Wyszukiwarka
Nie znaleźliśmy wyników w zadanych kryteriach!
Ale mamy wyniki w innych katalogach.Filtry
wszystkich: 1301
-
Katalog
- Publikacje 668 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 5 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 59 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 10 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 22 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 1 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 4 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 314 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 3 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 214 wyników po odfiltrowaniu
wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc
Wyniki wyszukiwania dla: TECHNOLOGIA CIENKICH WARSTW
-
Pomiary grubości cienkich warstw metodą modulacji chromatycznej.
PublikacjaTematem artykułu jest pomiar grubości struktur cienkowarstwowych szerokostosowanych w optoelektronice, transparentnych warstw dielektrycznych. Grubość jest najistotniejszym parametrem warstwy i determinuje jej właściwościoptyczne. Metoda pomiaru grubości cienkich warstw powinna być bezkontaktowa, nieniszcząca, niekosztowna oraz odporna na zakłócenia
-
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
PublikacjaPrzedstawiono wybrane problemy diagnostyki ramanowskiej in-situ wzrostu cienkich warstw węglowych w prózniowym procesie CVD, w szczególności problemy doboru długości fali lasera oraz konstrucji głowic optycznych. Opisano system pomiarowy zrealizowany w Katedrze Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych PG. Przedstawiono wyniki wstępnych pomiarów oraz ich interpretację.
-
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
PublikacjaPrzedstawiono zagadnienia monitorowania in-situ prózniowego procesu wzrostu cienkich warstw węglowych, a w szczególności diamentowych i diamentopodobnych DLC. Zastosowanie pomiarów ramanowskich umożliwia zbadanie struktury warstwy na poziomie molekularnych (zawartości faz węglowych sp2 i sp3, a także defektów wodorowych). Użycie spektroskopii in-situ podczas procesu syntezy pozwala monotorować poprawność przebiegu procesu i opracować...
-
Wytwarzanie cienkich warstw azotku wanadu metodą termicznego azotowania tlenku wanadu
Publikacjaw niniejszej pracy opisano metodę wytwarzania cienkich warstw vn - sio2 poprzez termiczne azotowanie powłok vox - sio2. warstwy tlenku wanadu zostały naniesione na szklane podłoża metodą zol - żel. po wysuszeniu nastąpiło wygrzanie warstw w atmosferze amoniaku. wygrzewanie w temperaturze wyższej, od temperatury dysocjacji termiczne amoniaku, mikroporowatych warstw tlenku wanadu spowodowało azotowanie materiału. w konsekwencji procesu...
-
Wytwarzanie cienkich warstw dla tlenkowych ogniw paliwowych metodą pirolizy aerozolowej
PublikacjaCelem pracy doktorskiej były badania cienkich warstw wytworzonych za pomocą pirolizy aerozolowej na potrzeby tlenkowych ogniw paliwowych. Warstwy te miały spełniać funkcje ochronne dla dwóch zastosowań, jako bariera dyfuzyjna między katodą, a elektrolitem oraz jako warstwy ochronne dla stalowych interkonektorów pracujących w różnych atmosferach.
-
Metody wytwarzania cienkich warstw wykorzystywane przy produkcji tlenkowych ogniw paliwowych
Publikacja -
Opis metody określania stopnia zwilżalności powierzchni cienkich warstw na przykładzie TiO2
Publikacjarozdział opisuje sposób określania stopnia zwilżalności powierzchni cienkich warstw tio2. badane warstwy wytworzono za pomocą zmodyfikowanej metody rozpylania magnetronowego. zwilżalność określono za pomocą specjalistycznego stanowiska do pomiaru kąta zwilżania metodą tak zwanej siedzącej kropli. wyniki pokazały, że badane warstwy tio2 posiadały właściwości hydrofilowe.
-
Optoelektroniczne narzędzia do badania in-situ przebiegu procesu syntezy cienkich warstw diamentopodobnych
PublikacjaW pracy przedstawiono optoelektroniczny system do diagnostyki in-situ plazmowych procesów CVD, wykorzystywanych do wytwarzania cienkich warstw diamentopodobnych. W systemie zastosowano przestrzenną optyczną spektroskopię emisyjną SR-OES i spektroskopię ramanowską. Pozwala to na jednoczesne badanie rozkładu cząstek w plaźmie i parametrów rosnącej warstwy. Opisano konstrukcję systemów pomiarowych, sprzęgniętych z komorą CVD za pomocą...
-
Optoelektroniczne narzędzia do badania in-situ przebiegu procesu syntezy cienkich warstw diamentopodobnych
PublikacjaPrzedstawiono optoelektroniczny system do diagnostyki in-situ plazmowych procesów CVD, wykorzystywanych do wytwarzania cienkich warstw diamentopodobnych. W systemie zastosowano przestrzenną optyczną spektroskopię emisyjną SR-OES i spektroskopię ramanowską. Pozwala to na jednoczesne badanie rozkładu cząstek w plaźmie i parametrów rosnącej warstwy. Opisano konstrukcję systemów pomiarowych, sprzęgniętych z komorą CVD za pomocą dedykowanych...
-
Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych.
PublikacjaW artykule opisano problemy związane z określaniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne, oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej. Opisano praktyczne układy, umożliwiające pomiary...