Wyniki wyszukiwania dla: spektroskopia anihilacji pozytonów - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: spektroskopia anihilacji pozytonów
Przykład wyników znalezionych w innych katalogach

Wyniki wyszukiwania dla: spektroskopia anihilacji pozytonów

  • Structural studies of titanium oxide multilayers

    Publikacja
    • G. P. Karwasz
    • A. Miotello
    • E. Zomer
    • R. S. Brusa
    • B. Kościelska
    • C. Armellini
    • A. Kuzmin

    - Rok 2005

    W pracy przedstawiono wyniki badań cienkich warstw TiO2 przy wykorzystaniu dyfrakcji rentgenowskiej i anihilacji pozytonów. Warstwy były wytwarzane różnymi metodami. Badania pozwalają na określenie optymalnych, z punktu widzenia późniejszych zastosowań, parametrów warstw.

  • Spektroskopia Bliskiej Podczerwieni NIR

    Publikacja

    - Rok 2011

    Spektroskopia bliskiej podczerwieni (NIR) odgrywa coraz większą rolę w analizie ilościowej i jakościowej. Zaletami wykorzystywanej techniki NIR są: 1) nieniszczący, nieinwazyjny charakter analizy, 2) brak konieczności przygotowania próbki przed analizą, 3) prostota i szybkość wykonania rutynowej analizy, 4) wysoka czułość, 5) niski koszt, 6) uzyskanie kompleksowego obrazu badanego materiału, 7) zwiększenie bezpieczeństwa pracy...

  • Elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna niestacjonarnych procesów elektrodowych.

    Publikacja

    - Rok 2005

    Celem pracy było sprawdzenie przydatności Dynamicznej Elektrochemicznej Spektroskopii Impedancyjnej (DEIS) w analizie niestacjonarnych układów elektrodowych. Klasyczna elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna może być stosowana tylko w przypadku, gdy badany układ jest w stanie stacjonarnym, w sensie termodynamicznym, podczas gdy większość układów elektrochemicznych tego wymagania nie spełnia. Istniejące ograniczenia narzucają...

  • Dynamiczna spektroskopia impedancyjna w mikroskopowej analizie powierzchni metalicznych

    Publikacja

    - Rok 2015

    W pracy przedstawiono możliwość zastosowania dynamicznej spektroskopii impedancyjnej do pomiaru lokalnej impedancji z wykorzystaniem mikroskopu AFM. Kontakt sondy mikroskopu z próbką jest układem dynamicznym, który ulega ciągłym zmianom. Skanowanie powierzchni, zmiana docisku sondy, czy nawet dryft skanera piezoelektrycznego powodują zmianę geometrii kontaktu sonda-próbka. W związku z tym klasyczna odmiana pomiaru impedancji...

  • Spektroskopia 2024

    Kursy Online
    • M. Śmiechowski

  • Spektroskopia elektro-ultradźwiękowa warystorów wysokonapięciowych

    Publikacja

    - Measurement Automation Monitoring - Rok 2008

    Przedstawiono nową nieniszczącą metodę wykrywania defektów dwójni-ków. W metodzie wykorzystuje się wzajemne oddziaływanie fononów ultradźwiękowych i elektronów wskutek istnienia defektu powodującego nieliniowości. Testowana próbka jest pobudzana przez sygnały harmo-niczne: elektryczny i ultradźwiękowy o różnych częstotliwościach. Wsku-tek nieliniowości powodowanej przez defekt struktury próbki powstaje nowy sygnał harmoniczny o...

  • Spektroskopia optyczna w fotowoltaice - rok 2023/2024

    Kursy Online
    • J. Szmytkowski

    Kurs "Spektroskopia optyczna w fotowoltaice - 2023/2024" Kierunek: Fizyka Techniczna Wydział FTiMS stopień II, semestr 1

  • Nieliniowa spektroskopia ultradźwiękowa jako narzędzie informacyjno-diagnostyczne

    Przedstawiono nowa metodę badań nieniszczących elementów przewodzących do wykrywania defektów. W metodzie wykorzystano efekty nieliniowe powstające wskutek nieharmonicznego ruchu atomów podlegających wibracjom ultradźwiękowym (wzajemnego oddziaływania fononów ultradźwiękowych i elektronów wskutek istnienia defektu powodującego nieliniowości). Testowana próbka jest pobudzana przez sygnały harmoniczne: elektryczny i ultradźwiękowy...

  • Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.

    Publikacja

    - Rok 2004

    Opisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.

  • Local impedance spectroscopy of membranes

    Celem niniejszej publikacji jest zaprezentowanie zastosowania techniki Lokalnej Elektrochemicznej Spektroskopii Impedancyjnej (LEIS) do uzyskania lokalnej charakterystyki membran. Membranę wykonaną z polichlorku winylu (PCV), plastyfikowaną sebacynianem bis(2etyloheksylu) i domieszkowaną boranem tetradodecyloamoniowym zbadano pod kątem równomiernego rozkładu przewodnictwa na powierzchni badanej próbki. Lokalne pomiary impedancyjne,...