Filters
total: 1360
-
Catalog
- Publications 905 available results
- People 32 available results
- Inventions 13 available results
- Projects 17 available results
- Laboratories 5 available results
- Research Teams 1 available results
- Research Equipment 4 available results
- e-Learning Courses 23 available results
- Events 1 available results
- Open Research Data 359 available results
displaying 1000 best results Help
Search results for: POMIAR GRUBOŚCI WARSTW
-
Pomiary grubości cienkich warstw metodą modulacji chromatycznej.
PublicationTematem artykułu jest pomiar grubości struktur cienkowarstwowych szerokostosowanych w optoelektronice, transparentnych warstw dielektrycznych. Grubość jest najistotniejszym parametrem warstwy i determinuje jej właściwościoptyczne. Metoda pomiaru grubości cienkich warstw powinna być bezkontaktowa, nieniszcząca, niekosztowna oraz odporna na zakłócenia
-
Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych.
PublicationW artykule opisano problemy związane z określaniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne, oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej. Opisano praktyczne układy, umożliwiające pomiary...
-
Wpływ współczynnika promienia walca i stosunku grubości warstw na odkształ- cenie warstwy twardej. The influence of radius of rolls coefficient and re-lations of thickness layers at the deformation of hard layers of bimetalic plate
PublicationW pracy przedstawiono analizę numeryczną walcowania blachy platerowanej 18 G2A i 0H18N10T. Wytwarzanie blach dwuwarstwowych jest procesem trudnym do rozwiązania na drodze teoretycznej. Do analizy procesu wykorzystano program Forge 2 oparty na teorii elementów skończonych. Artykuł przedstawia wpływ wartości współczynnika promienia walcaH/R i stosunku grubości warstw HT/HM na charakter rozkładu odkształceń blachy dwuwarstwowej.
-
Chromatic monitoring technique for thickness measurementof thin transparent films.IV Workshopon Atomic and Molecular Physics.
PublicationW pracy opisano nową technikę monitorowania grubości cienkich warstw podczas procesu ich syntezy. Jest to optyczna metoda oparta na zdegenerowanej analizie widmowej tzw. modulacji chromatycznej. Umożliwia ona precyzyjny ciągły pomiar zmian grubości wzrastających warstw stosowanych w optyce.
-
Effect of temperature and gaseous medium on the structure and microhardness of the cobalt base clad layers
PublicationBadano wpływ temperatury utleniania na mikrostrukturę i mikrotwardość napawanych warstw ze stopu kobaltu. Warstwy wytwarzano za pomocą napawania plazmowego (pta) na przylgniach zaworów wylotowych wykonanych ze stali x40CrSiMo10-2. Stop kobaltu był poddany utlenianiu w powietrzu w temperaturach od 750 °C to 1100 °C i w gazach wylotowych w temperaturze 750 °C. W wyniku utleniania zaobserwowano zmanę w mikrotwardości warstw. W zewnętrznej...
-
Zastosowanie interferometrii niskokoherentnej do jednoczesnego pomiaru grubości i współczynnika załamania struktur warstwowych
PublicationW pracy przedstawiono techniki oparte na interferometrii niskokoherentnej jednoczesnego pomiaru współczynnika załamania i grubości struktur warstwowych. Zaproponowano dwie metody: pierwsza oparta jest na pomiarze położenia górnej powierzchni granicznej warstwy i jej grubości optycznej (położenie dolnej powierzchni granicznej powinno być znane wcześniej); druga oparta jest na wykorzystaniu dynamicznego ogniskowania wiązki laserowej....
-
Piotr Jasiński prof. dr hab. inż.
PeoplePiotr Jasinski obtained MSc in electronics in 1992 from the Gdansk University of Technology (GUT), Poland. Working at GUT, he received PhD in 2000 and DSc in 2009. Between 2001 and 2004 Post Doctoral Fellow at Missouri University of Science and Technology, while between 2008 and 2010 an Assistant Research Professor. Currently is an Associate Professor at Gdansk University of Technology working in the field of electronics, biomedical...
-
Electrical conductivity of NbN-SiO2 films obtained by ammonolysis of Nb2O5-SiO2 sol-gel derived coatings
PublicationW pracy przedstawiono badania przewodnictwa elektrycznego (w zakresie 5-280K) warstw NbN-SiO2 o grubości 450 nm. Warstwy uzyskano poprzez azotowanie otrzymanych metodą zol-żel warstw Nb2O5-SiO2, o różnym stosunku molowym Nb2O5/SiO2. Azotowanie takich warstw w temperaturze 1200C prowadzi do otrzymania metalicznych granul NbN w amorficznej matrycy SiO2. Struktura warstw była badana mikroskopem sił atomowych (AFM) oraz metodą dyfrakcji...
-
Analysis of radial run-out of circular saw's cutting blades
PublicationW pracy przedstawiono analizę bicia promieniowego ostrzy pił tarczowych w procesie przecinania drewna. Analizę przeprowadzono na podstawie zróżnicowania grubości warstw skrawanych przez poszczególne ostrza piły. Dla przykładowej piły, zaprezentowano wyniki obliczeń przebiegów grubości warstw skrawanych przez poszczególne ostrza i grubości całkowitej warstwy skrawanej dla całej piły.
-
Spękania niskotemperaturowe warstw asfaltowych nawierzchni.
PublicationNiniejsza praca doktorska dotyczy spękań niskotemperaturowych warstw asfaltowych nawierzchni powodowanych spadkami temperatury występującymi w okresie mroźnych zim. Skutkiem obniżania się temperatury jest pojawienie się skurczu termicznego, który z uwagi na ograniczone przemieszczenia warstw asfaltowych w konstrukcji nawierzchni powoduje powstanie naprężeń termicznych. Wzrost wartości naprężeń termicznych następuje do momentu,...
-
Porównanie grubości typowych nawierzchni podatnych i półsztywnych Polski i wybranych krajów Europy
PublicationArtykuł przedstawia porównanie grubości warstw nawierzchni z katalogów Austrii, Francji, Niemiec i Polski oraz zaprojektowanych według metody brytyjskiej. Porównano nawierzchnie na podbudowach z kruszywa łamanego, całkowicie asfaltowe oraz na podbudowach z materiałów związanych cementem. Przeprowadzona analiza wykazała, że polskie nawierzchnie katalogowe są grubsze od wszystkich pozostałych w takich samych warunkach obciążenia...
-
Superconducting properties of an NbN-SiO2 disordered system obtained by ammonolysis of NbN-SiO2 sol-gel derived coatings
PublicationW pracy przedstawiono wyniki badań właściwości nadprzewodzących warstw NbN-SiO2. Warstwy uzyskano poprzez azotowanie w temperaturze 1200C otrzymanych metodą zol-żel warstw Nb2O5-SiO2, o różnym stosunku molowym Nb2O5/SiO2. Badania rezystywne przeprowadzono w zakresie temperatur 5-280K. Przeprowadzono również badania absorpcji mikrofal (MMMA). Właściwości nadprzewodzące otrzymanych próbek silnie zależą od grubości warstw jak również...
-
Spękania niskotemperaturowe warstw asfaltowych nawierzchni
PublicationPraca ta stanowi przegląd dotychczasowych prac badawczych polskich i zagranicznych w zakresie odporności mieszanek mineralno-asfaltowych na spękania niskotemperaturowe. Autor przedstawił różne czynniki (materiałowe, środowiskowe, związane z konstrukcją nawierzchni i inne) wpływające na powstawanie spękań niskotemperaturowych. Omówiono rozkład temperatury na grubości warstw bitumicznych. Dokonano przeglądu laboratoryjnych metod...
-
Modele spękań zmęczeniowych warstw asfaltowych nawierzchni drogowych w mechanistyczno-empirycznej metodzie AASHTO 2004
PublicationArtykuł przedstawia modele zmęczeniowe wg metody AASHTO 2004 do spękań typu ''z dołu do góry'' (bottom - up) i ''z góry do dołu'' (top - down). Omawia wpływ grubości warstw i charakteru obciążenia warstwy asfaltowej na spękania zmęczeniowe. Podaje zależności między ilością spękań i szkodą zmęczeniową.
-
Setups for measurement of thermal time constant of bolometers and resistive layers
PublicationPrzedstawiono dwa układy do pomiaru termicznej stałej czasowejbolometrów i warstw rezystywnych, umożliwiające pomiar wartości tego parametru w zakresie od pojedynczych milisekund do kilku sekund. Przedstawiono wyniki pomiarów termicznej stałej czasowej wybranych warstw rezystywnych wykonanych w technologii LTCC z niestechiometrycznych tlenków lantanowo-strontowo-żelazowych oraz bolometru cienkowarstwowego wykonanego w tej samej...
-
Characterization of PLZT Thin Films for Fast Electro-Optical Sampling Circuits
PublicationW artykule omówiono technologię wytwarzania cienkich warstw wybranych kompozycji ceramik ołowiowo-lantanowo-cyrkonowo-tytanowych, nazywanych ceramikami PLZT. Przedstawiono wyniki badań jakości warstw za pomocą techniki XRD. wyniki pomiaru grubości warstw, ich względnej przenikalności dielektrycznej i współczynnika załamania. Omówiono kierunki dalszych prac.
-
WOPT-uniwersalny system do analizy i symulacji widm optycznych cienkich struktur dielektrycznych
PublicationPrzedstawiono system WOPT umożliwiający symulację złożonych, dielektrycznych powłok cienkowarstwowych. Oprogramowanie służy zarówno do projektowania specjalistycznych wielowarstwowych powłok optycznych jak i do kontroli parametrów gotowych produktów cienkowarstwowych. Za pomocą programu można wykonać analizę grubości oraz optycznych parametrów materiałowych powłok dielektrycznych na postawie wykonanych pomiarów spektralnych. Wykonano...
-
Superconductivity of 80NbN-20SiO2 granular films
PublicationPraca przedstawia badania właściwości nadprzewodzących warstw 80%NbN-20%SiO2 (procent molowy) o różnej grubości otrzymanych metodą zol-żel. Przejście nadprzewodzące badanych warstw mierzone w polu magnetycznym jest szerokie, co wyjaśnione zostało termicznie aktywowanym płynięciem pola magnetycznego wnikającego do próbki. W wysokich polach zaobserwowano w badanych warstwach indukowane polem magnetycznym przejście nadprzewodnik -...
-
Structure and superconductivity of VN-SiO2 films obtained by thermal nitridation of sol-gel derived coatings
PublicationPraca prezentuje wyniki badań strukturalnych oraz właściwości nadprzewodzących cienkich warstw xVN-(100-x)SiO2, gdzie x = 90, 80, 70, 60 mol%. Warstwy zostały wykonane metodą termicznego azotowania z użyciem amoniaku cienkich warstw tlenkowych otrzymanych metodą zol-żel. Badania struktury przeprowadzono metodami XRD oraz XPS, natomiast właściwości nadprzewodzące badano metodą MMMA. Właściwości nadprzewodzące warstw zależą zarówno...
-
Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT
PublicationW artykule omówiono konstrukcje elektrooptycznych układów próbkujących wykorzystujących ceramikę PLZT. Zaprezentowano także zagadnienia związane z pomiarami istotnych parametrów cienkich warstw tej ceramiki - grubości warstwy, współczynnika załamania i współczynnika elektrooptycznego. Przedstawiono kierunki dalszych prac.