Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.

Abstrakt

Opisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Język:
polski
Rok wydania:
2004
Opis bibliograficzny:
Chobola Z., Hasse L., Sikula J., Spiralski L.: Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.// . -., (2004), s.0-0
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 34 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi