Wyszukiwarka
Dariusz Załęski
Publikacje
Filtry
wszystkich: 9
Katalog Publikacji
Rok 2007
-
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
PublikacjaW pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora...
-
Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
PublikacjaPrzedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
An automatic system for identification of random telegraph signal (RTS) noise in noise signals
PublikacjaIn the paper the automatic and universal system for identification of Random Telegraph Signal (RTS) noise as a non-Gaussian component of the inherent noise signal of semiconductor devices is presented. The system for data acquisition and processing is described. Histograms of the instantaneous values of the noise signals are calculated as the basis for analysis of the noise signal to determine the number of local maxima of histograms...
Rok 2005
-
Wbudowany mikroserwer TCP/IP na potrzeby akwizycji i transmisji danych pomiarowych
PublikacjaW pracy przedstawiono wbudowany mikroserwer TCP/IP, który został opracowany przez autora. Opisano konstrukcję mikroserwera, zarówno od strony sprzętowej jak i od strony jego oprogramowania. Omówiono także przykładowe zastosowania mikroserwera przy akwizycji danych pomiarowych w rozległych sieciach pomiarowych.
-
Implementation of an input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems
PublikacjaPrzedstawiono implementację zmodyfikowanej metody 2D detekcji i lokalizacji uszkodzeń sieci analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów nieuszkodzonych w systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Metoda składa się z dwóch etapów: przedtestowego - tworzenie słownika uszkodzeń i testowego, w którym dokonywany jest pomiar przez mikrokontroler amplitudy i przesunięcia fazowego odpowiedzi na pobudzenie przebiegiem...
Rok 2014
-
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
PublikacjaThe paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...
Rok 2010
-
Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed-Signal Embedded Electronic Systems
PublikacjaThis paper concerns the implementation of shape-designed complementary signals (CSs), matched to the frequency characteristic of the circuit under test, in built-in self testers (BISTs), dedicated to mixed-signal embedded electronic systems for testing their analog sections. The essence of the proposed method and solution of CS BIST is low-cost realization on the base of hardware and software resources of microcontrollers used...
Rok 2013
-
A solution of the integrated µBIST for functional and diagnostic testing in mixed-signal electronic embedded systems
PublikacjaMain problem of the paper is testing of analog circuits and blocks in mixed-signal electronic embedded systems (EESs), using the built-in self-test (BIST) technique. The integrated mBIST based on reusing signal blocks already present in an EES, such as processors, memories, ADCs, is presented. The novelty of the solution is the extended functionality of the mBIST. It can perform 2 testing functions: functional testing and fault...
wyświetlono 358 razy