Single-Slope ADC With Embedded Convolution Filter for Global-Shutter CMOS Image Sensors

Miron Kłosowski; Yichuang Sun; Waldemar Jendernalik; Grzegorz Blakiewicz; Jacek Jakusz; Stanisław Szczepański

doi:10.1109/tcsii.2023.3266714

Single-Slope ADC With Embedded Convolution Filter for Global-Shutter CMOS Image Sensors

Abstrakt

This brief presents an analog-to-digital converter (ADC) suitable for acquisition and processing of images in the global-shutter mode at the pixel level. The ADC consists of an analog comparator, a multi-directional shift register for the comparator states, and a 16-bit reversible binary counter with programmable step size. It works in the traditional single-slope mode. The novelty is that during each step of the reference ramp, neighboring pixels can exchange status information. During the conversion, the direction and step size of the counter are set globally to realize the corresponding coefficient of a convolution kernel. This technique does not slow down the conversion when used for small kernels (3×3) and does not significantly increase sensor noise. Convolution windows of arbitrary size can be implemented. The concept was verified in an experimental 64×64 imaging array implemented in 180 nm CMOS technology.

Cytowania

0

CrossRef
0

Web of Science
1

Scopus

Autorzy (6)

Miron Kłosowski dr inż.
Yichuang Sun
- School of Engineering and Computer Science, University of Hertfordshire, Hatfield, U.K
Waldemar Jendernalik dr hab. inż.
Grzegorz Blakiewicz dr hab. inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska
Jacek Jakusz dr hab. inż.
Stanisław Szczepański prof. dr hab. inż.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

pełna treść artykułu zobacz w serwisie zewnętrznym otwiera się w nowej karcie

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:

Publikacja w czasopiśmie

Typ:

artykuły w czasopismach

Opublikowano w:

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS nr 70, strony 3258 - 3262,
ISSN: 1549-7747

Język:

angielski

Rok wydania:

2023

Opis bibliograficzny:

Kłosowski M., Sun Y., Jendernalik W., Blakiewicz G., Jakusz J., Szczepański S.: Single-Slope ADC With Embedded Convolution Filter for Global-Shutter CMOS Image Sensors// IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS -Vol. 70,iss. 9 (2023), s.3258-3262

DOI: