Wyszukiwarka
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
Abstrakt
The paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions: functional testing and fault diagnosis on the level of localization of a faulty element. For functional testing the Complementary Signals (CSs), and for fault diagnosis the Simulation Before Test (SBT) vocabulary techniques have been used. In the fault vocabulary the graphical signatures in the form of identification curves in multidimensional spaces have been applied.
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Acta Imeko
strony 10 - 16,
ISSN: 2221-870X - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2014
- Opis bibliograficzny:
- Załęski D., Zielonko R.: Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems// Acta Imeko. -., nr. 4 (2014), s.10-16
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 107 razy