Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis

Abstrakt

Przedstawiono sposób usunięcia zakłóceń pojawiających się na obrazach uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych (AFM). Przybliżono kilka metod stosowanych do redukcji zakłóceń w obrazach. Następnie opisano zidentyfikowane zakłócenia harmoniczne oraz zaproponowany sposób ich znaczącej redukcji. W pracy zamieszczono szereg obrazów uzyskanych z mikroskopu AFM ilustrujących efekty powodowane zakłóceniami oraz skuteczność zaproponowanej metody.

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 1

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS nr 18, strony 186 - 195,
ISSN: 1431-9276
Język:
angielski
Rok wydania:
2012
Opis bibliograficzny:
Kiwilszo M., Zieliński A., Smulko J., Darowicki K.: Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis// MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. -Vol. 18, nr. Iss. 1 (2012), s.186-195
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1017/s1431927611012281
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 13 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi