Wyniki wyszukiwania dla: mikroskopia tunelowa afm/stm

• Nanostructure characterization of (SmS)1.19TaS2 by means of STM/STS

  Publikacja

  • S. Winiarz
  • T. Klimczuk
  • R. J. Cava
  • R. Czajka

  - JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH - Rok 2006

  W publikacji przedstawiono badania za pomocą techniki STM i STS powierzchni kryształów warstwowego związki typu misfit(SmS)1.19TaS2. Badania pozwalają sądzić, że powierzchniową warstwą jest warstwa Sm-S.

• Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych

  Publikacja

  • K. Darowicki
  • A. Zieliński

  - Ochrona przed Korozją - Rok 2007

  W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...

• The study of harmonic imaging by AFM = Badania harmonicznych w obrazowaniu AFM

  Publikacja

  • S. Babicz-Kiewlicz

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2011

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Self-healing ATM networks based on preplanned restoration of virtual paths

  Publikacja

  • W. Molisz

  - SYSTEMS SCIENCE - Rok 2003

  W pracy omówiono klasyfikację metod odtwarzania usług w samonaprawialnych sieciach ATM opartych na ścieżkach wirtualnych i o topologii kratkowej. Przedstawiono model z zaplanowanymi z góry ścieżkami zabezpieczającymi i wyniki badań przykładowej sieci w Polsce.

• Sylwester Kaczmarek dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Sieci Teleinformacyjnych

  Sylwester Kaczmarek ukończył studia w 1972 roku jako mgr inż. Elektroniki, a doktorat i habilitację uzyskał z technik komutacyjnych i inżynierii ruchu telekomunikacyjnego w 1981 i 1994 roku na Politechnice Gdańskiej. Jego zainteresowania badawcze ukierunkowane są na: sieci IP QoS, sieci GMPLS, sieci SDN, komutację, ruting QoS, inżynierię ruchu telekomunikacyjnego, usługi multimedialne i jakość usług. Aktualnie jego badania skupiają...

• Simulation and measurements for the substance identification by AFM

  Publikacja

  • S. Babicz-Kiewlicz
  • A. Zieliński

  - Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - Rok 2011

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• AFM-assisted investigation of conformal coatings in electronics

  Publikacja

  • M. Szociński

  - ANTI-CORROSION METHODS AND MATERIALS - Rok 2016

  Purpose – This paper aims to presents a new method of investigation of local properties of conformal coatings utilized in microelectronics. Design/methodology/approach – It is based on atomic force microscopy (AFM) technique supplemented with the ability of local electrical measurements, which apart from topography acquisition allows recording of local impedance spectra, impedance imaging and dc current mapping. Potentialities...

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Morphology of polyurethanes revisited by complementary AFM and TEM

  Publikacja

  • E. Tocha
  • H. Janik
  • M. Dębowski
  • G. J. Vancso

  - Journal of Macromolecular Science Part B-Physics - Rok 2002

  Przedmiotem badań mikroskopowych TEM i AFM były lane segmentowe poliuretany o zawartości 30 i 50% segmentu sztywnego. Stwierdzono obecność sferolitów (poziom mikrometrów), fibryl i globul. Ponadto zastosowanie AFM pozwoliło na zbadanie nanomorfologii badanych poliuretanów. Zaobserwowano krótkie, cylindropodobne domeny segmentów sztywnych rozproszone w matrycy segmentów giętkich.

• Demodulacja AM-FM dyskretnych sygnałów świergotowych

  Publikacja

  • M. Rojewski
  • R. Orlikowski

  - Rok 2005

  W pracy zaprezentowano dwa nowe krótkie (4-punktowe) estymatory amplitudy chwilowej rzeczywistych sygnałów świergotowych (ang. chirp) współpracujące z 4-punktowym estymatorem pulsacji chwilowej MODCOV4p. W ten sposób otrzymano dwa demodulatory AM-FM o stosunkowo dużej dokładności obu estymat i o zakresie dynamicznym AM i FM wystarczająco szerokim do większości praktycznych zastosowań.

• Zastosowanie skaningowej mikroskopii elektronowej w analizie uszkodzeń

  Publikacja

  • J. Dampc

  - Rok 2005

  W pracy przedstawiono przegląd badań z dziedziny analizy uszkodzeń z wykorzystaniem skaningowej mikroskopii elektronowej, opublikowanych w Metallurgical and Materials Transactions w celu przedstawienia możliwości badawczych mikroskopu oraz ukazanie tendencji w prowadzonych badaniach w okresie sześciu ostatnich lat ubiegłego wieku. Przedstawiono badania wpływu mikrostruktury na mechanizmy niszczenia w warunkach statycznego, dynamicznego...