Wyszukiwarka
Nie znaleźliśmy wyników w zadanych kryteriach!
Ale mamy wyniki w innych katalogach.Wyniki wyszukiwania dla: REZONANSOWA SPEKTROSKOPIA ULTRADŹWIEKOWA
-
Spektroskopia Bliskiej Podczerwieni NIR
PublikacjaSpektroskopia bliskiej podczerwieni (NIR) odgrywa coraz większą rolę w analizie ilościowej i jakościowej. Zaletami wykorzystywanej techniki NIR są: 1) nieniszczący, nieinwazyjny charakter analizy, 2) brak konieczności przygotowania próbki przed analizą, 3) prostota i szybkość wykonania rutynowej analizy, 4) wysoka czułość, 5) niski koszt, 6) uzyskanie kompleksowego obrazu badanego materiału, 7) zwiększenie bezpieczeństwa pracy...
-
SPEKTROSKOPOWE BADANIA WYŁADOWANIA MIKROFALOWEGO W ŹRÓDLE PLAZMY TYPU KOMORA REZONANSOWA ZASILANA FALOWODOWO
PublikacjaW pracy przedstawiono wyniki spektroskopowych badań wyładowania mikrofalowego (2,45 GHz) pod ciśnieniem atmosferycznym, generowanego w źródle plazmy typu komora rezonansowa. Gazami roboczymi były: argon, azot oraz metan, a także mieszaniny argon/metan oraz azot/metan. Natężenie przepływu gazu roboczego zmieniano w zakresie od 50 do 100 l/min, natomiast moc mikrofal absorbowanych przez wyładowanie wynosiła od 300 do 4000 W. Zmierzone...
-
Elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna niestacjonarnych procesów elektrodowych.
PublikacjaCelem pracy było sprawdzenie przydatności Dynamicznej Elektrochemicznej Spektroskopii Impedancyjnej (DEIS) w analizie niestacjonarnych układów elektrodowych. Klasyczna elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna może być stosowana tylko w przypadku, gdy badany układ jest w stanie stacjonarnym, w sensie termodynamicznym, podczas gdy większość układów elektrochemicznych tego wymagania nie spełnia. Istniejące ograniczenia narzucają...
-
Dynamiczna spektroskopia impedancyjna w mikroskopowej analizie powierzchni metalicznych
PublikacjaW pracy przedstawiono możliwość zastosowania dynamicznej spektroskopii impedancyjnej do pomiaru lokalnej impedancji z wykorzystaniem mikroskopu AFM. Kontakt sondy mikroskopu z próbką jest układem dynamicznym, który ulega ciągłym zmianom. Skanowanie powierzchni, zmiana docisku sondy, czy nawet dryft skanera piezoelektrycznego powodują zmianę geometrii kontaktu sonda-próbka. W związku z tym klasyczna odmiana pomiaru impedancji...
-
Przetwornica rezonansowa LLC AC-DC w układzie półmostka
PublikacjaW artykule przedstawiono rezultaty prac nad rezonansową przetwornicą AC/DC typu LLC w układzie półmostka o mocy 100W. Układ sterowania przetwornicy został opracowany w oparciu o dedykowany sterownik UCC25600 (Texas Instrumens). W pracy przedstawiono koncepcję przetwornicy oraz porównano właściwości opracowanej przetwornicy z komercyjnie dostępnym układem typu Flyback.
-
Spektroskopia 2024
Kursy Online -
Spektroskopia elektro-ultradźwiękowa warystorów wysokonapięciowych
PublikacjaPrzedstawiono nową nieniszczącą metodę wykrywania defektów dwójni-ków. W metodzie wykorzystuje się wzajemne oddziaływanie fononów ultradźwiękowych i elektronów wskutek istnienia defektu powodującego nieliniowości. Testowana próbka jest pobudzana przez sygnały harmo-niczne: elektryczny i ultradźwiękowy o różnych częstotliwościach. Wsku-tek nieliniowości powodowanej przez defekt struktury próbki powstaje nowy sygnał harmoniczny o...
-
Spektroskopia optyczna w fotowoltaice - rok 2023/2024
Kursy OnlineKurs "Spektroskopia optyczna w fotowoltaice - 2023/2024" Kierunek: Fizyka Techniczna Wydział FTiMS stopień II, semestr 1
-
Nieliniowa spektroskopia ultradźwiękowa jako narzędzie informacyjno-diagnostyczne
PublikacjaPrzedstawiono nowa metodę badań nieniszczących elementów przewodzących do wykrywania defektów. W metodzie wykorzystano efekty nieliniowe powstające wskutek nieharmonicznego ruchu atomów podlegających wibracjom ultradźwiękowym (wzajemnego oddziaływania fononów ultradźwiękowych i elektronów wskutek istnienia defektu powodującego nieliniowości). Testowana próbka jest pobudzana przez sygnały harmoniczne: elektryczny i ultradźwiękowy...
-
Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.
PublikacjaOpisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.