. Procedurę diagnostyczną zaimplementowano...
-
Built-in Test Scheme for detection, classification and evaluation of nonlinearities
PublicationW artykule przedstawiono koncepcję testera wbudowanego (BIST) przeznaczonego do detekcji nieliniowości, klasyfikacji rodzaju nieliniowości i oceny zniekształceń nieliniowych sygnału testowanego, bez użycia drogiego systemu automatycznego testowania. Tester bazuje na modulatorze sigma-delta umieszczonym na pakiecie testowanym i sztucznej sieci neuronowej zaimplementowanej w komputerze osobistym. Koncepcję testera zweryfikowano poprzerz...
Year 2008
-
Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i metoda diagnostyki obiektów technicznych
PublicationW artykule przedstawiono nową, metrologicznie ukierunkowaną sieć neuronową oraz bazującą na niej metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, z klasyfikcją neuronową, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zaproponowano sieć neuronową z Dwu-centrowymi Radialnymi Funkcjami Bazowymi (DRFB), której walorem jest lepsze odwzorowanie słownika uszkodzeń, poprawa dokładności...
Year 2007
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej
PublicationNa tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...
-
Two-center radial basis function network for classification of soft faults in electronic analog circuits
PublicationW pracy zaproponowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi (TCRB) neuronów w warstwie ukrytej,przeznaczoną do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych. Zastosowanie funkcji TCRB pozwala na znaczne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej, lepsze dopasowanie do słownika uszkodzeń oraz poprawę dokładności klasyfikacji, w porównaniu z dotychczas stosowaną siecią z jednocentrowymi...
Year 2006
-
On-Board Detection, Classification and Evaluation of Nonlinearities
PublicationArtykuł prezentuje tester wbudowany BIT przeznaczony do wydobywania informacji diagnostycznej z sygnału generowanego przy zastosowaniu oscylacyjnej metody testowania. Układ bazujący na technice modulacji Sigma-Delta i sztucznych sieciach neuronowych może wykrywać nieliniowość w sygnale testującym, określać rodzaj nieliniowości i szacować zawartość harmonicznych.
-
Sieć neuronowa z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi do klasyfikacji uszkodzeń parametrycznych
PublicationW niniejszej pracy zaproponowano nową architekturę sieci neuronowej wykorzystującej dwucentrowe radialne funkcje bazowe w warstwie ukrytej (funkcje DRB). Kształt funkcji DRB opracowany został pod kątem klasyfikacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych układów elektronicznych analogowych. Zastosowanie funkcji DRB pozwala na kilkukrotne zmniejszenie liczby neuronów w warstwie ukrytej w porównaniu do sieci neuronowej z radialnymi...
Year 2005
-
A neural network based system for soft fault diagnosis in electronic circuits
PublicationW artykule przedstawiono system do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych. W systemie zaimplementowano słownikową metodę lokalizacji uszkodzeń, bazującą na pomiarach w dziedzinie częstotliwości przeprowadzanych za pomocą analizatora transmitancji HP4192A. Rozważono główne etapy projektowania systemu: definiowanie modelu uszkodzeń, wybór optymalnych częstotliwosci pomiarowych, ekstrakcję cech diagnostycznych,...
-
Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej....
-
System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...
Year 2004
-
Zastosowanie komputerów w Laboratorium Metrologii i Techniki Eksperymentu.
PublicationW artykule przedstawiono metodykę nauczania oraz aspekty techniczne nowej edycji ćwiczeń w Laboratorium Metrologii i Techniki Eksperymentu. Metodyka ta oparta jest na komputerowym monitorowaniu pracy studenta i sprawdzaniu jego wiedzy. Połączenie programowanych przyrządów laboratoryjnych w system pomiarowy sterowany za pośrednictwem komputera znacznie usprawniło wykonywanie poszczególnych ćwiczeń. Komputer kieruje działaniami studenta,...
Year 2003
-
Komputerowe monitorowanie procesu dydaktycznego w laboratorium podstaw miernictwa.
PublicationPrzedmiotem artykułu jest nowa metoda wspomagania kształcenia, oparta na komputerowym monitorowaniu pracy studenta, sprawdzaniu jego wiedzy i aktywności w trakcie zajęć laboratoryjnych. Komputer wspomaga nauczyciela w procesie dydaktycznym, kierując działaniami studenta, przydzielając konkretne zadania i kontrolując sposób ich wykonania. Koncepcja komputerowego wspomagania procesu dydaktycznego została pomyślnie wdrożona...
seen 1695 times