Rok 2003

• A metrological analysis of the input circuit of an impedance meter.

  Publikacja

  • J. Hoja

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2003

  W pracy przeprowadzono analizę obwodu wejściowego miernika impedancji W analizie obwodu wejściowego, uwzględniono najważniejsze czynniki wpływające na sygnały na jego wejściu: parametry zmiennoprądowe zastosowanych wzmacniaczy, rezystancję zakresową przetwornika prąd-napięcie, pojemności montażowe. Przeprowadzono symulację sygnałów wydzielanych w obwodzie dla różnych wartości pojemności pasożytniczych, następnie dokonano badań...

• O działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk w roku 2002

  Publikacja

  • E. Ratajczyk
  • R. Zielonko
  • J. Tomasik

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2003

  Przedstawiono skład osobowy oraz struktury działalności Komitetu Metrologii Aparatury Naukowej PAN. Opisano bardziej szczegółowo działalność naukową i organizacyjną, aktywność konferencyjną krajową i międzynarodową oraz aktywność wydawniczą w roku 2002.

• On the use of bilinear transformation for parameter identification of anticorrosion coatings

  Publikacja

  • J. Hoja
  • G. Lentka
  • R. Zielonko

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2003

  W artykule przedstawiono metodę identyfikacji parametrów powłok antykorozyjnych modelowanych wieloelementowymi układami zastępczymi. Metoda wykorzystuje właściwości przekształcenia biliniowego, które umożliwia przedstawienie funkcji układowej wieloparametrowego modelu jako funkcji każdego indywidualnego parametru. Odwrotne przekształcenie biliniowe pozwala na wyznaczenie wartości każdego z parametrów modelu z osobna na podstawie...

• Some methods of diagnosis of analog circuit using mixed signal test bus IEEE 1149.4

  Publikacja

  • B. Bartosiński
  • W. Toczek

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2003

  W artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych:...

• Spatial sensitivity to the conductivity changes of a four electrode probe.

  Publikacja

  • J. Wtorek

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2003

  W artykule rozważana jest czułość przestrzenna, czteropunktowej, liniowej sondy na zmiany przewodności zachodzące w badanym materiale. Otrzymane wyniki wskazują, że czułość może być zarówno dodatnia i ujemna, tzn. wzrost przewodności może prowadzić zarówno do wzrostu lub do spadku mierzonej impedancji. W artykule rozważane są materiały zarówno izotropowe jak i anizotropowe. Uzyskane wyniki pozwalają wyjaśnić dlaczego niektóre...

Rok 2002

• Conditions for measurement, analog-to-digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface

  Publikacja

  • A. Boryczko

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2002

  Przedstawiono uwarunkowania pomiaru, przetwarzania analogowo-cyfrowego i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Przedstawiono ograniczenia w pomiarze igłą, która odwzorowuje nierówności poprzeczne. Podano zależności parametrów pomiaru cyfrowego nierówności warunkujące zakresy ich rozpatrywania. Dla wartości przedziału próbkowania, dla którego nie jest spełnione...

• Filtering of interference signals of grounding resistance measurement with subharmonic method

  Publikacja

  • M. Wołoszyk

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2002

  Omówiono metodę filtracji zakłóceń o częstotliwości sieciowej wraz z wyższymi harmonicznymi poprzez zastosowanie metody szczególnego próbkowania z podharmonicznym sygnałem pomiarowym.

• Finding the protection of lighting grounding with estimating its impulse impedance componets

  Publikacja

  • M. Wołoszyk
  • M. Galewski
  • S. Wojtas

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2002

  Omówiono metodę rozdzielania składowych impedancji udarowej uziemień. Podano wskazania dotyczące oceny jakości ochrony odgromowej na podstawie wartości składowych impedancji udarowej.

• Measurement microsystem for high impedance spectroscopy of anticorrosion coatings

  Publikacja

  • J. Hoja
  • G. Lentka
  • R. Zielonko

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2002

  W artykule przedstawiono mikrosystem do pomiarów bardzo dużych impedancji ukierunkowany na identyfikację parametrów powłok antykorozyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych zastosowano w nim technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na uzyskanie szerokiego zakresu częstotliwości pomiarowych, zwłaszcza bardzo niskich, od ćHz, przy zachowaniu prostej konstrukcji...

• Neural networks in the diagnostics of induction motor rotor cages.

  Publikacja

  • L. Swędrowski

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2002

  W środowisku Lab VIEW została stworzona aplikacja służąca do pomiaru, prezentacji i zapisu przebiegów widma prądu stojana z uwzględnieniem potrzeb pomiarowych występujących podczas badania wirników silników indukcyjnych przy użyciu sieci neuronowych. Utworzona na bazie zbioru uczącego sieć Kohonena z powodzeniem rozwiązała stawiany przed nią problem klasyfikacji widm prądu stojana, a co za tym idzie również diagnozy stanu...

• Stereometry of turned surfaces in a frequency-domain formulation of profile irregularities

  Publikacja

  • A. Boryczko

  - Metrology and Measurement Systems - Rok 2002

  Przedstawiono częstotliwościowe składowe nierówności powierzchni toczonych. Ponieważ nierówności mają charakter szerokopasmowy, trudny do wartościowania parametrami normatywnymi, zastosowano ich analizę amplitudowo-częstotliwościową, opartą na szybkiej transformacie Fouriera. Przedstawiono kształtowanie nierówności wzdłużnych dla toczenia. Zaproponowano oryginalny układ pomiaru sygnału przemieszczeń narzędzia względem przedmiotu...