Wyniki wyszukiwania dla: TESTOWANIE UKŁADÓW ANALOGOWYCH

• Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2005

  Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...

• Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2007

  Zaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje...

• Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Rok 2009

  Praca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...

• Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2011

  Przedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...

• Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2002

  Omówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.

• System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych

  Publikacja

  • M. Kowalewski

  - Rok 2005

  Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...

• Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej

  Publikacja

  • R. Zielonko
  • M. Kowalewski

  - Rok 2007

  Na tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...

• Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Pomiary Automatyka Robotyka - Rok 2002

  W pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena, metodą oscylacyjną oraz metodą transformacji biliniowej. W badaniach użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę. Do pomiarów zastosowano wektorowego oraz multimetr...

• Identyfikacja parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem sztucznych sieci neuronowych

  Publikacja

  • M. Kowalewski

  - Rok 2005

  Przedmiotem artykułu jest metoda identyfikacji parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. Testowany układ pobudzany jest sygnałem pomiarowym zoptymalizowanym za pomocą algorytmu genetycznego. Identyfikacja parametrów funkcjonalnych polega na odwzorowaniu wyników pomiarów odpowiedzi układu w dziedzinie czasu w przestrzeń parametrów funkcjonalnych z wykorzystaniem sztucznej sieci neuronowej....

• Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2003

  Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych...