The Low-frequency Noise of SiC MESFETs

Przedstawiono system do pomiaru szumów małoczestotliwościowych tranzystorów SiC MESFET oraz przykładowe wyniki pomiarów.

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Kategoria:: Aktywność konferencyjna
Typ:: publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:: Noise and Fluctuations Twentieth International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF-2009) Pisa, Italy, 14-19 June 2009 strony 353 - 360
Język:: angielski
Rok wydania:: 2009
Opis bibliograficzny:: Cichosz J., Konczakowska A.: The Low-frequency Noise of SiC MESFETs// Noise and Fluctuations Twentieth International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF-2009) Pisa, Italy, 14-19 June 2009/ ed. eds. Massimo Macucci, Giovanni Basso. : , 2009, s.353-360
Weryfikacja:: Politechnika Gdańska