Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 12
Wyniki wyszukiwania dla: przyrzady polprzewodnikowe
-
Przyrządy półprzewodnikowe - laboratorium 2021/22zima
Kursy Online -
Przyrządy Półprzewodnikowe - laboratorium 2022/23 - Zima
Kursy Online -
Przyrządy Półprzewodnikowe - lab - 23/24 zima
Kursy Online -
Przyrządy półprzewodnikowe Zima 2024/2025 - lab
Kursy OnlineCelem kursu jest zapoznanie studentów z podstawowymi elementami elektronicznymi, takimi jak diody i rezystory, oraz z nauką praktycznego montażu i testowania układów elektronicznych. Struktura kursu: Wprowadzenie do elementów elektronicznych: Omówienie podstawowych elementów elektronicznych, takich jak diody i rezystory, ich charakterystyk i zastosowań. Praktyczne ćwiczenia z montażu: Studenci będą montować różne układy z diodami...
-
Przyrządy Półprzewodnikowe 2023 - ACiR, IBM - sem. 2
Kursy OnlinePrzyrządy Półprzewodnikowe - wykład 2023 dla studentów I stopnia, 2 sem. kierunków ACiR i IBM na WETI
-
Przyrządy Półprzewodnikowe 2022 - ACiR, IBM - sem. 2
Kursy OnlinePrzyrządy Półprzewodnikowe - wykład 2022 dla studentów I stopnia, 1 sem. kierunków ACiR i IBM na WETI
-
Przyrządy Półprzewodnikowe 2024 - ACiR, IBM - sem. 2
Kursy OnlinePrzyrządy Półprzewodnikowe - wykład 2024 dla studentów I stopnia, 2 sem. kierunków ACiR i IBM na WETI
-
Szumy z zakresu małych częstotliwości - Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych
PublikacjaPrzedstawiono ogólną ideę oceny jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów z zakresu małych częstotliwości. Szczegółowe rozważania ograniczono do szumów przyrządów półprzewodnikowych. Przedstawiono zagadnienia związane ze źródłami szumów z zakresu m.cz., metod pomiaru szumów własnych, systemów do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych. Opisano metody klasyfikacji przyrządów do grup o zróżnicowanej jakości....
-
Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych
PublikacjaW publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów...
-
Zasługi Profesora Michała Białki w kształtowaniu krajowej kadry naukowej w zakresie miernictwa półprzewodników.
PublikacjaPrzedstawiono działalność naukowo-badawczą w Ośrodku Miernictwa Półprzewodników w Politechnice Gdańskiej w latach 1955-2003. Omówiono zakres tema- tyki naukowej podejmowanej z inicjatywy prof. zw. dr hab. Michała Białki i Jego zasługi i osiągnięcia w kształceniu krajowej kadry na poziomie doktora i doktora habilitowanego.
-
Przyrząd wirtualny do wykrywania szumów wybuchowych w przyrządach półprzewodnikowych metodą obrazowania szumów
PublikacjaW artykule scharakteryzowano właściwości szumów wybuchowych (RTS) w dziedzinie czasu i częstotliwości oraz omówiono stosowane metody identyfikacji szumów RTS. Przedstawiono konstrukcję systemu, do szybkiej identyfikacji szumów wybuchowych, zbudowanego w oparciu o metodę Noise Scattering Pattern (NSP). System składa się z głowicy pomiarowej, zawierającej spolaryzowany badany przyrząd półprzewodnikowy, filtru dolnoprzepustowego,...
-
RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices
PublikacjaPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na...