Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOP SIŁ ATOMOWYCH

• Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych

  Publikacja

  • K. Darowicki
  • A. Zieliński

  - Ochrona przed Korozją - Rok 2007

  W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...

• Odszumianie obrazów z mikroskopu sił atomowych

  Publikacja

  • M. Kiwilszo
  • L. Hasse
  • A. Zieliński

  - Rok 2009

  Znanych jest wiele metod odszumiania obrazów. Oprogramowanie przygotowane do tego celu wykorzystuje zwykle transformację falkową i jest często dostępne w sieci Internet lub np. jako tool-box w programie Matlab. Brak jest jednak nadal ogólnych metod, które pozwoliłyby dobierać w sposób optymalny, ze względu na skuteczność usuwania szumów, parametry stosowanej transformacji. Ta uwaga dotyczy także odszumiania obrazów uzyskiwanych...

• Ocena stanu organicznych powłok ochronnych w skali mikro za pomocą mikroskopu sił atomowych

  Publikacja

  • M. Szociński

  - Ochrona przed Korozją - Rok 2011

  Organiczne powłoki ochronne stanowią jeden z najpowszechniej stosowanych środków ochrony antykorozyjnej materiałów konstrukcyjnych. Ich trwałość i czas eksploatacji zależą m.in. od rodzaju materiału polimerowego oraz warunków użytkowania.Wiedza na temat podatności poszczególnych powłok na degradację, mechanizmu niszczenia, miejsc inicjacji procesu degradacyjnego umożliwia prawidłową selekcję powłoki. Jednakże znaczna część technik...

• Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy

  Publikacja

  • K. Darowicki
  • A. Zieliński
  • J. K. Kurzydłowski

  - SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS - Rok 2008

  Mikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Obtaining ionic forces by the total-energy tight-binding method

  Publikacja

  • J. Dziedzic

  - TASK Quarterly - Rok 2007

  Zastosowanie metody ciasnego wiązania w sformułowaniu nieortogonalnym do obliczania sił atomowych w symulacji metodą dynamiki molekularnej pozwala na stworzenie modelu charakteryzującego się lepszą przenośnością, w porównaniu z potencjałami empirycznymi, którymi posługuje się tradycyjna dynamika molekularna. W niniejszej pracy przedstawiono szczegółowo sposób obliczenia pochodnych elementów macierzy Hamiltona i macierzy nakładania...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Photodegradation of lauric acid at an anatase single crystal surface studied by atomic force microscopy

  Publikacja

  • A. Zaleska-Medynska
  • J. Nalaskowski
  • J. Hupka
  • J. D. Miller

  - APPLIED CATALYSIS B-ENVIRONMENTAL - Rok 2008

  Badania obejmowały obserwację zmian topografii powierzchni, za pomocą mikroskopii sił atomowych, cienkiej warstwy kwasu laurynowego osadzonego na monokrysztale anatazu. Warstwę kwasu laurynowego o grubości 80-90 nm naświetlano promieniowaniem z zakresu UV-Vis. Zauważono, że kwas laurynowy osadzany metodą wirującego dysku tworzy na powierzchni monokryształów TiO2 struktury domenowe. Stwierdzono, że podczas naświetlania nie ulega...

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Determination of occurrence of anodic excursion peaks by dynamic electrochemical impedance spectroscopy, atomic force microscopy and cyclic voltammetry

  Publikacja

  • K. Darowicki
  • K. Andrearczyk

  - JOURNAL OF POWER SOURCES - Rok 2009

  Struktura oraz skład warstw anodowych na ołowiu najbardziej zależy od; dodatków stopowych, stężenia kwasu siarkowego oraz od zakresu potencjału. Zjawisko powstawania pików "anodic excursion peaks" od zawsze było w centrum uwagi wielu naukowców. W tej pracy zachowanie się powyższego zjawiska (AEP) zostało zbadane metodami dynamicznej elektrochemicznej spektrokopii impedancyjnej, mikroskopu sił atomowych oraz chronowoltamperometrii....

• Badanie elektrycznych i mechanicznych właściwości warstw pasywnych w nanoskali przy użyciu Mikroskopii Sił Atomowych

  Projekty

  Kierownik projektu: dr inż. Mateusz Tobiszewski   Program finansujący: PRELUDIUM

  Projekt realizowany w Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej

• ZESTAW MIKROSKOPÓW 3 MIKROSKOPY SXIŁ ATOMOWYCH + MIKROSKOP TUNELOWY

  Aparatura Badawcza

  Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej

• Aplication of impedance imaging to evaluation of organic coating degradation at a local scale

  Publikacja

  • M. Szociński
  • K. Darowicki
  • K. Schaefer-Rychel

  - Journal of Coatings Technology and Research - Rok 2012

  Zaproponowano nowe podejście do oceny lokalnych właściwości elektrycznych powłok organicznych. Wykorzystuje ono mikroskop sił atomowych pracujący w trybie kontaktowym. Pomiędzy igłę mikroskopu i podłoże metalowe pokryte powłoką przykładany jest sinusoidalny napięciowy sygnał pobudzenia o zadanej częstotliwości i mierzony jest prądowy sygnał odpowiedzi. Zalety tego podejścia zostały zaprezentowane na przykładzie powłoki akrylowej...

  Pełny tekst do pobrania w portalu