Filtry
wszystkich: 11
Wyniki wyszukiwania dla: NSP
-
PEGylated substrates of NSP4 protease: A tool to study protease specificity
Publikacja -
Nanosecond pulsed electric fields (nsPEFs) impact and enhanced Photofrin II® delivery in photodynamic reaction in cancer and normal cells
Publikacja -
Transmembrane Transport and Anticancer Activity of Strontium Ranelate Delivered with Nanosecond Pulsed Electric Fields (nsPEFs) into Human Cells in Vitro
Publikacja -
A new methof for identyfication of RTS noise
PublikacjaIn the paper a new method, called the Noise Scattering Pattern (NSP) method, for RTS noise identyfication in a noise signal is presented. Examples of patterns of the NSP method are included.
-
A new nethod for RTS noise of semiconductor devices identification
PublikacjaIn the paper, a new method, called the noise scatterin pattern method (NSP method), for random telegraph signal noise identyfication in the inherent noise of semiconductor devices is described. A block diagram of a noise measurement system based on the NSP method is presented. Examples of patterns of the NSP method are presented.
-
Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych
PublikacjaW publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów...
-
Przyrząd wirtualny do wykrywania szumów wybuchowych w przyrządach półprzewodnikowych metodą obrazowania szumów
PublikacjaW artykule scharakteryzowano właściwości szumów wybuchowych (RTS) w dziedzinie czasu i częstotliwości oraz omówiono stosowane metody identyfikacji szumów RTS. Przedstawiono konstrukcję systemu, do szybkiej identyfikacji szumów wybuchowych, zbudowanego w oparciu o metodę Noise Scattering Pattern (NSP). System składa się z głowicy pomiarowej, zawierającej spolaryzowany badany przyrząd półprzewodnikowy, filtru dolnoprzepustowego,...
-
Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise in Semiconductor Components
PublikacjaOpisano nową metodę identyfikacji i wizualizacji szumów RTS. Metoda ta oparta na graficznym przedstawieniu przebiegu szumowego jest szczególnie użyteczna do szybkiej selekcji elektronicznych elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono także rezultaty filtacji medianowej szumu zawierającego składową RTS. Filtrację medianową zastosowano do poprawienia obrazu szumu uzyskanego w wyniku zastosowania metody NSP.
-
Identification of Optocoupler Devices with RTS Noise
PublikacjaThe results of noise measurements in low frequency range for CNY 17 type optocouplers are presented. The research were carried out on devices with different values of Current Transfer Ratio (CTR). The methods for identification of Random Telegraph Signal (RTS) in noise signal of optocouplers were proposed. It was found that the Noise Scattering Pattern method (NSP method) enables to identify RTS noise as non-Gaussian component...
-
SYSTEM IDENTYFIKACJI SZUMÓW RTS TRANSOPTORÓW CNY17
PublikacjaW artykule opisano zaprojektowany i wykonany system do identyfikacji szumów wybuchowych (RTS – Random Telegraph Signal) występujących w transoptorach typu CNY17. Z metod umożliwiających ocenę parametrów szumów wybuchowych wybrano do realizacji metodę Wzorów Obrazów Szumów – WOS (ang. Noise Scattering Patterns – NSP), która w sposób bardzo prosty pozwala na rozpoznawanie szumów o rozkładach wartości chwilowych gaussowskich i niegaussowskich....
-
Metoda oceny jakości transoptorów na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości
PublikacjaWe wstępie rozprawy doktorskiej przedstawiono aktualny stan wiedzy dotyczący zagadnień szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych, w szczególności transoptorów. Następnie przedstawiono ocenę parametrów statycznych transoptorów oraz ocenę współczynnika CTR i hFE. Jeden rozdział poświęcono opisowi stanowiska pomiarowego, które wykorzystano do pomiarów szumów własnych diod transoptorów, fototranzystorów transoptorów oraz transoptorów....