Wyszukiwarka
Nie znaleźliśmy wyników w zadanych kryteriach!
Ale mamy wyniki w innych katalogach.Filtry
wszystkich: 2535
-
Katalog
- Publikacje 1657 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 7 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 72 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 66 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 17 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 5 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 21 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 6 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 670 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 14 wyników po odfiltrowaniu
wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc
Wyniki wyszukiwania dla: SYSTEMY DO POMIARU SZUMÓW
-
Systemy do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości
PublikacjaPrzedstawiono schemat blokowy systemu do pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych. Opisano najważniejsze podzespoły takiego systemu oraz ich wpływ na wyniki pomiaru szumów.
-
System do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych
PublikacjaPrzedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...
-
System do pomiaru szumów elementów optoelektronicznych w szerokim zakresie prądów
PublikacjaW artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych...
-
Zwiększenie czułości systemu do pomiaru szumów metodą korelacyjnej analizy widmowej. Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice. XII cykl seminariów zorganizowanych przez PTETiS, Oddział Gdańsk.
PublikacjaPrzedstawiono dwukanałowy system do pomiaru szumów o bardzo niskim poziomie metodą bezpośrednią. W celu poprawy dokładności pomiaru koherencji między mierzonymi w obu kanałach za pomocą wzmacniaczy transimpedancyjnych prądami szumów proponowany jest dodatkowy etap pomiaru z wykorzystaniem przedwzmacniacza napięciowego oraz włączenie w kanale wejściowym pomiędzy mierzonym czwórnikiem a wzmacniaczem transimpedancyjnym wzmacniacza...
-
Układ do pomiaru szumów nadmiarowych struktur dwójników elektrycznych
Wynalazki -
Metody zwiększenia czułości dwukanałowego systemu pomiaru szumów.
PublikacjaZnajomość właściwości szumowych elementów elektronicznych w zakresie małych częstotliwości, gdzie dominują szumy o widmie typu 1/f, stanowi efektywne narzędzie oceny jakości procesu technologicznego wytwarzania tych elementów oraz predykcji ich niezawodności. Przeprowadzenie dokładnych pomiarów parametrów i charakterystyk szumowych stwarza jednak często wiele problemów.
-
Noise of optoelectronic coupled devices.
PublikacjaOpisano trzy systemy do pomiaru szumów transoptora a mianowicie: system do pomiaru szumów m. cz. diod LED, system do pomiaru szumów m. cz. fototranzystorów oraz system do pomiaru szumów m. cz. transoptorów. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów m. cz. próby 13 transoptorów. Określono współczynnik korelacji między intensywnością szumów a wybranymi parametrami stałoprądowymi tych transoptorów.
-
Noise of optoelectronic coupled devices.
PublikacjaOpisano dwa systemy do pomiaru szumów transoptorów. System do pomiaru szumów fototranzystora oraz system do pomiaru szumów transoptora. Przedstawiono porównanie wyników pomiarów szumów 27 transoptorów trzech różnych producentów.
-
Ocena jakości elementów z węglika krzemu metodą pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości
PublikacjaPrzedstawiono zagadnienie powiązania parametrów szumowych elementów elektronicznych z jakością ich wykonania. Przedstawiono stan badań intensywności metod oceny jakości elementów elektronicznych przez pomiar ich parametrów szumowych oraz propozycję ich zastosowania do oceny jakości elementów z węglika krzemu.
-
Optical low-coherence interferometry for selected technical applications
PublikacjaW artykule przedstawiono teoretyczne podstawy optycznej interferometrii niskokoherentnej i przedyskutowano jej unikatowe właściwości. Opisano w nim opracowany przez autorów system OCT przeznaczony do badań strukturalnych materiałów technicznych. Badania te obejmują także zmiany stanu polaryzacji promieniowania rozproszonego w badanym obiekcie. W artykule zawarto wyniki badań wybranych materiałów silnie rozpraszających promieniowanie...