Wyniki wyszukiwania dla: MODELOWANIE PRZYRZADÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

• Fizyka przyrządów półprzewodnikowych

  Kursy Online

  • J. Szmytkowski

  Kurs "Fizyka przyrządów półprzewodnikowych - 2023/2024" Kierunek: Fizyka Techniczna Wydział FTiMS stopień I, semestr 5  

• Fizyka przyrządów półprzewodnikowych - 2022/2023

  Kursy Online

  • J. Szmytkowski

  Stacjonarne I stopnia Kurs "Fizyka przyrządów półprzewodnikowych - 2022/2023" Kierunek: Fizyka Techniczna Wydział FTiMS stopień I, semestr 5

• Fizyka przyrządów półprzewodnikowych - 2021/2022

  Kursy Online

  • J. Szmytkowski

  Stacjonarne I stopnia Kurs "Fizyka przyrządów półprzewodnikowych - 2021/2022" Kierunek: Fizyka Techniczna Wydział FTiMS stopień I, semestr 5

• Fizyka przyrządów półprzewodnikowych - rok 2024/2025

  Kursy Online

  • J. Szmytkowski

  Kierunek:  Fizyka Techniczna Wydział FTiMS Stopień I, semestr 5

• Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.

  Publikacja

  • Z. Chobola
  • L. Hasse
  • J. Sikula
  • L. Spiralski

  - Rok 2004

  Opisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.

• Modelowanie Inżynierskie

  Czasopisma

  ISSN: 1896-771X

• Ocena niezawodności elementów półprzewodnikowych.

  Publikacja

  • L. Spiralski
  • A. Konczakowska

  - Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki - Rok 2003

  Omówiono metody oceny niezawodności elementów półprzewodnikowych, w szczególności w oparciu o badania przyspieszone. Badania te powiązano ściśle z procesem technologii wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych. Szerzej omówiono przyczyny uszkodzeń elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono predykcję niezawodności opartą na badaniach przyspieszonych. Wskazano na coraz szersze zainteresowanie badaniami niezawodności na...

• Metody analizy szumu telegrafistów przyrządów półprzewodnikowych

  Publikacja

  • J. A. Cichosz
  • A. Konczakowska
  • B. Stawarz-Graczyk
  • A. Szatkowski

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2008

  Scharakteryzowano szum telegrafistów (Random Telegraph Signal - RTS), który może występować w szumie własnym przyrządów półprze-wodnikowych, jako składowa niegaussowska. Podkreślono, że szum telegrafistów jest efektem defektów materiałów zastosowanych w produk-cji przyrządów półprzewodnikowych lub nieprawidłowości procesu pro-dukcyjnego. Przedstawiono metody identyfikacji wielopoziomowego szumu telegrafistów, na przykładzie przebiegów...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• System do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych

  Publikacja

  • A. Konczakowska

  - Rok 2005

  Przedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...

• Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych.

  Publikacja

  • A. Szewczyk

  - Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki - Rok 2003

  Przedstawiono system do pomiarów małoczęstotliwościowych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. Szczegółowo omówiono zaprojektowane i wykonane oprogramowanie sterujące systemem pomiarowym.