Abstrakt
Several techniques have been developed in order to characterize electrical properties of surfaces in micrometer/nanometer scale. Obtaining of the spatial distribution of sample resistance, capacitance or potential requires separate measurements performed in different scanning modes. On the other hand, analysis of the frequency response of investigated system enables determination of several physical quantities in single measurement cycle. In this paper authors discuss possibility of obtaining the spatialimpedance characteristic by means of built-in capabilities of the AFM device. Factors influencing the measurements and shortcomings of the proposed methodology are discussed together with postulatedsolutions.
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
ELECTROCHIMICA ACTA
nr 55,
strony 7761 - 7765,
ISSN: 0013-4686 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2010
- Opis bibliograficzny:
- Darowicki K., Zieliński A.: Mesoscopic impedance analysis of solid materials surface// ELECTROCHIMICA ACTA. -Vol. 55, nr. iss. 26 (2010), s.7761-7765
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 95 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Advanced XAS analysis for investigating fuel cell electrocatalysts
- A. Witkowska,
- E. Principi,
- A. Di Cicco
- + 1 autorów
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
- K. Darowicki,
- A. Zieliński,
- J. K. Kurzydłowski