Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono mechanizmy powstawania i sposoby pomiaru podatności układów cyfrowych na zakłócenia. Zaprezentowano metodę pomiaru dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych z zastosowaniem wzorcowego sygnału szumowego z możliwością ograniczania szerokości pasma stymulującego sygnału szumowego. Opisano opracowane modele symulacyjne i przykładowe wyniki badań potwierdzające efektywność zaproponowanej metody.
Autorzy (4)
-
Jerzy F. Kołodziejski
-
Jozef Piasecki
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
nr 43,
strony 13 - 16,
ISSN: 0033-2089 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2002
- Opis bibliograficzny:
- Hasse L., Kołodziejski J., Piasecki J., Spiralski L.: Zakłócenia w układach cyfrowych. Mechanizmy i metody pomiaru// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 6 (2002), s.13-16
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 127 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Optimization of active circuits for substrate noise suppression
- G. Blakiewicz,
- M. Chrzanowska-Jeske
2008