Nie znaleźliśmy wyników w zadanych kryteriach!
Ale mamy wyniki w innych katalogach.Filtry
wszystkich: 3944
-
Katalog
- Publikacje 3481 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 17 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 1 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 110 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 74 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 15 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 15 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 11 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 12 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 150 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 6 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 52 wyników po odfiltrowaniu
wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc
Wyniki wyszukiwania dla: POMIAR STAŁOPRĄDOWY
-
Pomiary Automatyka Robotyka
Czasopisma -
Stałoprądowy model tranzystora typu HSD MAGFET
PublikacjaZaproponowano stałoprądowy model dwudrenowego tranzystora polowego typu HSD MAGFET, wykorzystywanego jako czujnik pola magnetycznego o dużej czułości na zmiany pola magnetycznego i dużej geometrycznej rozdzielczości pomiarowej. Zaprezentowany model odzwierciedla zjawisko podziału prądu płynącego w kanale tranzystora na prądy drenów i uwzględnia wzajemne oddziaływanie napięć drenów VDS1 i VDS2 na prady drenów ID1 i ID2 poprzez wprowadzenie...
-
Nowa metoda kalibracji woltamperometrii stałoprądowej
PublikacjaW artykule omówiono no wą metodę kalibracji elektrod woltamperometrycznych opierającą się na wykorzystaniu wyłącznie jednego roztworu wzorcowego. Przedstawiono podstawy teoretyczne zaproponowanej metody oraz wyniki jej weryfikacji laboratoryjnej. Weryfikacja ta potwierdziła możliwość zastosowania zaproponowanej metody do kalibracji elektrod woltamperometrycznych w zakresie stężeń znacznie mniejszych od stężenia jonów depolaryzatora...
-
Stałoprądowy model tranzystora mos dla zakresu przed- i nadprogowego
PublikacjaZaprezentowano spójny fizycznie, stałoprądowy, jednosekcyjny model opisujący pracę tranzystora MOS zarówno w zakresie przed- i nadprogowym, jak również w zakresie liniowym (triodowym) i nasycenia (pentodowym). Przedstawiono założenia modelu fizycznego w przestrzeni 2-D i jego transformację do modelu quasi-dwuwymiarowego praz zademonstrowano wyniki weryfikacji eksperymentalnej modelu. Model spełnia warunek symetrii Gummel'a
-
Stałoprądowy model tranzystora MOS z kanałem dłuzszym niż 10 nm
PublikacjaW artykule zaprezentowano spójny fizycznie, stałoprądowy jednosekcyjny model tranzystora MOS i wyniki jego eksperymentalnej weryfikacji dla szerokiego spektrum długości kanałów badanych tranzystorów - od kanałów długich aż do 10-nanometrowych. Przedstawiono założenia modelu fizycznego w przestrzeni 2-D i jego transformację do modelu quasi-dwuwymiarowego. Model spełnia warunek symetrii Gummel'a.
-
Metodyka wykonywania pomiarów oraz ocena niepewności i błędów pomiaru
Publikacjaelem każdego ćwiczenia w laboratorium studenckim jest zmierzenie pewnych wielkości, a następnie ob- liczenie na podstawie tych wyników pomiarów wartości wielkości badanej. Rezulta- tem końcowym badań jest nie tylko otrzymany wynik liczbowy. Nie mniej ważne jest dokonanie oceny dokład- ności pomiaru oraz opraco- wanie wniosków końcowych. Warto zadać sobie pytanie: czy to, co zostało zmierzone, ma sens i co z tego wynika?...
-
Pomiar rezystancji uziemienia
PublikacjaOdpowiedź na list czytelnika objaśnia jak postępować w razie koniecznościpomiaru rezystancji uziemienia w terenie uzbrojonym.
-
Stereoskopowy pomiar odległości
PublikacjaPomiar odległości jest jedną z podstawowych operacji spotykanych w systemach przemysłowych i militarnych. W pracy przedstawiono urządzenie do precyzyjnego pomiaru małych odległości nieprzekraczających 15 m. Urządzenie będzie zainstalowane na platformie mobilnej przewidzianej do pomiaru temperatury linii wysokiego napięcia z użyciem kamery termowizyjnej. Pomiar tą metodą wymaga określenia odległości od obiektu. Wartość odległości...
-
Zastosowanie probabilistycznego modelu pomiaru do wyznaczania miar jakości testu
PublikacjaZaproponowano dwie szybkie metody wyznaczania probabilistycznych miar jakości testu na etapie projektowania, opracowane pod kątem zastosowań w testowaniu analogowych układów elektronicznych. Pierwsza analityczna metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Druga jest metodą Monte Carlo wydatnie przyspieszoną poprzez zastąpienie procesu...
-
Wyznaczanie miar jakości testu z zastosowaniem probabilistycznego modelu pomiaru
PublikacjaZaproponowano szybką analityczną metodę wyznaczania miar jakości testu na etapie jego projektowania. Metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Podano przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora w układzie testującym wyrób elektroniczny.