Wyszukiwarka
Nie znaleźliśmy wyników w zadanych kryteriach!
Ale mamy wyniki w innych katalogach.Filtry
wszystkich: 3425
-
Katalog
- Publikacje 2646 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 66 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 93 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 2 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 80 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 6 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 2 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 7 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 152 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 7 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 364 wyników po odfiltrowaniu
wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc
Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA AFM
-
Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych
PublikacjaW pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...
-
The study of harmonic imaging by AFM = Badania harmonicznych w obrazowaniu AFM
Publikacja -
Simulation and measurements for the substance identification by AFM
Publikacja -
AFM-assisted investigation of conformal coatings in electronics
PublikacjaPurpose – This paper aims to presents a new method of investigation of local properties of conformal coatings utilized in microelectronics. Design/methodology/approach – It is based on atomic force microscopy (AFM) technique supplemented with the ability of local electrical measurements, which apart from topography acquisition allows recording of local impedance spectra, impedance imaging and dc current mapping. Potentialities...
-
Morphology of polyurethanes revisited by complementary AFM and TEM
PublikacjaPrzedmiotem badań mikroskopowych TEM i AFM były lane segmentowe poliuretany o zawartości 30 i 50% segmentu sztywnego. Stwierdzono obecność sferolitów (poziom mikrometrów), fibryl i globul. Ponadto zastosowanie AFM pozwoliło na zbadanie nanomorfologii badanych poliuretanów. Zaobserwowano krótkie, cylindropodobne domeny segmentów sztywnych rozproszone w matrycy segmentów giętkich.
-
Demodulacja AM-FM dyskretnych sygnałów świergotowych
PublikacjaW pracy zaprezentowano dwa nowe krótkie (4-punktowe) estymatory amplitudy chwilowej rzeczywistych sygnałów świergotowych (ang. chirp) współpracujące z 4-punktowym estymatorem pulsacji chwilowej MODCOV4p. W ten sposób otrzymano dwa demodulatory AM-FM o stosunkowo dużej dokładności obu estymat i o zakresie dynamicznym AM i FM wystarczająco szerokim do większości praktycznych zastosowań.
-
Zastosowanie skaningowej mikroskopii elektronowej w analizie uszkodzeń
PublikacjaW pracy przedstawiono przegląd badań z dziedziny analizy uszkodzeń z wykorzystaniem skaningowej mikroskopii elektronowej, opublikowanych w Metallurgical and Materials Transactions w celu przedstawienia możliwości badawczych mikroskopu oraz ukazanie tendencji w prowadzonych badaniach w okresie sześciu ostatnich lat ubiegłego wieku. Przedstawiono badania wpływu mikrostruktury na mechanizmy niszczenia w warunkach statycznego, dynamicznego...
-
Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis
PublikacjaPrzedstawiono sposób usunięcia zakłóceń pojawiających się na obrazach uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych (AFM). Przybliżono kilka metod stosowanych do redukcji zakłóceń w obrazach. Następnie opisano zidentyfikowane zakłócenia harmoniczne oraz zaproponowany sposób ich znaczącej redukcji. W pracy zamieszczono szereg obrazów uzyskanych z mikroskopu AFM ilustrujących efekty powodowane zakłóceniami oraz skuteczność zaproponowanej...
-
Corrosion process monitoring by AFM higher harmonic imaging
PublikacjaThe atomic force microscope (AFM) was invented in 1986 as an alternative to the scanning tunnelling microscope, which cannot be used in studies of non-conductive materials. Today the AFM is a powerful, versatile and fundamental tool for visualizing and studying the morphology of material surfaces. Moreover, additional information for some materials can be recovered by analysing the AFM's higher cantilever modes when the cantilever...
-
Evaluation of organic coatings condition with AFM-based method
PublikacjaThe paper presents an atomic force microscopy (AFM)-based approach to evaluation of local protective properties of organic coatings. Apart from topography, it provides local ac and dc characteristics of examined coating. The method consists in application of ac voltage perturbation signal between conductive AFM tip and coated metal substrate. The resulting current is used to determine local impedance characteristics. Both impedance...