Wyszukiwarka
Abstrakt
Opisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2004
- Opis bibliograficzny:
- Chobola Z., Hasse L., Sikula J., Spiralski L.: Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.// . -., (2004), s.0-0
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 123 razy