Wyniki wyszukiwania dla: SYMULACJA UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

• Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.

  Publikacja

  • A. Adamczyk
  • M. Wierzbicki

  - Rok 2003

  Przedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.

• Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą

  Publikacja

  • M. Borkowska
  • M. Gonera
  • J. Kern

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2002

  Wzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...

• Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Rok 2008

  Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...

• Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Rok 2009

  Praca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...

• Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Diagnostyka - Rok 2008

  Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych

  Publikacja

  • M. Kowalewski

  - Rok 2005

  Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...

• Zastosowanie hybrydowych systemów ekspertowych do wspomagania projektowania układów elektronicznych.

  Publikacja

  • M. Kłosowski

  - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Rok 2003

  W pracy przedstawiono koncepcję i praktyczną realizację obiektowo zorientowanego hybrydowego systemu ekspertowego sterowanego regułami, współpracującego ze sztuczną siecią neuronową, systemem klasyfikatorów genetycznych i systemem z rozumowaniem sytuacyjnym. Jest to system hybrydowy i może być efektywnie wykorzystany do budowy złożonych systemów ekspertowych.

• Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2010

  Przedstawiono najnowsze trendy w dziedzinie testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem opartych na brzegowej ścieżce sterująco-obserwacyjnej magistral testujących. Dla każdej magistrali przedstawiono jej strukturę oraz rozwiązania kluczowych elementów. Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych z użyciem wyposażonych w magistralę...

• Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej

  Publikacja

  • R. Zielonko
  • M. Kowalewski

  - Rok 2007

  Na tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...

• Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych

  Publikacja

  • M. Kowalewski

  - Rok 2005

  Przedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej....