Wyniki wyszukiwania dla: POMIARY SZUMÓW M CZ
-
Analiza wyników pomiarów szumów m. cz. diod LED transoptorów CNY 17
PublikacjaZaprezentowano wyniki pomiarów szumów m. cz. diod transoptorów oraz wyniki badań stacjonarności tych przebiegów. Test stacjonarności został zastosowany do parametrów statystycznych przebiegów szumowych takich jak wartość średnia, wariancja, skośność oraz kurtoza. Stwierdzono, że niemal wszystkie przebiegi szumowe diod transoptorów były stacjonarne.
-
Analiza wyników pomiarów szumów m. cz. diod LED transoptorów CNY 17
PublikacjaZaprezentowano wyniki pomiarów szumów m. cz. diod transoptorów oraz wyniki badań stacjonarności tych przebiegów. Test stacjonarności został zastosowany do parametrów statystycznych przebiegów szumowych takich jak wartość średnia, wariancja, skośność oraz kurtoza. Stwierdzono, że niemal wszystkie przebiegi szumowe diod transoptorów były stacjonarne.
-
Robert Jankowski prof. dr hab. inż.
OsobyUrodził się 26 grudnia 1968 r. w Gdyni. Absolwent Liceum Ogólnokształcącego przy Konsulacie PRL w Benghazi, Libia (1987), student Politechniki Gdańskiej (studia magisterskie jednolite, 1987-1991 i 1992-1993), Uniwersytetu w Sheffield, Anglia (studia inżynierskie, 1991-1992), Uniwersytetu w Roskilde, Dania (kurs magisterski, 1993) oraz Uniwersytetu Tokijskiego, Japonia (studia doktoranckie, 1994-1997). Od początku pracy zawodowej...
-
Noise of optoelectronic coupled devices.
PublikacjaOpisano trzy systemy do pomiaru szumów transoptora a mianowicie: system do pomiaru szumów m. cz. diod LED, system do pomiaru szumów m. cz. fototranzystorów oraz system do pomiaru szumów m. cz. transoptorów. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów m. cz. próby 13 transoptorów. Określono współczynnik korelacji między intensywnością szumów a wybranymi parametrami stałoprądowymi tych transoptorów.
-
Low Frequency Noise Measurement of Reverse Polarized Silicon Carbide Schottky Diodes
PublikacjaW artykule przedstawiono wyniki pomiaró szumów cz. wstecznie spolaryzowanych diod Schottky'ego.
-
Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.
PublikacjaOpisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.
-
Właściwości szumowe piroelektrycznych detektorów podczerwieni.
PublikacjaW artykule omówiono specyfikę pomiaru szumów małoczęstotliwościowych piroelektrycznych detektorów podczerwieni. Opisano sysytem umożliwiający pomiary szumów w zakresie częstotliwości od 0.1 Hz do 30 kHz. Przytoczono przykładowe wyniki pomiarów szumów.
-
Metody badania właściwości szumowych elementów mocy z SiC
PublikacjaW artykule przedstawiono metody i układy pomiarowe do pomiarów szumów z zakresu małych częstotliwości diod mocy wykonanych z węglika krzemu. Pomiary prowadzone były przy polaryzacji badanych elementów w kierunku przewodzenia i zaporowym. Opracowano układ automatycznej kompensacji składowej stałoprądowej, który umożliwia obserwację i rejestrację szumów wybuchowych.
-
RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices
PublikacjaPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na...
-
Pomiary szumów i zakłóceń
PublikacjaPraca zawiera uzasadnienie potrzeby doskonalenia techniki pomiarów szumów i zakłóceń, zwłaszcza sygnałów losowych - zarówno ergodycznych jak i niestacjonarnych, z wykorzystaniem sprzętu komputerowego. Przedstawione zostały uwarunkowania aparaturowe mające zasadniczy wpływ na algorytmiczne wyznaczanie wielkości charakteryzujących szumy i zakłócenia po procesie ich digitalizacji. Podane zostały także przykładowe zastosowania wspomaganych...
-
Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices.
PublikacjaPrzedstawiono skrótowo system do ostrzowych pomiarów szumów struktur submikronowych. Znaczny wpływ na pomiary ostrzowe mają zakłócenia i szumy własne systemu, zwłaszcza zakłócenia o wysokim poziomie wpraowadzane przez ostrza (fluktuacje rezystancji styków ostrza do struktury powodowane przez wibracje i udary mechaniczne w środowisku pomiarowym)i środowisko elektromagnetyczne. Zakłócenia okresowe powodowane przez wibracje i pola...
-
Zwiększenie dokładności systemu pozycjonującego przez integrację radiowych pomiarów odległości z systemem inercyjnym
PublikacjaW referacie zaprezentowano filtr Kalmana, dzięki któremu można zintegrować radiowe pomiary odległości ze współrzędnymi położenia obiektu wyznaczonymi za pomocą systemu inercyjnego. Podejście takie pozwala zmniejszyć wpływ dryftu sensorów systemu inercyjnego, a także zmniejszyć wpływ szumów radiowych pomiarów odległości na estymowane współrzędne położenia obiektów. Wyniki działania opisanego filtru zaprezentowano z użyciem pomiarów...
-
Novel applications of noise measurements in technology and sensing.
PublikacjaPomiary szumów są źródłem informacji oraz rodzajem badań nieniszczących dotyczących jakości elementów elektronicznych oraz innych materiałów. Mogą one poprawić selektywność i czułość wykrywania gazów oraz pozwalają monitorować zjawiska korozji. W tym celu wyznacza się właściwości statystyczne fluktuacji prądu lub napięcia w zakresie małych częstotliwości. W artykule przedstawiono i przedyskutowano wybrane, ze względu na ich znaczenie...
-
Marek Czachor prof. dr hab.
Osoby -
Pomiary szumów m.cz. tranzystorów MESFET z węglika krzemu
PublikacjaTranzystory MESFET z węglika krzemu typu CRF24010 (CRREE) są przyrządami mocy przeznaczonymi do pracy w zakresie wysokich częstotliwości. Ze względu na możliwość oceny technologii tych przyrządów, a także ich jakości celowe jest określenie ich właściwości szumowych w zakresie małych częstotliwości. Przedstawiono wyniki badań wykonanych w celu oceny właściowści szumowych tranzystorów MESFET z SiC oraz zaproponowano schemat szumowy...
-
Pomiary satelitarne torów tramwajowych - cz. I
PublikacjaStosowanie metod pomiarowych geodezji tradycyjnej do określania przebiegu trasy kolejowej lub tramwajowej wymaga jej podziału na mniejsze części, które są rozpatrywane oddzielnie. Staje się to źródłem dodatkowych błędów, a całościowa ocena dokładności wykonania danego układu geometrycznego jest bardzo utrudniona. Alternatywą dla tego rozwiązania może być wykorzystanie precyzyjnych pomiarów satelitarnych opartych o systemy GPS i...
-
POMIARY SATELITARNE TORÓW TRAMWAJOWYCH. - cz. II
PublikacjaStosowanie geodezji tradycyjnej do określania przebiegu trasy kolejowej lub tramwajowej wymaga jej podziału na mniejsze części, które są rozpatrywane oddzielnie. Staje się to źródłem dodatkowych błędów, a całościowa ocena danego układu jest bardzo utrudniona. Alternatywą dla tego rozwiązania może być wykorzystanie precyzyjnych pomiarów satelitarnych opartych o systemy GPS i Glonass.
-
Pomiary szumów m.cz. diod Schottky'ego z węglika krzemu spolaryzowanych w kierunku przewodzenia
PublikacjaPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów małej częstotliwości diod Schottky'ego wykonanych z węglika krzemu polaryzowanych w kierunku przewodzenia. Badania przeprowadzono dla diod o nominalnym prądzie przewodzenia IF od 2 A do 12 A.
-
Tomasz Mikulski dr hab. inż.
Osoby -
Photoluminescence Kinetics of YAG Crystals Activated with Ce, and Ce and Mg
Publikacja