Wyszukiwarka
Nie znaleźliśmy wyników w zadanych kryteriach!
Ale mamy wyniki w innych katalogach.Filtry
wszystkich: 150
-
Katalog
Wyniki wyszukiwania dla: elipsometria spektroskopowa
-
Spektroskopia Bliskiej Podczerwieni NIR
PublikacjaSpektroskopia bliskiej podczerwieni (NIR) odgrywa coraz większą rolę w analizie ilościowej i jakościowej. Zaletami wykorzystywanej techniki NIR są: 1) nieniszczący, nieinwazyjny charakter analizy, 2) brak konieczności przygotowania próbki przed analizą, 3) prostota i szybkość wykonania rutynowej analizy, 4) wysoka czułość, 5) niski koszt, 6) uzyskanie kompleksowego obrazu badanego materiału, 7) zwiększenie bezpieczeństwa pracy...
-
Badania spektroskopowe wybranych silanotiolanów kobaltu(II)
PublikacjaPodjęto próby otrzymania i scharakteryzowania tri-tert-butoksysilanotiolanowych kompleksów kobaltu(II), mogących spełnić rolę biomimetyków dla centrów katalitycznych wybranych metaloprotein. Przedstawiono wyniki analizy strukturalnej otrzymanych kompleksów uzyskanych z wykorzystaniem metod spektroskopii UV-vis i FT-IR zarówno dla roztworów jak i w ciele stałym. Skonfrontowano je z danymi uzyskanymi metodą analizy rentgenostrukturalnej...
-
Elipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring
PublikacjaWykorzystano technikę elipsometrii monochromatycznej do opisu on-line warstw tlenkowych, elektroosadzanych na miedzi. Elipsometria jest w stanie dostarczyć informacji odnośnie grubości i współczynników załamania światła układów warstwowych, jednakże wymagane w tym celu jest zbudowanie matematycznego modelu odwzorowującego stałe optyczne układu badanego. W powyższej pracy przedyskutowane zostały różne metody dopasowywania modelu...
-
Spektroskopia elektro-ultradźwiękowa warystorów wysokonapięciowych
PublikacjaPrzedstawiono nową nieniszczącą metodę wykrywania defektów dwójni-ków. W metodzie wykorzystuje się wzajemne oddziaływanie fononów ultradźwiękowych i elektronów wskutek istnienia defektu powodującego nieliniowości. Testowana próbka jest pobudzana przez sygnały harmo-niczne: elektryczny i ultradźwiękowy o różnych częstotliwościach. Wsku-tek nieliniowości powodowanej przez defekt struktury próbki powstaje nowy sygnał harmoniczny o...
-
Elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna niestacjonarnych procesów elektrodowych.
PublikacjaCelem pracy było sprawdzenie przydatności Dynamicznej Elektrochemicznej Spektroskopii Impedancyjnej (DEIS) w analizie niestacjonarnych układów elektrodowych. Klasyczna elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna może być stosowana tylko w przypadku, gdy badany układ jest w stanie stacjonarnym, w sensie termodynamicznym, podczas gdy większość układów elektrochemicznych tego wymagania nie spełnia. Istniejące ograniczenia narzucają...
-
Badania spektroskopowe wybranych silanotiolanów metali o budowie polimerycznej
PublikacjaPodjęto próby otrzymania tri-tert-butoksysilanotiolanowych kompleksów niklu(II), kobaltu(II), cynku(II) i kadmu(II) o budowie polimerycznej mogących pełnić rolę prekursorów w syntezie materiałów funkcjonalnych. W tym celu przeprowadzono syntezy odpowiednich silanotiolanowych metali z grupą diamin alifatycznych. Otrzymano szereg nowych obojętnych polimerów koordynacyjnych o budowie przestrzennej typu 1D. Dla siedmiu z nich zostały...
-
Ellipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring
Publikacja -
Nieliniowa spektroskopia ultradźwiękowa jako narzędzie informacyjno-diagnostyczne
PublikacjaPrzedstawiono nowa metodę badań nieniszczących elementów przewodzących do wykrywania defektów. W metodzie wykorzystano efekty nieliniowe powstające wskutek nieharmonicznego ruchu atomów podlegających wibracjom ultradźwiękowym (wzajemnego oddziaływania fononów ultradźwiękowych i elektronów wskutek istnienia defektu powodującego nieliniowości). Testowana próbka jest pobudzana przez sygnały harmoniczne: elektryczny i ultradźwiękowy...
-
Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering
PublikacjaWe report the optical properties of a carbon nitride (CNx) film as a function of nitrogen concentration (N/C) of the deposited film. As nitrogen concentration is increased (N/C ratio) in a CNx film, the refractive index and band gap also increase. The real and imaginary parts, n and k (refractive index and extinction coefficient) of the complex refraction index of carbon nitride films were determined by spectroscopic ellipsometry...
-
Ellipsometric study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH
Publikacja