Wyszukiwarka
Abstrakt
W artykule przedstawiono metody i algorytmy wykorzystywane do testowania defektów montażowych płytek drukowanych. Przedstawiono sposób komunikacji z układami scalonymi z interfejsem IEEE 1149.1 popularnie znanym jako JTAG, (ang. Joint Test Access Group). Opisano bloki sprzętowe zdefiniowane z standardzie JTAG, opis BSDL układów scalonych, sposób przeprowadzania testu oraz techniki generacji wektorów testowych.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- ICT Young 2012: II konferencja Studentów i Doktorantów Elektroniki, Telekomunikacji, Informatyki, Automatyki i Robotyki : materiały konferencyjne, Gdańsk, 26-27.05.2012 strony 299 - 304
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2012
- Opis bibliograficzny:
- Gardziejczyk K., Pankiewicz B.: Metody i algorytmy testowania obwodów drukowanych z wykorzystaniem standardu IEEE 1149.1 JTAG// ICT Young 2012: II konferencja Studentów i Doktorantów Elektroniki, Telekomunikacji, Informatyki, Automatyki i Robotyki : materiały konferencyjne, Gdańsk, 26-27.05.2012/ ed. Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, PG. Gdańsk: ICT Young, 2012, s.299-304
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 93 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Intercomparison on measurements of PCBs in pork fat during the Belgian PCB-crisis
- K. Bester,
- H. Beenaert,
- A. Bernrouther
- + 7 autorów
2002
Towards a global historical emission inventory for selected PCB congeners - a mass balance approach. 3. An update
- K. Breivik,
- A. Sweetman,
- J. Pacyna
- + 1 autorów
2007