Zakłócenia w pomiarach ostrzowych struktur półprzewodnikowych - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Zakłócenia w pomiarach ostrzowych struktur półprzewodnikowych

Abstrakt

W artykule opisano podstawowe źródła zakłóceń występujących w pomiarach struktur elementów metodami ostrzowymi oraz podstawowe sposoby zmniejszania ich wpływu na wyniki pomiarów.

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki strony 12 - 13,
ISSN: 0138-0826
Język:
polski
Rok wydania:
2003
Opis bibliograficzny:
Szewczyk A., Spiralski L.: Zakłócenia w pomiarach ostrzowych struktur półprzewodnikowych// Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki. -., nr. 2 (2003), s.12-13
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 8 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi