Wyniki wyszukiwania dla: POMIAR RLC

• RSC Advances

  Czasopisma

  ISSN: 2046-2069

• Pomiary Automatyka Robotyka

  Czasopisma

  ISSN: 1427-9126

• Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2005

  Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...

• Metodyka wykonywania pomiarów oraz ocena niepewności i błędów pomiaru

  Publikacja

  • B. Bochentyn
  • B. Kusz

  - LAB Laboratoria, Aparatura, Badania - Rok 2014

  elem każdego ćwiczenia w laboratorium studenckim jest zmierzenie pewnych wielkości, a następnie ob- liczenie na podstawie tych wyników pomiarów wartości wielkości badanej. Rezulta- tem końcowym badań jest nie tylko otrzymany wynik liczbowy. Nie mniej ważne jest dokonanie oceny dokład- ności pomiaru oraz opraco- wanie wniosków końcowych. Warto zadać sobie pytanie: czy to, co zostało zmierzone, ma sens i co z tego wynika?...

• A method of measuring RLC components for microcontroller systems

  Publikacja

  • Z. Czaja

  - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2017

  A new method of measuring RLC components for microcontroller systems dedicated to compact smart impedance sensors based on a direct sensor-microcontroller interface is presented. In the method this direct interface composed of a reference resistor connected in series with the tested sensor impedance is stimulated by a square wave generated by the microcontroller, and then its voltage response is sampled by an internal ADC of the...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Optimization and improvement of the ARQ mechanism in RLC layer in UMTS.

  Publikacja

  • P. Matusz
  • J. Woźniak

  - Rok 2004

  Parametry wydajnościowe warstwy RLC systemu UMTS są silnie uzależnione od ich konfiguracji początkowej i dynamicznych zmian. Celem referatu była prezentacja efektywności pracy warstwy RLC, w trybie AM, ze szczególnym uwzględnieniem mechanizmu ARQ. Zaproponowano procedury optymalizacji ustawień parametrów RLC. Opisano też metody dalszej poprawy efektywności funkcjonowania RLC AM, poprzez zdefiniowanie i zaimplementowanie nowych...

• Stereoskopowy pomiar odległości

  Publikacja

  • P. Kowalski
  • M. Czyżak

  - Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering - Rok 2017

  Pomiar odległości jest jedną z podstawowych operacji spotykanych w systemach przemysłowych i militarnych. W pracy przedstawiono urządzenie do precyzyjnego pomiaru małych odległości nieprzekraczających 15 m. Urządzenie będzie zainstalowane na platformie mobilnej przewidzianej do pomiaru temperatury linii wysokiego napięcia z użyciem kamery termowizyjnej. Pomiar tą metodą wymaga określenia odległości od obiektu. Wartość odległości...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Pomiar rezystancji uziemienia

  Publikacja

  • E. Musiał

  - INPE: Informacje o Normach i Przepisach Elektrycznych - Rok 2002

  Odpowiedź na list czytelnika objaśnia jak postępować w razie koniecznościpomiaru rezystancji uziemienia w terenie uzbrojonym.

• Zastosowanie probabilistycznego modelu pomiaru do wyznaczania miar jakości testu

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Rok 2009

  Zaproponowano dwie szybkie metody wyznaczania probabilistycznych miar jakości testu na etapie projektowania, opracowane pod kątem zastosowań w testowaniu analogowych układów elektronicznych. Pierwsza analityczna metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Druga jest metodą Monte Carlo wydatnie przyspieszoną poprzez zastąpienie procesu...

• Wyznaczanie miar jakości testu z zastosowaniem probabilistycznego modelu pomiaru

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2010

  Zaproponowano szybką analityczną metodę wyznaczania miar jakości testu na etapie jego projektowania. Metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Podano przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora w układzie testującym wyrób elektroniczny.

  Pełny tekst do pobrania w portalu