Enhancing capabilities of Atomic Force Microscopy by tip motion harmonics analysis - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Enhancing capabilities of Atomic Force Microscopy by tip motion harmonics analysis

Abstrakt

Motion of a tip used in an atomic force microscope can be described by the Lennard-Jones potential, approximated by the van der Waals force in a long-range interaction. Here we present a general framework of approximation of the tip motion by adding three terms of Taylor series what results in non-zero harmonics in an output signal. We have worked out a measurement system which allows recording of an excitation tip signal and its non-linear response. The first studies of spectrum showed that presence of the second and the third harmonics in cantilever vibrations may be observed and used as a new method of the investigated samples characterization.

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 1

    Scopus

Cytuj jako

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences-Technical Sciences nr 61, wydanie 2, strony 535 - 539,
ISSN: 0239-7528
Język:
angielski
Rok wydania:
2013
Opis bibliograficzny:
Babicz-Kiewlicz S., Smulko J., Zieliński A.: Enhancing capabilities of Atomic Force Microscopy by tip motion harmonics analysis// Bulletin of the Polish Academy of Sciences-Technical Sciences. -Vol. 61, iss. 2 (2013), s.535-539
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.2478/bpasts-2013-0053
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 79 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi