Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono ideę nowych metod diagnostycznych 3-D i 4-D opartych na przek-ształceniu biliniowym. Metody te bazują na transformacjach operujących odpo-wiednio w trzy i czterowymiarowych przestrzeniach funkcji układowych. Dlatych metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych uszko-dzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych oraz algorytm lo-kalizacji i identyfikacji pojedynczych uszkodzeń podwójnych. Przedstawionorezultaty badań eksperymantalnych metody 4D weryfikujących użyteczność no-wych metod oraz implementację tej metdoy w sztucznej sieci neuronowej.
Cytowania
-
2 2
CrossRef
-
0
Web of Science
-
4 0
Scopus
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Opublikowano w:
-
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
nr 52,
strony 97 - 102,
ISSN: 0018-9456 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2003
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z., Zielonko R.: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces// IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. -Vol. 52., nr. 1 (2003), s.97-102
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1109/tim.2003.809075
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 132 razy