Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces

Abstrakt

Przedstawiono ideę nowych metod diagnostycznych 3-D i 4-D opartych na przek-ształceniu biliniowym. Metody te bazują na transformacjach operujących odpo-wiednio w trzy i czterowymiarowych przestrzeniach funkcji układowych. Dlatych metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych uszko-dzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych oraz algorytm lo-kalizacji i identyfikacji pojedynczych uszkodzeń podwójnych. Przedstawionorezultaty badań eksperymantalnych metody 4D weryfikujących użyteczność no-wych metod oraz implementację tej metdoy w sztucznej sieci neuronowej.

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 2 4

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Opublikowano w:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT nr 52, strony 97 - 102,
ISSN: 0018-9456
Język:
angielski
Rok wydania:
2003
Opis bibliograficzny:
Czaja Z., Zielonko R.: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces// IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. -Vol. 52., nr. 1 (2003), s.97-102
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1109/tim.2003.809075
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 9 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi