Filters
total: 83
filtered: 76
Search results for: WĘGLIKI
-
Problemy pomiarów szumów diod z węglika krzemu
PublicationPrzedstawiono system do pomiaru szumów m.cz. diod Schottky'ego wykonanych z węglika krzemu (SiC) spolaryzowanych w kierunku przewodzenia i zaporowym, z uwzględnieniem specyfiki pomiaru szumów wybuchowych (RTS). Badane diody charakteryzują się wysokim prądem przewodzenia (do 12A) i wysokim napięciem zaporowym (typowo 600V i 1200V). Omówiono zagadnienia związane ze sposobami polaryzacji badanych diod i ich wpływ na wyniki pomiarów....
-
Silicon carbide application issues
PublicationThe main goals of Task 3 and Task 4 of the ordered project ''New technologies based on silicon carbide and their application in HF, high power and high temperature electronics'' are presented
-
Pomiary szumów m.cz. tranzystorów MESFET z węglika krzemu
PublicationTranzystory MESFET z węglika krzemu typu CRF24010 (CRREE) są przyrządami mocy przeznaczonymi do pracy w zakresie wysokich częstotliwości. Ze względu na możliwość oceny technologii tych przyrządów, a także ich jakości celowe jest określenie ich właściwości szumowych w zakresie małych częstotliwości. Przedstawiono wyniki badań wykonanych w celu oceny właściowści szumowych tranzystorów MESFET z SiC oraz zaproponowano schemat szumowy...
-
Charakterystyka tranzystorów z węglika krzemu w wysokosprawnych przekształtnikach
PublicationPółprzewodnikowe przyrządy mocy z węglika krzemu (SiC) osiągnęły poziom technologiczny umożliwiający powszechne stosowanie w układach przekształtnikowych. W artykule omówiono ostatnie osiągnięcia dotyczące układów przekształtnikowych z przyrządami z węglika krzemu oraz wybrane wyniki badań realizowane na Politechnice Gdańskiej. W artykule opisano właściwości statyczne i dynamiczne tranzystorów MOSFET i JFET z węglika krzemu oraz...
-
Badanie właściwości elementów mocy z węglika krzemu w zastosowaniach układowych
PublicationW artykule prezentowane są wyniki badania właściwości elementów SiC w zastosowaniach układowych. Do celów pomiarowych zaprojektowano układ przetwornicy realizujący konfigurację buck oraz boost z elementami aktywnymi z SiC oraz z krzemu, jako elementami referencyjnymi. Układ przetwornicy był badany dla różnych zestawów elementów, konfiguracji i parametrów pracy.
-
Projektowanie i badania wysokosprawnej ładowarki dwukierunkowej z tranzystorami z węglika krzemu (SiC)
Publication -
Pomiary szumów m.cz. diod Schottky'ego z węglika krzemu spolaryzowanych w kierunku przewodzenia
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów małej częstotliwości diod Schottky'ego wykonanych z węglika krzemu polaryzowanych w kierunku przewodzenia. Badania przeprowadzono dla diod o nominalnym prądzie przewodzenia IF od 2 A do 12 A.
-
Układy sterowania bramkowego tranzystorów z węglika krzemu SiC JFET w falownikach napięcia
PublicationZastosowanie technologii węglika krzemu (SiC) w falownikach napięcia pozwala na zwiększenie częstotliwości przełączeń oraz temperatury pracy przyrządów półprzewodnikowych. W celu zapewnienia minimalizacji strat oraz określonych właściwości dynamicznych tranzystorów z węglika krzemu wymagane jest stosowanie zaawansowanych układów sterowania bramkowego. W referacie przedstawiono analizę teoretyczną, wyniki badań symulacyjnych oraz...
-
Ocena jakości elementów z węglika krzemu metodą pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości
PublicationPrzedstawiono zagadnienie powiązania parametrów szumowych elementów elektronicznych z jakością ich wykonania. Przedstawiono stan badań intensywności metod oceny jakości elementów elektronicznych przez pomiar ich parametrów szumowych oraz propozycję ich zastosowania do oceny jakości elementów z węglika krzemu.
-
Udział nośny powierzchni elementów ceramicznych i węglików spiekanych po docieraniu.
PublicationPrzedstawiono wyniki badań docierania jednotarczowego powierzchni elementów z ceramiki technicznej i węglików spiekanych. Analizowano jakość obróbki i udział nośny powierzchni po docieraniu. Docieranie powierzchni płaskich jest technologią pozwalającą uzyskać duży udział nośny.
-
Energochłonność docierania jednotarczowego elementów płaskich z węglików spiekanych oraz ceramiki technicznej.
PublicationPrzedstawiono wyniki badan docierania jednotarczowego powierzchni płaskich. Badano wpływ prędkości i czasu docierania na energochłonność obróbki. W badaniach stosowano mikroziarna węglika boru i docieraki żeliwne.
-
Energochłonność docierania jednotarczowego elementów płaskich z węglików spiekanych oraz ceramiki technicznej
PublicationW artykule przedstawiono wyniki badań docierania jednotarczowego powierzchni płaskich. Badano wpływ prędkości i czasu docierania na energochłonność obróbki. W badaniach stosowano mikroziarna węglika boru i docieraki żeliwne.
-
Wpływ laserowego stopowania węglikiem TiC stali OH18N9 na jej odporność kawitacyjną
PublicationPrzedstawiono badania odporności kawitacyjnej stali OH18N9 po laserowym stopowaniu jej warstwy wierzchniej węglikiem TiC w ilościach 1,55% i 3,97% masowego. Wzrost zawartości TiC powodował zwiększenie odporności warstwy stopowanej na odkształcenia plastyczne przy jednoczesnym wzroście kruchości stali.
-
Badania jakości docierania elementów z ceramiki technicznej i węglików spiekanych na docierarce jednotarczowej.
PublicationPrzedstawiono wyniki badań docierania elementów płaskich na docierarce jednotarczowej zawiesiną z węglika krzemu. Docierano elementy z tlenkowej ceramiki technicznej Al2O3 i Al2O3-ZrO2 oraz węgliki spiekane SM25, H15X i H20S. Badano wydajność obróbki oraz chropowatość powierzchni po docieraniu. Czynnikami zmiennymi badań była prędkość docierania, nacisk jednostkowy i czas docierania.
-
Cavitation erosion of X5CrNi18-10 austenitic stainless steel alloyed with TiC
PublicationPraca prezentuje zmianę odporności kawitacyjnej stali X5CrNi18-10 po laserowym stopowaniu jej warstwy wierzchniej węglikiem TiC. Laserowe stopowanie przeprowadzono dla 2 wariantów. W pierwszym przypadku stal stopowano do zawartości 1,55 TiC a w drugim do zawartości 3,97% TiC. Uzyskane rezultaty wskazują że przy zawartości 3,97 TiC nastopiło znaczące zwiększenie odporności na plastyczne odkszyałcenie warstwy wierzchniej pod wpływem...
-
Pomiary i analiza wielkości mikroziaren ściernych.
PublicationOmówiono skomputeryzowana analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych. W badaniach mikroziaren węglika boru, czarnego i zielonego weglika krzemu oraz elektrokorundu zwykłego i szlachetnego stosowano mikroskopię optyczną oraz oprogramowanie MultiScan.
-
Badania porównawcze docierania powierzchni płaskich elementów miedzianych, ceramicznych i z węglików spiekanych = Comparative research of lapping of flat surfaces of parts made from copper, ceramics and sintered carbides
PublicationPrzedstawiono badania porównawcze jakości i intensywności docierania elementów miedzianych, ceramicznych i z węglików spiekanych. Analizowano skażenie powierzchni miedzi ścierniwem oraz porównano mechanizmy usuwania materiału w przypadku obróbki metali i ceramiki.
-
Influence of microstructure on properties of 18Cr-10Ni-Ti stainless steel products.
PublicationBadano wpływ mikrostruktury na właściwości mechaniczne i odporność korozyjną wyrobów ze stali austenitycznej 18Cr-10Ni-Ti po przesycaniu z temperatury 1050 C. Wykazano, że węgliki TiC w ziarnach i na granicach ziaren/bliźniaków powodują znaczne obniżenie wydłużenia stali. Węgliki TiC na granicach ziaren/bliźniaków obniżają odporność na korozję międzykrystaliczną i sprzyjają powstawaniu uszkodzeń korozyjnych podczas hutniczej operacji...
-
Budowa i badania prototypowych podukładów funkcjonanych elektronicznych i energoelektronicznych, w tym wysokotemperaturowych, wykorzystujących opracowane elementy i przyrządy - zadanie 3. projektu ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i wysokich temperatur''
PublicationPrzedstawiono główne cele zadania 3. projektu zamawianego nt. ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości dużych mocy i wysokich temperatur''. Są to: badania typowych układów elektronicznych i energoelektronicznych z zastosowaniem kompercyjnych elementów i przyrządów z SiC w celu opracowania rozwiązań, które będą mogły być stosowane w praktyce i będą korzystniejsze niż zastosowane...
-
Przeprowadzenie prób obejmujących miernictwo i charakteryzację opracowanych elementów, przyrządów i prototypowych podukładów funkcjonalnych zgodnie z obowiązującymi normami - zadanie 4. projektu ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i wysokich temperatur''
PublicationPrzedstawionmo główne cele zadania 4. projektu zamawianego nt. ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości dużych mocy i wysokich temperatur. Są to: analiza właściwości produkowanych obecnie komercyjnych elementów i przyrządów półprzewodnikowych z SiC oraz przygotowanie stanowisk laboratoryjnych do pomiarów parametrów i chrakterystyk tych przyrządów.Przewidywane jest opracowanie...
-
Analysis of size and shape of abrasive micrograins in lapping of assembly joints
PublicationPrzedstawiono skomputeryzowana analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych. W badaniach mikroziaren węglika boru, węglika krzemu i elektrokorundu zastosowano mikroskopie optyczna oraz specjalistyczne oprogramowanie MultiScan v.6.08
-
Protective properties of the chromium - titanium carbonitryde composite coatings.
PublicationZbadano właściwości ochronne warstw chromowych zawierających dodatki węglika tytanu poprawiającego właściwości mechaniczne warstw. badania ditycżą roztworów kwasu siarkowego. Badania przeprpwadzono metodą spektroskopii impedamncyjnej. Wykazano ze właściwosci ochronne warswt są lepsze dzięki sdyspergowanym cząstkowm węglika tytanu.
-
Komputerowa analiza wielkości mikroziaren ściernych.
PublicationPrzedstawiono wyniki badań wielkości mikroziaren ściernych węglika krzemu, elektrokorundu i węglika boru. W badaniach wykorzystano analizator laserowy firmy Fritsch Gmbh. Wyznaczono rozkład prawdopodobieństwa wielkości mikroziaren oraz liczności skumulowanej szeregów rozdzielczych. Scharakteryzowano zasady pomiaru oraz porównano znane metody badania wielkości ziaren.
-
Study of abrasive slurry dosage in flat surfaces lapping process
PublicationPrzedstawiono wyniki badań dozowania pasty i zawiesiny ściernej w procesach docierania powierzchni płaskich. Badano wpływ wielkości dawki ścierniwa na podstawowe parametry chropowatości powierzchni elementów miedzianych i ceramicznych. Docierano miedź betlenową MOOB oraz ceramikę Al2O3 i Al2O3-ZrO2 mikroziarnami węglika krzemu i węglika boru.
-
Badania temperatury elementów układu wykonawczego docierarki jednotarczowej
PublicationPrzedstawiono wyniki badań własnych wpływu parametrów obróbki na wzrost temperatury docieraka żeliwnego. Badano docieranie powierzchni płaskich na docierarce jednotarczowej. Określono wpływ nacisku jednostkowego i wielkości mikroziaren węglika krzemu i węglika boru na przyrost temperatury maksymalnej po 180 i 300 min. obróbki. Przeprowadzono analizę statystyczną wyników badań i określono współczynniki istotności F.
-
Badania temperatury elementów układu wykonawczego docierarki jednotarczowej
PublicationPrzedstawiono wyniki badań własnych wpływu parametrów obróbki na wzrost temperatury docieraka żeliwnego. Badano docieranie powierzchni płaskich na docierarce jednotarczowej. Określono wpływ nacisku jednostkowego i wielkości mikroziaren węglika krzemu i węglika boru na przyrost temperatury maksymalnej po 180 i 300 min. obróbki. Przeprowadzono analizę statystyczną wynikow badań i określono współczynniki istotności F.
-
Pomiary i analiza wielkości mikroziaren ściernych w operacjach docierania
PublicationPrzedstawiono wyniki badań wielkości i kształtu mikroziaren ściernych węglika boru, elektrokorundu i węglika krzemu. Analizowano rozkłady długości i szerokości oraz pola powierzchni obrazów mikroziaren w rzucie na płaszczyznę równoległą do płaszczyzny obserwacji. W pomiarach wykorzystano skomputeryzowane stanowisko do badań mikroskopowych oraz oprogramowanie MultiScan. Wyniki eksperymentów mogą być wykorzystane w procesie przygotowania...
-
Analiza wielkości mikroziaren ściernych
PublicationPrzedstawiono skomputeryzowana analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych. W badaniach mikroziaren czarnego węglika krzemu oraz elektrokorundu zwykłego i szlachetnego stosowano stereoskopową mikroskopię optyczną oraz oprogramowanie Scopelmage DynamicPro i Scopelmage Advanced
-
Surface contamination after lapping by abrasive material
PublicationPrzedstawiono wyniki badań skażenia powierzchni żeliwa sferoidalnego mikroziarnami węglika krzemu po docieraniu. Określowo wpływ współczynnika upakowania mikroziaren w strefie docierania na intensywność skażenia powierzchni ścierniwem. W badaniach wykorzystano powierzchniową mikroanalizę rentgenowską.
-
Analiza czasochłonności docierania technologicznego powierzchni płaskich w operacjach montażowych.
PublicationPrzedstawiono wyniki analiz docierania i mikroszlifowania elementów płaskich na docierarce jednotarczowej mikroziarnami węglika krzemu. Obrabiano elementy ze stali 100Cr oraz z tlenkowej ceramiki technicznej Al2O3. Analizowano czas obróbki i koszty operacji.
-
Surface roughness of ceramic parts after lapping by abrasive-metallic tools
PublicationPrzedstawiono konstrukcję narzędzi ścierno-metalowych do obróbki na docierarce jednotarczowej. Wykonano badania docierania elementów z ceramiki tlenowej. Analizowano podstawowe parametry chropowatości powierzchni elementów z Al2O3 po obróbce narzędziami na bazie węglika boru.
-
Wpływ zawiesiny ściernej dawkowanej w sposób wymuszony na wydajność docierania jednotarczowego elementów ceramicznych
PublicationPrzedstawiono zagadnienia związane z przygotowywaniem zawiesiny ściernej w docieraniu maszynowym powierzchni płaskich. W badaniach zastosowano wymuszony sposób dozowania zawiesiny na docierak żeliwny. Badano docieranie elementów z ceramiki tlenkowej zawiesiną na bazie mikroziaren węglika krzemu.
-
Charging of the cast iron lapping tools.
PublicationPrzedstawiono technikę i technologię zbrojenia wymuszonego powierzchni docieraków tarczowych. Omówiono konstrukcję przyrządu oraz wyniki badań intensywności zbrojenia docieraków mikroziarnami węglika krzemu. Analizowano docieraki z żeliwa szarego i sferoidalnego oraz mikroziaren o numerze 320 i 300.
-
Postępy w technologii docierania powierzchni płaskich = Development of flat surfaces lapping technology
PublicationPrzedstawiono stan badań docierania powierzchni płaskich, ze szczególnym uwzględnieniem obróbki narzędziami spojonymi. Omówiono wyniki badań elementów ceramicznych docieranych narzędziami ścierno-metalowymi na bazie węglika boru. Analizowano ubytek liniowy elementów oraz parametry chropowatości powierzchni po docieraniu.
-
Tarcze docierające z żeliwa sferoidalnego. Właściwości i badania
PublicationW pracy zamieszczono modelowe ujęcie penetracji mikroziaren ściernych węglika krzemu w wydzielaniu grafitu w żeliwie sferoidalnym. Skuteczność zbrojenia docieraków ścierniwem wymaga określenia korzystnych parametrów struktury żeliwa w aspekcie rozmiarów stosowanych mikroziaren ściernych w procesie docierania.
-
Cavitation resistance of OH18N9 steel alloyed with vaidus amount of TiC or Mn by means of laser beam. XIV International Symposium on Gas Flow, Chemical Lasers and High Power Lasers.
PublicationPrzedstawiono badania odporności kawitacyjnej stali OH18N9T po laserowym stopowaniu jej powierzchni węglikiem TiC oraz manganem. Wykazano, że wzbogacenie obrabianej stali manganem powoduje przemiany fazowe pod wpływem działania obciążeń kawitacyjnych, co przyczynia się do wzrostu odporności kawitacyjnej. Wzmacnianie stali węglikiem TiC powoduje natomiast zanik zdolności stali do wzmacniania odkształceniowego.
-
Systemy pomiarowe wielkości mikroziaren ściernych.
PublicationPrzedstawiono skomputeryzowaną analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych elektrokurundu zwykłego i węglika boru przy użyciu specjalnego oprogramowania MultiScan v 6.08 oraz zautomatyzowane pomiary z wykorzystaniem analizatora laserowego Analysette 22. Analizowano długość, szerokość i pole powierzchni obrazu mikroskopowego mikroziaren.
-
Kształtowanie jakości powierzchni w procesach docierania niekonwencjonalnego.
PublicationPrzedstawiono wyniki badań jakości docierania powierzchni płaskich niekonwencjonalnymi narzędziami ścierno-metalowymi na docierarce jednotarczowej o standardowym układzie kinematycznym. Analizowano obróbkę żeliwa oraz ceramiki tlenkowej. Tabletki ścierne wykonano z mikroziaren węglika boru. Badania przeprowadzono w ramach projektu KBN T07D 041 10.
-
Komputerowa analiza wielkości mikroziaren ściernych
PublicationPrzedstawiono skomputeryzowaną analizę wielkości i kształtu mikroziaren ściernych przy użyciu specjalnego oprogramowania MultiScan v.6.08 oraz zautomatyzowane pomiary z wykorzystaniem analizatora laserowego Analysette 22 Micro Tec mikroziaren czarnego węglika krzemu o numerze F32/29. Dokonano przeglądu konstrukcji najnowszych analizatorów czołowych producentów światowych.
-
Badania wpływu twardości materiału obrabianego na temperaturę docieraka podczas docierania powierzchni płaskich
PublicationPrzedstawiono wyniki badań wpływu twardości materiału obrabianego na wzrost temperatury docieraka. Obrabiano elementy ze stali C45 na docierarce jednotarczowej. Porównano obróbkę elementów walcowych o średnicy 17 mm i twardości 160 i 650 HV mikroziarnami węglika krzemu F400/17. W badaniach wykorzystano kamerę termowizyjną.
-
Determining the conditions for temperature measurements during flat lapping
PublicationPrzedstawiono pomiary temperatury układu wykonawczego docierarki jednotarczowej ABRALAP 380. Badano wpływ liczby stosowanych pierścieni prowadzących przy docieraniu elementów ceramicznych mikroziarnami węglika krzemu. Analizowano przyrost temperatury układu w czasie do trzech godzin. W badaniach zastosowano kamerę termowizyjną V-20II firmy VIGO System S.A.
-
Metody badania właściwości szumowych elementów mocy z SiC
PublicationW artykule przedstawiono metody i układy pomiarowe do pomiarów szumów z zakresu małych częstotliwości diod mocy wykonanych z węglika krzemu. Pomiary prowadzone były przy polaryzacji badanych elementów w kierunku przewodzenia i zaporowym. Opracowano układ automatycznej kompensacji składowej stałoprądowej, który umożliwia obserwację i rejestrację szumów wybuchowych.
-
Energochłonność docierania powierzchni płaskich elementów ceramicznych.
PublicationPrzedstawiono wyniki badań docierania jednotarczowego powierzchni płaskich elementów ceramicznych. Badano wpływ nacisku jednostkowego, prędkości i czasu docierania na wydajność procesu, moc i energochłonność. W badaniach stosowano mikroziarna węglika boru i docieraki żeliwne aktywizowane w sposób swobodny. Minimalizacja energochłonności docierania jest możliwa przez zmniejszenie czasu obróbki, przy zachowaniu maksymalnego...
-
Analiza modelu matematycznego opisującego wzrost temperatury podczas docierania jednostronnego powierzchni płaskich
PublicationPrzedstawiono weryfikację modelu matematycznego opisującego temperaturę elementów układu wykonawczego docierarki jednotarczowej od podstawowych warunków procesu docierania. Analizowano obróbkę na docierarce Abralap 380, określając wpływ nacisku jednostkowego, prędkości i czasu docierania elementów stalowych mikroziarnami węglika krzemu o numerze F600/9. W badaniach wykorzystano kamerę termograficzną z serii V-20 II firmy Vigo System...
-
Korekcja wymiarowa nagniataniem na tokarkach CNC
PublicationW rozdziale monografii poruszono problematykę nagniatania ślizgowego z wykorzystaniem kulek ceramicznych z węgliku wolframu WC. Kulki ceramiczne WC jako element nagniatający zastosowano podczas obróbki na tokarce CNC. Uzyskanie zadawalającej jakościowo powierzchni na stali 40H wymagało spełnienia szczegółowych warunków technologicznych. W rozdziale omówiono problemy technologiczne związane z ustawieniem narzędzia do nagniatania...
-
Diamond surface modification following thermal etching of Si supported hydrogenated diamond films by DBr
PublicationZbadano, wykorzystując spektroskopię oscylacyjną (HREELS - High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy) modyfikacje chemiczne powierzchni wodorowanego diamentu, umieszczonego na podkładzie krzemowym i wystawionego na działanie DBr a następnie podgrzanego do temp. powyżej 600 st.K. Przedstawiona procedura powoduje tworzenie się węglika krzemu SiC na powierzchni warstwy diamentowej, co jest widoczne na widmie HREEL jako dwa...
-
Przekształtniki tranzystorowe działające w trybie prądu trójkątnego
PublicationPrzekształtniki oparte na węgliku krzemu mogą być analizowane jako źródła napięcia lub prądu niezależnie od topologii przy odpowiednich parametrach filtru wyjściowego. Szczególnie interesujące są falowniki napięcia działające w trybie prądu trójkątnego. W referacie przedstawiono sterowanie trójfazowym falownikiem napięcia posiadającym właściwości źródła prądu. Pokazano, jak dobrać parametry filtru wyjściowego falownika. Oceniono...
-
Analiza rozdrabniania mikroziaren ściernych w docieraniu powierzchni płaskich.
PublicationPrzedstawiono analizę porównawczą mikroziaren przed i po docieraniu. Badania przeprowadzono na skomputeryzowanym stanowisku do automatycznej analizy obrazu mikroskopowego wyposażonego w oprogramowanie Multi Scan. Docierano elementy stalowe w stanie miękkim i po ulepszeniu cieplnym o przekroju kołowym i trójkątnym. Stosowano mikroziarna elektrokorundu i węglika krzemu o różnej ziarnistości. Badano rozdrobnienie mikroziaren przy...
-
Badania kształtowania powierzchni materiałów ceramicznych przez docieranie
PublicationPrzedstawiono wyniki badań jednotarczowego docierania płaskich elementów ceramicznych i węglików spiekanych w warunkach swobodnego zbrojenia docieraka ścierniwem. Oceniono wpływ podstawowych warunków technologicznych i kinematycznych dla niestandardowego układu wykonawczego docierarki.
-
Al203 sealing elements lapping
PublicationPrzedstawiono wyniki badań własnych wydajnosci docierania ceramiki Al203. Badano elementy uszczelniające na docierarce jednotarczowej o standardowym układzie kinematycznym. Określono wpływ wielkości mikroziaren węglika boru o numerze F400/17, F800/6.5 i F1200/3 oraz wartości nominalnego nacisku jednostkowego na ubytek materiału w czasie 15 i 20 min. Scharakteryzowano mechanizm usuwania naddatku przy docieraniu elementów ceramicznych....