Search results for: HFM

• The study of harmonic imaging by AFM = Badania harmonicznych w obrazowaniu AFM

  Publication

  • S. Babicz-Kiewlicz

  - Measurement Automation Monitoring - Year 2011

  Full text available to download

• Simulation and measurements for the substance identification by AFM

  Publication

  • S. Babicz-Kiewlicz
  • A. Zieliński

  - Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - Year 2011

  Full text available to download

• Nowe czynniki HFE 7100 i HFE 7000 jako substancje o potencjalnie szerokich zastosowań przemysłowych

  Publication

  • D. Mikielewicz
  • R. Andrzejczyk

  - Technika Chłodnicza i Klimatyzacyjna - Year 2013

  Autorzy omawiają właściwości nowych substancji niskowrzących o dobrych własnościach termodynamiczych, które zaprezentowała firma Novec, a są to związki syntetyczne oznaczone jako HFE 7100 i HFE 7000. Szczegółowo przedstawiają ich wybrane właściwości, w tym wyniki testów toksykologicznych i zgodność materiałową, dokonują również ich porównania z wycofanymi czynnikami R12, R123 oraz R11, dla których mają być substytutami szczególnie...

• Morphology of polyurethanes revisited by complementary AFM and TEM

  Publication

  • E. Tocha
  • H. Janik
  • M. Dębowski
  • G. J. Vancso

  - Journal of Macromolecular Science Part B-Physics - Year 2002

  Przedmiotem badań mikroskopowych TEM i AFM były lane segmentowe poliuretany o zawartości 30 i 50% segmentu sztywnego. Stwierdzono obecność sferolitów (poziom mikrometrów), fibryl i globul. Ponadto zastosowanie AFM pozwoliło na zbadanie nanomorfologii badanych poliuretanów. Zaobserwowano krótkie, cylindropodobne domeny segmentów sztywnych rozproszone w matrycy segmentów giętkich.

• AFM-assisted investigation of conformal coatings in electronics

  Publication

  • M. Szociński

  - ANTI-CORROSION METHODS AND MATERIALS - Year 2016

  Purpose – This paper aims to presents a new method of investigation of local properties of conformal coatings utilized in microelectronics. Design/methodology/approach – It is based on atomic force microscopy (AFM) technique supplemented with the ability of local electrical measurements, which apart from topography acquisition allows recording of local impedance spectra, impedance imaging and dc current mapping. Potentialities...

  Full text to download in external service

• RFM-based repurchase behavior for customer classification and segmentation

  Publication

  • M. Rahim
  • M. Mushafiq
  • S. Khan
  • Z. Arain

  - Journal of Retailing and Consumer Services - Year 2021

  Full text to download in external service

• Corrosion process monitoring by AFM higher harmonic imaging

  Publication

  • S. Babicz-Kiewlicz
  • A. Zieliński
  • J. Smulko
  • K. Darowicki

  - MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY - Year 2017

  The atomic force microscope (AFM) was invented in 1986 as an alternative to the scanning tunnelling microscope, which cannot be used in studies of non-conductive materials. Today the AFM is a powerful, versatile and fundamental tool for visualizing and studying the morphology of material surfaces. Moreover, additional information for some materials can be recovered by analysing the AFM's higher cantilever modes when the cantilever...

  Full text available to download

• Evaluation of organic coatings condition with AFM-based method

  Publication

  • M. Szociński

  - Surface Innovations - Year 2016

  The paper presents an atomic force microscopy (AFM)-based approach to evaluation of local protective properties of organic coatings. Apart from topography, it provides local ac and dc characteristics of examined coating. The method consists in application of ac voltage perturbation signal between conductive AFM tip and coated metal substrate. The resulting current is used to determine local impedance characteristics. Both impedance...

  Full text to download in external service

• Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis

  Publication

  • M. Kiwilszo
  • A. Zieliński
  • J. Smulko
  • K. Darowicki

  - MICROSCOPY AND MICROANALYSIS - Year 2012

  Przedstawiono sposób usunięcia zakłóceń pojawiających się na obrazach uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych (AFM). Przybliżono kilka metod stosowanych do redukcji zakłóceń w obrazach. Następnie opisano zidentyfikowane zakłócenia harmoniczne oraz zaproponowany sposób ich znaczącej redukcji. W pracy zamieszczono szereg obrazów uzyskanych z mikroskopu AFM ilustrujących efekty powodowane zakłóceniami oraz skuteczność zaproponowanej...

  Full text available to download

• HTM-Journal of Heat Treatment and Materials

  Journals

  ISSN: 1867-2493 , eISSN: 2194-1831