Rok 2005

• New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification

  Publikacja

  • M. Wroński
  • S. Kamiński
  • E. Miś
  • A. Dziedzic

  - MICROELECTRONICS RELIABILITY - Rok 2005

  W pracy przedstawiono nowe podejście do korekcji rezystorów warstwowych polegające na wytwarzaniu dodatkowego kontaktu w celu rozszerzenia zakresu korekcji i uproszczenia projektowania. Ponadto zaprezentowano nową szybką metodę wyznaczania charakterystyk korekcyjnych a także weryfikację eksperymentalną. Przedstawiono wyniki w postaci zakresów korekcji i względnych przyrostów rezystancji w funkcji kształtu dodatkowego kontaktu oraz...

• Thick - film and LTCC multicontact resistors - preliminary results

  Publikacja

  • E. Miś
  • A. Dziedzic
  • M. Wroński
  • S. Kamiński
  • L. Rebenklau
  • K. J. Wolter

  - Rok 2005

  W artykule zaprezentowano i skomentowano wstępne wyniki elektryczxnych i geometrycznych charakterystyk wielokontaktowychstruktur rezystywnych wykonanych w technologiigrubowarstwowej i LTCC ( ceramicznej z niską temperatura wypadaniz). Realizowane struktury miały rozmiary od 200 x 100 μm2 do 1500 x 500 μm2 i 3 lub 6 kontaktów rozmieszczonych e różny sposób na obwodzie warstwy rezystywnej.

Rok 2004

• Nowe podejście do projektowania i realizacji korekcji laserowej rezystorów warstwowych.

  Publikacja

  • M. Wroński

  - Rok 2004

  W pracy zaproponowano i przeanalizowano nowe podejście do projektowania i realizacji korekcji laserowej rezystorów warstwowych polegające na zastępowaniu rezystorów 2-kontaktowych strukturami 3-kontaktowymi, które następnie poddawane są korekcji. Ma to wpływ na zwiększenie zakresu korekcji i zmianę czułościowych charakterystyk strojenia.

• Nowe struktury korygowanych laserem rezystorów warstwowych zapewniające poprawę dokładności strojenia i stabilność.

  Publikacja

  • M. Wroński

  - Rok 2004

  W pracy przedstawiono i przeanalizowano nowe struktury typu ''kapelusza'' i ''U'' ze zwora przewodzącą zapewniające poprawę dokładności strojenia i wzrost stabilności rezystorów dzięki eliminacji tzw. ''gorących punktów'' występujących na końcu cięcia laserowego.

Rok 2003

• Improved top hat and ushaped resistors for huigh precision laser trimming.

  Publikacja

  • M. Wroński

  - Rok 2003

  Przedstawiono nowe podejście do poprawy charakterystyk strojenia rezystorów warstwowych typu ''kapelusza'' i typu ''U'' z cięciem prostym pośrodku struktury polegająca na wprowadzeniu zaworki przewodzącej w górnej części rezystora. Umożliwia to eliminację lokalnych przegrzewów oraz zwiększenia dokładności strojenia i wzrostu stabilności.