Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems

Abstrakt

The paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions: functional testing and fault diagnosis on the level of localization of a faulty element. For functional testing the Complementary Signals (CSs), and for fault diagnosis the Simulation Before Test (SBT) vocabulary techniques have been used. In the fault vocabulary the graphical signatures in the form of identification curves in multidimensional spaces have been applied.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Acta Imeko strony 10 - 16,
ISSN: 2221-870X
Język:
angielski
Rok wydania:
2014
Opis bibliograficzny:
Załęski D., Zielonko R.: Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems// Acta Imeko. -., nr. 4 (2014), s.10-16
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 20 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi