Metody i algorytmy testowania obwodów drukowanych z wykorzystaniem standardu IEEE 1149.1 JTAG - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Metody i algorytmy testowania obwodów drukowanych z wykorzystaniem standardu IEEE 1149.1 JTAG

Abstrakt

W artykule przedstawiono metody i algorytmy wykorzystywane do testowania defektów montażowych płytek drukowanych. Przedstawiono sposób komunikacji z układami scalonymi z interfejsem IEEE 1149.1 popularnie znanym jako JTAG, (ang. Joint Test Access Group). Opisano bloki sprzętowe zdefiniowane z standardzie JTAG, opis BSDL układów scalonych, sposób przeprowadzania testu oraz techniki generacji wektorów testowych.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
ICT Young 2012: II konferencja Studentów i Doktorantów Elektroniki, Telekomunikacji, Informatyki, Automatyki i Robotyki : materiały konferencyjne, Gdańsk, 26-27.05.2012 strony 299 - 304
Język:
polski
Rok wydania:
2012
Opis bibliograficzny:
Gardziejczyk K., Pankiewicz B.: Metody i algorytmy testowania obwodów drukowanych z wykorzystaniem standardu IEEE 1149.1 JTAG// ICT Young 2012: II konferencja Studentów i Doktorantów Elektroniki, Telekomunikacji, Informatyki, Automatyki i Robotyki : materiały konferencyjne, Gdańsk, 26-27.05.2012/ ed. Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, PG. Gdańsk: ICT Young, 2012, s.299-304
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 59 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi