Wyszukiwarka
Opis
The DataSet contains the chemical compositions of the V2O5 nanorods on a silicon substrate. The thin films were obtained by the sol-gel method. The information about sol synthesis is described in the Journal of Nanomaterials. The As-prepared thin films were annealed at 600C under a synthetic air atmosphere.
The chemical compositions were determined by energy‐dispersive X-ray spectrometer (EDX GENESIS Apex Apollo X60 spectrometer) analysis, using a scanning electron microscope (SEM), FEI Company Quanta FEG250.
Plik z danymi badawczymi
EDX.zip
5.1 MB,
S3 ETag
313b3a7b169a5756b3ec0855cb53a28c-1,
pobrań: 21
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BYUznanie autorstwa - Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2021
- Data zatwierdzenia:
- 2021-06-22
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/ygx5-7753 otwiera się w nowej karcie
- Seria:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Powiązane zasoby
- dane badawcze XRD patterns of V2O5 thin films deposited on silicon substrate
- dane badawcze SEM micrographs of morphology evolution of V2O5 thin films on silicon substrate
- publikacja The influence of thermal conditions on V2O5 nanostructures prepared by sol-gel method
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 73 razy