Search
Filters
total: 20
filtered: 18
-
Catalog
Chosen catalog filters
Search results for: ELIPSOMETRIA
-
Pomiar temperatury zeszklenia metodą zmiennotemperaturowej elipsometrii spektroskopowej
Publication -
Elipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring
PublicationWykorzystano technikę elipsometrii monochromatycznej do opisu on-line warstw tlenkowych, elektroosadzanych na miedzi. Elipsometria jest w stanie dostarczyć informacji odnośnie grubości i współczynników załamania światła układów warstwowych, jednakże wymagane w tym celu jest zbudowanie matematycznego modelu odwzorowującego stałe optyczne układu badanego. W powyższej pracy przedyskutowane zostały różne metody dopasowywania modelu...
-
Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Publication -
Ellipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring
Publication -
Ellipsometric study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH
Publication -
Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering
Publication -
Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering
PublicationWe report the optical properties of a carbon nitride (CNx) film as a function of nitrogen concentration (N/C) of the deposited film. As nitrogen concentration is increased (N/C ratio) in a CNx film, the refractive index and band gap also increase. The real and imaginary parts, n and k (refractive index and extinction coefficient) of the complex refraction index of carbon nitride films were determined by spectroscopic ellipsometry...
-
A review of applications of ellipsometry in corrosion research
PublicationElipsometria jest to nieinwazyjna i bardzo dokładna technika pomiarowa znajdująca coraz więcej zastosowań w badaniach korozyjnych. Poglądowo przedstawiono aktualne zastosowania pomiarów elipsometrycznych. Przeglądu dokonano pod kątem przydatności elipsometrii do wyznaczania grubości oraz charakterystyki optycznej cienkich warstewek pasywnych pokrywających powierzchnię różnych metali. Opisano zastosowanie pomiarów elipsometrycznych...
-
Zastosowania pomiarów elipsometrycznych w badaniach korozyjnych
PublicationElipsometria jest to nieinwazyjna i bardzo dokładna technika pomiarowa znajdująca coraz więcej zastosowań w badaniach korozyjnych. Poglądowo przedstawiono aktualne zastosowania pomiarów elipsometrycznych. Przeglądu dokonano pod kątem przydatności elipsometrii do wyznaczania grubości oraz charakterystyki optycznej cienkich warstewek pasywnych pokrywających powierzchnię różnych metali. Opisano zastosowanie pomiarów elipsometrycznych...
-
Ellipsometric investigation of nitrogen doped diamond thin films grown in microwave CH4/H2/N2 plasma enhanced chemical vapor deposition
PublicationThe influence of N2 concentration (1%–8%) in CH4/H2/N2 plasma on structure and optical properties of nitrogen doped diamond (NDD) films was investigated. Thickness, roughness, and optical properties of the NDD films in the VIS–NIR range were investigated on the silicon substrates using spectroscopic ellipsometry. The samples exhibited relatively high refractive index (2.6 6 0.25 at 550 nm) and extinction coefficient (0.05 6 0.02...
-
Variable Temperature Spectroscopic Ellipsometry as a Tool for Insight into the Optical Order in the P3HT:PC70BM and PC70BM Layers
PublicationTwo combined ellipsometric techniques—variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) and variable temperature spectroscopic ellipsometry (VTSE)—were used as tools to study the surface order and dielectric properties of thin films of a poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) (P3HT) mixture with a fullerene derivative (6,6-phenyl-C71-butyric acid methyl ester) (PC70BM). Under the influence of annealing, a layer of the ordered PC70BM...
-
Anisotropic optical properties of few-layer black phosphorus coatings: from fundamental insights to opto-electrochemical sensor design
PublicationFew-layer black phosphorus (FLBP) is characterised by a tuneable bandgap, high carrier mobility and anisotropic optical properties. It therefore has the potential to find applications in electronics and photonics. FLBP oxidizes upon exposure to air, limiting its utility in devices and components. To address this issue, the thesis introduces methods and tools developed for studying FLBP's optical parameters, with a particular emphasis...
-
Katedra Technologii Zabezpieczeń Przeciwkorozyjnych, działalność badawcza
PublicationW Katedrze Technologii Zabezpieczeń Przeciwkorozyjnych realizowane są różnorodne badania naukowe z zakresu korozji, ochrony przed korozją, inżynierii materiałowej i elektrochemii. Rozwijane są cyfrowe pomiary impedancyjne procesów elektrodowych, pomiary składowych harmonicznych oraz szumu elektrochemicznego. Rozwijane są metody badań impedancyjnych prowadzone w warunkach nieustalonych. W tym celu stosowane są metody łączne czasowo...
-
Ellipsometry study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH
PublicationPrzedstawiono przykład zastosowania techniki elipsometrii monochromatycznej w celu określenia dynamiki wzrostu warstw tlenkowych i wodorotlenkowych na miedzi w środowisku 0.1M NaOH. Badania te stanowią część projektu skupiającego się na oznaczeniu fizycznych i elektrycznych własności tlenku miedzi (I) oraz tlenku miedzi (II) podczas procesu formowania się warstwy. Jednoczesne pomiary elipsometryczne i impedancyjne są nowatorskie...
-
Polarization-dependent optical absorption in phosphorene flakes
PublicationThe interest of 2D materials is constantly increasing because of their very attractive mechanical, electrical and optical parameters. They have been used in many applications, e.g. photodetectors, sensors, modulators, insulators. One of the recently discovered 2D materials is phosphorene. In contrast to graphene, phosphorene has a direct bandgap tuned by numbers of layers in the 2D structure. The phosphorene flakes are strongly...
-
Thickness and structure change of titanium (IV) oxide thin films synthesized by the sol–gel spin coating method
PublicationTitanium dioxide is a well-known material in nanotechnology, while it provides new opportunities due to its interesting properties, for example, as a semiconductor with a quite significant forbidden band gap energy of 3.2 eV. In this study, thin films of titanium dioxide (TiO2) were synthesized in amorphous and crystallographic systems using the sol–gel process. Atomic Force Microscopy (AFM), Raman spectroscopy and X-ray diffraction...
-
Temperature Coefficient of Electronic Polarizability in Thin Polymer Films Deposited on Si and SiO2 Substrates Determined via Spectroscopic Ellipsometry
PublicationEllipsometry is widely used to determine the thermo-optical properties of thin polymer films. However, if the thermo-optic coefficient (TOC) and the linear thermal expansion coefficient (LTEC) are to be used to determine the temperature coefficient of electronic polarizability (TCEP) in thin polymer films, their values must be determined with the greatest possible accuracy, as both have the opposite effect. In this article,...
-
Characterization of Optical and Electrical Properties of Transparent Conductive Boron-Doped Diamond thin Films Grown on Fused Silica
PublicationA conductive boron-doped diamond (BDD) grown on a fused silica/quartz has been investigated. Diamond thin films were deposited by the microwave plasma enhanced chemical vapor deposition (MW PECVD). The main parameters of the BDD synthesis, i.e. the methane admixture and the substrate temperature were investigated in detail. Preliminary studies of optical properties were performed to qualify an optimal CVD synthesis and film parameters...