Search
Filters
total: 131
filtered: 127
-
Catalog
Chosen catalog filters
Search results for: ANALIZA SZUMÓW
-
Analiza wyników pomiarów szumów m. cz. diod LED transoptorów CNY 17
PublicationZaprezentowano wyniki pomiarów szumów m. cz. diod transoptorów oraz wyniki badań stacjonarności tych przebiegów. Test stacjonarności został zastosowany do parametrów statystycznych przebiegów szumowych takich jak wartość średnia, wariancja, skośność oraz kurtoza. Stwierdzono, że niemal wszystkie przebiegi szumowe diod transoptorów były stacjonarne.
-
Analiza wyników pomiarów szumów m. cz. diod LED transoptorów CNY 17
PublicationZaprezentowano wyniki pomiarów szumów m. cz. diod transoptorów oraz wyniki badań stacjonarności tych przebiegów. Test stacjonarności został zastosowany do parametrów statystycznych przebiegów szumowych takich jak wartość średnia, wariancja, skośność oraz kurtoza. Stwierdzono, że niemal wszystkie przebiegi szumowe diod transoptorów były stacjonarne.
-
Modelowanie szumów RTS
PublicationPrzytoczono charakterystyczne parametry szumu wybuchowego (Random Telegraph Signal, RTS). Przedstawiono algorytm programowego generatora szumów RTS. Algorytm został wyposażony w możliwość dodawania do wygenerowanych impulsów RTS szumu białego oraz szumu typu 1/f. Przedstawiono przykładowe realizacje wygenerowanych przebiegów.
-
Modelowanie szumów RTS
PublicationPrzytoczono charakterystyczne parametry szumu wybuchowego (Random Telegraph Signal, RTS). Przedstawiono algorytm programowego generatora szumów RTS. Algorytm został wyposażony w możliwość dodawania do wygenerowanych impulsów RTS szumu białego oraz szumu typu 1/f. Przedstawiono przykładowe realizacje wygenerowanych przebiegów.
-
Pomiary szumów i zakłóceń
PublicationPraca zawiera uzasadnienie potrzeby doskonalenia techniki pomiarów szumów i zakłóceń, zwłaszcza sygnałów losowych - zarówno ergodycznych jak i niestacjonarnych, z wykorzystaniem sprzętu komputerowego. Przedstawione zostały uwarunkowania aparaturowe mające zasadniczy wpływ na algorytmiczne wyznaczanie wielkości charakteryzujących szumy i zakłócenia po procesie ich digitalizacji. Podane zostały także przykładowe zastosowania wspomaganych...
-
Przyrząd wirtualny do wykrywania szumów wybuchowych w przyrządach półprzewodnikowych metodą obrazowania szumów
PublicationW artykule scharakteryzowano właściwości szumów wybuchowych (RTS) w dziedzinie czasu i częstotliwości oraz omówiono stosowane metody identyfikacji szumów RTS. Przedstawiono konstrukcję systemu, do szybkiej identyfikacji szumów wybuchowych, zbudowanego w oparciu o metodę Noise Scattering Pattern (NSP). System składa się z głowicy pomiarowej, zawierającej spolaryzowany badany przyrząd półprzewodnikowy, filtru dolnoprzepustowego,...
-
Identyfikacja szumów wybuchowych w dziedzinie czasu
PublicationW referacie przedstawiony został system do pomiaru szumów własnych transoptorów. Badane transoptory typu CNY17 składają się z diody LED, fototranzystora i kanału optycznego. System pomiarowy zawiera 3 głowice pomiarowe i dlatego umożliwi pomiar szumów diod LED, fototranzystorów oraz całego elementu, czy transoptora.W referacie przedstawione zostały przykładowe wyniki pomiarów szumów własnych elementów składowych transoptora i transoptora...
-
SYSTEM IDENTYFIKACJI SZUMÓW RTS TRANSOPTORÓW CNY17
PublicationW artykule opisano zaprojektowany i wykonany system do identyfikacji szumów wybuchowych (RTS – Random Telegraph Signal) występujących w transoptorach typu CNY17. Z metod umożliwiających ocenę parametrów szumów wybuchowych wybrano do realizacji metodę Wzorów Obrazów Szumów – WOS (ang. Noise Scattering Patterns – NSP), która w sposób bardzo prosty pozwala na rozpoznawanie szumów o rozkładach wartości chwilowych gaussowskich i niegaussowskich....
-
Problemy pomiarów szumów diod z węglika krzemu
PublicationPrzedstawiono system do pomiaru szumów m.cz. diod Schottky'ego wykonanych z węglika krzemu (SiC) spolaryzowanych w kierunku przewodzenia i zaporowym, z uwzględnieniem specyfiki pomiaru szumów wybuchowych (RTS). Badane diody charakteryzują się wysokim prądem przewodzenia (do 12A) i wysokim napięciem zaporowym (typowo 600V i 1200V). Omówiono zagadnienia związane ze sposobami polaryzacji badanych diod i ich wpływ na wyniki pomiarów....
-
System do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych
PublicationPrzedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...
-
Metody zwiększenia czułości dwukanałowego systemu pomiaru szumów.
PublicationZnajomość właściwości szumowych elementów elektronicznych w zakresie małych częstotliwości, gdzie dominują szumy o widmie typu 1/f, stanowi efektywne narzędzie oceny jakości procesu technologicznego wytwarzania tych elementów oraz predykcji ich niezawodności. Przeprowadzenie dokładnych pomiarów parametrów i charakterystyk szumowych stwarza jednak często wiele problemów.
-
Metoda diagnozowania korozji metali na podstawie pomiarów szumów elektrochemicznych
PublicationPrzedstawiono metodę diagnozowania korozji metali przy wykorzystaniu wyników obserwacji fluktuacji prądu i napięcia (szumów elektrochemicznych), powodowanych reakcjami chemicznymi występującymi na powierzchni metali. Przedstawiono sposób pomiaru szumów elektrochemicznych za pomocą przygotowanych systemów pomiarowych. Podano wybrane metody analizy obserwowanych szumów, stosowane do oceny szybkości oraz rodzaju procesów korozji.
-
Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.
PublicationWe wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...
-
Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych
PublicationW publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów...
-
Pomiary szumów m.cz. tranzystorów MESFET z węglika krzemu
PublicationTranzystory MESFET z węglika krzemu typu CRF24010 (CRREE) są przyrządami mocy przeznaczonymi do pracy w zakresie wysokich częstotliwości. Ze względu na możliwość oceny technologii tych przyrządów, a także ich jakości celowe jest określenie ich właściwości szumowych w zakresie małych częstotliwości. Przedstawiono wyniki badań wykonanych w celu oceny właściowści szumowych tranzystorów MESFET z SiC oraz zaproponowano schemat szumowy...
-
Programowe metody zmniejszania zakłóceń w pomiarach szumów struktur elementów półprzewodnikowych.
PublicationOmówiono rodzaje zakłóceń w pomiarach szumów struktur elementów półprzewodnikowych, oraz metody zapobiegania. Opisano metodę programowego rozdzielania składowej losowej i okresowej sygnału pomiarowego oraz sposób eliminacji wpływu fluktuacji rezystancji kontaktów na wyniki pomiarów.
-
System do pomiaru szumów elementów optoelektronicznych w szerokim zakresie prądów
PublicationW artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych...
-
Identyfikacja i przetwarzanie cyfrowe sygnałów szumów RTS występujących w przyrządach półprzewodnikowych.
PublicationPrzedstawiono metody identyfikacji szumów RTS. Zaproponowano graficzną metodę identyfikacji tych szumów oraz sposób wyznaczania średnich czasów trwania inpulsów. Metodę oraz sposób wyznaczania średnich czasów trwania impulsów opisano na przykładzie oceny szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych z zakresu małych częstotliwości.
-
Systemy do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości
PublicationPrzedstawiono schemat blokowy systemu do pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych. Opisano najważniejsze podzespoły takiego systemu oraz ich wpływ na wyniki pomiaru szumów.
-
Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych.
PublicationW artykule przedstawiono metodę pomiaru szumów struktur tranzystorów submikronowych wykorzystującą przetwornik prąd-napięcie ze wzmacniaczem operacyjnym. Przedstawiono czynniki wpływające na dokładność prowadzonych pomiarów szumów oraz sposoby zmniejszania tego wpływu.
-
Szumowy model transoptora z uwzględnieniem źródeł szumów typu 1/f^alfa
PublicationW publikacji zaprezentowano ideowy zastepczy schemat szumowy transoptora. Schemat przedstawiono na podstawie wyników pomiarów szumów. Schemat zawiera wszystkie źródła szumów, które występują w diodzie LED, fototranzystorze oraz kanale optycznym. Zaprezentowano proces konstruowania modelu szumowego transoptora stoworzonego w programie typu SPICE. Makromodel pozwala modelować wartości parametru alfa, który wykorzystuje się opisu...
-
Ocena powiązań pomiędzy poziomem szumów 1/f diod mocy a ich napięciem przebicia.
PublicationNa podstawie przeprowadzonych badań można przyjąć, że diody mocy typu BYP680 mogą być klasyfikowane do grupy diod o podwyższonej jakości na podstawie wyników pomiaru szumów 1/f.
-
Pomiary szumów m.cz. diod Schottky'ego z węglika krzemu spolaryzowanych w kierunku przewodzenia
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów małej częstotliwości diod Schottky'ego wykonanych z węglika krzemu polaryzowanych w kierunku przewodzenia. Badania przeprowadzono dla diod o nominalnym prądzie przewodzenia IF od 2 A do 12 A.
-
Metoda oceny jakości transoptorów na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości
PublicationWe wstępie rozprawy doktorskiej przedstawiono aktualny stan wiedzy dotyczący zagadnień szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych, w szczególności transoptorów. Następnie przedstawiono ocenę parametrów statycznych transoptorów oraz ocenę współczynnika CTR i hFE. Jeden rozdział poświęcono opisowi stanowiska pomiarowego, które wykorzystano do pomiarów szumów własnych diod transoptorów, fototranzystorów transoptorów oraz transoptorów....
-
Interdyscyplinarne ujęcie problemu szumów usznych i wynikające z niego technologie elektronicznego wspomagania diagnostyki i terapii.
PublicationZaproponowano interpretację zjawiska powstawania szumów usznych w oparciu o teorię kwantowania sygnału fonicznego. Wskazano na realizowane aktualnie prace nad skonstruowaniem urządzenia opartego na generowaniu szumu maskującego typu dither, pracującego na częstotliwościach ponadsłyszalnych (ultradźwiękowych). Urządzenie tego typu jest aktualnie projektowane w Politechnice Gdańskiej we współpracy z Instytutem Fizjologii i Patologii...
-
Ocena jakości elementów z węglika krzemu metodą pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości
PublicationPrzedstawiono zagadnienie powiązania parametrów szumowych elementów elektronicznych z jakością ich wykonania. Przedstawiono stan badań intensywności metod oceny jakości elementów elektronicznych przez pomiar ich parametrów szumowych oraz propozycję ich zastosowania do oceny jakości elementów z węglika krzemu.
-
Application of nonlinearity measures to chemical sensor signals
PublicationSzumy rezystancji sensorów gazu zawierają istotną informację, która może być przedstawiona nie tylko przez ich gęstość widmową mocy. Analiza tych szumów za pomocą różnych miar nieliniowości może prowadzić do znacznego wzrostu selektywności i czułości czujników gazu. Stwierdzono, że dla dostępnych na rynku czujników gazu zastosowanie funkcji bispektrum dostarcza dodatkowej informacji, potrzebnej do detekcji różnych gazów. Analizując...
-
Optimal wavelet choice in electrochemical experiments
PublicationW ostatnich latach obserwuje się wzrost zainteresowania łączeniem eksperymentów elektrochemicznych z nowoczesnymi technikami analizy sygnałów. Jednym z najbardziej obiecujących kierunków jest analiza falkowa. W omawianym przypadku istnieje wybór pomiędzy różnymi rodzinami falek w zależności od wymogów danego eksperymentu. W pracy omówione zostały wyniki zastosowania różnych typów falek do analizy szumów elektrochemicznych o różnym...
-
Analysis of electrochemical noise by means bispectral techniques
PublicationProcesy o charakterze nieliniowym są często spotykane w praktyce pomiarów elektrochemicznych oraz korozyjnych. Przykładem mogą być procesy elektrodowe kontrolowane aktywacyjnie, dla których często stosowanym podejściem jest linearyzacja. W niniejszym, wprowadzającym doniesieniu przedstawione zostały możliwości analizy nieliniowości szumu elektrochemicznego z wykorzystaniem widm wyższych rzędów. W pracy przedstawiono wyniki analizy...
-
Zwiększenie czułości systemu do pomiaru szumów metodą korelacyjnej analizy widmowej. Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice. XII cykl seminariów zorganizowanych przez PTETiS, Oddział Gdańsk.
PublicationPrzedstawiono dwukanałowy system do pomiaru szumów o bardzo niskim poziomie metodą bezpośrednią. W celu poprawy dokładności pomiaru koherencji między mierzonymi w obu kanałach za pomocą wzmacniaczy transimpedancyjnych prądami szumów proponowany jest dodatkowy etap pomiaru z wykorzystaniem przedwzmacniacza napięciowego oraz włączenie w kanale wejściowym pomiędzy mierzonym czwórnikiem a wzmacniaczem transimpedancyjnym wzmacniacza...
-
On the possibility of the application of magnetoacoustic emission intensity measurements for the diagnosis of thick-walled objects in the industrial environment
PublicationArtykuł przedstawia wyniki pomiarów sygnału emisji magnetoakustycznej (EMA) wykonanych na obiektach grubościennych w środowisku przemysłowym oraz omawia możliwe sposoby jego dalszej analizy. Pomimo tego, ze bezpośredni pomiar sygnału EMA nie pozwala na określenie jego natężenia w artykule wykazano, że możliwa jest separacja użytecznego sygnału od szumów tła albo poprzez analogowe filtrowanie sprzętowe albo poprzez cyfrową analizę...
-
Piece-wise constant approximation method of identification of RTS noise
PublicationPrzedstawiono nową metodę wydzielania szumów RTS z całkowitych szumów przyrządów półprzewodnikowych. Metoda ta oparta jest na aproksymacji liniowo odcinkowej przebiegu szumowego.Przedstawiono wyniki zastosowania tej metody do wydzielenia dwupoziomowego szumu RTS z szumu przyrządu półprzewodnikowego.
-
Low frequency noise measurements in advanced silocon devices.**2003, 136 s.116 rys. bibliogr. 29 poz. maszyn. Pomiary małoczęstotliwościowych szumów zaawansowanych elementów krzemowych. Rozprawa doktorska /15.04.2003./ Inst. Natl. P. Grenoble Promotorzy: prof. dr hab. inż. L. Spiralski, dr CNRS G. Ghibaudo.
PublicationW pracy przedstawiono automatyczny system do pomiarów małoczęstotliwoscio-wych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. System umożliwia automa-tyczne wyznaczanie charakterystyk stałoprądowych badanego elementu, pomiarszumów i wyznaczanie gęstości widmowej mocy w zadanym zakresie polaryzacji.Przytoczono wyniki przeprowadzonych testów systemu. Ważną składową pracy wy-niki pomiarów szumów tranzystorów MOS i bipolarnych...
-
Noise of optoelectronic coupled devices.
PublicationOpisano trzy systemy do pomiaru szumów transoptora a mianowicie: system do pomiaru szumów m. cz. diod LED, system do pomiaru szumów m. cz. fototranzystorów oraz system do pomiaru szumów m. cz. transoptorów. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów m. cz. próby 13 transoptorów. Określono współczynnik korelacji między intensywnością szumów a wybranymi parametrami stałoprądowymi tych transoptorów.
-
Noise of optoelectronic coupled devices.
PublicationOpisano dwa systemy do pomiaru szumów transoptorów. System do pomiaru szumów fototranzystora oraz system do pomiaru szumów transoptora. Przedstawiono porównanie wyników pomiarów szumów 27 transoptorów trzech różnych producentów.
-
High-performance analog circuits : bipolar noise
PublicationOmówiono typowe źródła szumów występujące w tranzystorach bipolarnych, a mianowicie: cieplne, śrutowe, generacyjno-rekombinacyjne, 1/f, 1/f2, wybuchowe (RTS),lawinowe. Przedstawiono szumowy schemat zastępczy tranzystora bipolarnego oraz opisano wydajności poszczególnych źródeł szumów. Przytoczono informacje o zastępczej rezystancji tranzystora szumów oraz współczynniku szumów.
-
Właściwości szumowe piroelektrycznych detektorów podczerwieni.
PublicationW artykule omówiono specyfikę pomiaru szumów małoczęstotliwościowych piroelektrycznych detektorów podczerwieni. Opisano sysytem umożliwiający pomiary szumów w zakresie częstotliwości od 0.1 Hz do 30 kHz. Przytoczono przykładowe wyniki pomiarów szumów.
-
Szumy z zakresu małych częstotliwości - Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych
PublicationPrzedstawiono ogólną ideę oceny jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów z zakresu małych częstotliwości. Szczegółowe rozważania ograniczono do szumów przyrządów półprzewodnikowych. Przedstawiono zagadnienia związane ze źródłami szumów z zakresu m.cz., metod pomiaru szumów własnych, systemów do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych. Opisano metody klasyfikacji przyrządów do grup o zróżnicowanej jakości....
-
Badanie stacjonarności przebiegów szumowych w transoptorach cny 17
PublicationPrzedstawiono wyniki badań stacjonarności przebiegów szumów własnych diod transoptorów i transoptorów. Ocena stacjonarności szumów własnych z zakresu małych częstotliwości badanych przyrządów dotyczyła stacjonarności parametrów statystycznych szumów własnych: wartości średniej, wariancji, skośności i kurtozy. Stwierdzono, że parametry statystyczne spełniają test stacjonarności, zarówno dla diod transoptorów, jaki i dla transoptorów,...
-
A method of two-terminal excess noise measurement with a reduction of measurement system and contact noise
PublicationPrzedstawiono metodę i system do pomiaru szumów nadmiarowych dwójników elektrycznych ze znaczną redukcją wpływu szumów własnych systemu pomiarowego i szumów kontaków. Proponowana metoda może byc zastosowana do pomiaru szumów elementów z wyprowadzonymi końcówkami, bądź też struktur, gdy jako wzorcowy szum odniesienia może zostać zastosowany szum struktury rezystywnej wytworzonej bezpośrednio na strukturze w otoczeniu elementu testowanego.
-
A Model for Low Frequency Noise Generation in MOSFETs.
PublicationPrzedstawiono model generacji szumów małoczęstotliwosciowych tranzystora MOS. Model został użyty do symulacji szumów cienkotlenkowych tranzystorów MOS. Wyniki symulacji porównano z danymi pomiarowymi. Zaprezentowano sposób wykorzystania pomiarów szumów m.cz. do wyznaczania niektórych parametrów charakteryzujących tranzystory MOS.
-
Measurement of noise parameter set in the low frequency range: requirements and instrumentation.
PublicationOpisano dwa podstawowe szumowe modele metrologiczne czwórnika: ze źródłami szumów odniesionymi do wejścia i ze zwarciowymi prądami szumów. Parametry szumowe opisujące modele zawierające korelację pomiędzy prądami i/lub napięciami są mierzone przy zastosowaniu metod bezpośrednich i pośrednich. Przedstawiono kilka technik redukcji szumów własnych systemu pomiarowego. Szerzej zaprezentowano dwukanałowy system do pomiaru szumów z komputerowym...
-
Spektroskopia szumowa. Część I. System pomiarowy, badania struktur półprzewodnikowych.
PublicationOpisano zakres szczegółowych badań sygnałów szumowych w spektroskopii. Przedstawiono system do pomiaru szumów i warunki pomiaru sygnałów szumowych. Podano jak zastosowanie analizy szumów małoczęstotliwościowych może stanowić narzędzie w wykrywaniu wad montażu przyrzadów półprzewodnikowych. Pomiary ostrzowe szumów struktur półprzewodnikowych stanowią jeden z elementów tej analizy.
-
Tinnitus diagnosis and therapy method employing ultrasound dithering.
PublicationZaproponowano interpretację sposobu powstawania szumów usznych w oparciu o teorię kwantyzacji sygnału. Przedstawiono stan prac nad urządzeniem ultradźwiękowym do maskowania szumów usznych, opartym na tej teorii.
-
Design of low noise preamplifers for characterization of LSCO bolometers
PublicationW artykule przedstawiono wymagania stawiane układom do pomiaru szumów bolometrów. Ze względu na niski poziom mierzonych szumów układy te wymagają zastosowania niskoszumnych przedwzmacniaczy i układów ustalających punkt pracy badanych detektorów. Omówiono konstrukcje dwóch przedwzmacniaczy z zintegrowanymi układami polaryzacji. Przedstawiono wyniki pomiarów szumów w zakresie częstotliwości 10-90Hz. Przedstawiono możliwości ulepszenia...
-
Fluctuation - enchanced chemical sensing
PublicationCzułość i selektywność sensorów gazu może ulec poprawie jednocześnie gdy wykorzysta się informację zawartą w szumach występujących w sensorze. W pracy opisano szczegółowo kilka metod stosowanych do analizy szumów sensorów gazu. Przedstawiono wyniki ostatnich eksperymentów przeprowadzonych na komercyjnych sensorach gazu Taguchi, sensorach SAW oraz MOS-FET.
-
Gas detection in semiconductor sensors using fluctuation phenomena
PublicationRozpatrzono problemy pomiaru szumów, kóre należy rozwiązać, gdy szumy traktuje się jako dodatkowe źródło informacji o gazach. Metoda szumowa (spektroskopia szumów rezystancyjnych, widma wyższych rzędów) daje więcej informacji polepszając czułość i seleKtywność czujnika.
-
The current amplifier in low frequency noise measurements; Absolute calibration and rigorous 1/f noise extraction for MOSFET´s
PublicationPrzedstawiono budowę wzmacniacza prądowego i sposób obliczania szumów wyjściowych przy dołączonym do wejścia rezystorze wzorcowym. Przedstawiono wyniki eksperymentów potwierdzających prawidłowość przyjętego sposobu postępowania. Zaproponowano metodę wyznaczania składowej 1/f szumów drenu tranzystora MOSFET.
-
Gas sensing by thermoelectric voltage fluctuations in SnO2 nanoparticle films
PublicationPrzedstawiono eksperymentalne wyniki wykrywania gazów za pomocą badania fluktuacji napięcia termoelektrycznego w warstwie SnO2 przygotowanej z jednorodnych ziaren o średnicy 20 nm. Obserwowano fluktuacje napięcia bez zewnętrznej polaryzacji warstwy SnO2. Intensywność obserwowanych fluktuacji przekraczała 1000-krotnie intensywność szumów termicznych. Obserwowane zjawisko może byc wykorzystane do zwiększenia czułości wykrywania...
-
Spektroskopia szumowa. Część II. Badania przyrządów półprzewodnikowych, szumy elektrochemiczne i emisja akustyczna w diagnostyce.
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiaru szumów 1/f tranzystorów z GaAs i ich analizę w spektroskopii. Opisano procedurę klasyfikacji na grupy o zróżnicowanej jakości półprzewodnikowych elementów mocy na podstawie wyników pomiaru szumów małoczęstotliwościowych. Szumy elektrochemiczne stanowią dogodne narzędzie do analizy korozji, zwłaszcza korozji wżerowej. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów ogniw słonecznych i ich porównanie z analizą niejednorodności...