Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 15
wybranych: 7
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE
-
Noise in semiconductor devices
PublikacjaOmówiono typowe źródła szumów występujące w przyrządach pólprzewodnikowych, a mianowicie: cieplne, śrutowe, generacyjno-rekombinacyjne, 1/f, 1/f2, wybuchowe (RTS), lawinowe. Przedstawiono szumowe schematy zastępcze tranzystora bipolarnego, JFET i MOSFET oraz opisano wydajności poszczególnych źródeł szumów. Zasugerowano jak dobierać przyrządy półprzewodnikowe do małoszumowych układów w zakresie małych częstotliwości.
-
Charakterystyka tranzystorów z węglika krzemu w wysokosprawnych przekształtnikach
PublikacjaPółprzewodnikowe przyrządy mocy z węglika krzemu (SiC) osiągnęły poziom technologiczny umożliwiający powszechne stosowanie w układach przekształtnikowych. W artykule omówiono ostatnie osiągnięcia dotyczące układów przekształtnikowych z przyrządami z węglika krzemu oraz wybrane wyniki badań realizowane na Politechnice Gdańskiej. W artykule opisano właściwości statyczne i dynamiczne tranzystorów MOSFET i JFET z węglika krzemu oraz...
-
Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych
PublikacjaW publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów...
-
Szumy z zakresu małych częstotliwości - Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych
PublikacjaPrzedstawiono ogólną ideę oceny jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów z zakresu małych częstotliwości. Szczegółowe rozważania ograniczono do szumów przyrządów półprzewodnikowych. Przedstawiono zagadnienia związane ze źródłami szumów z zakresu m.cz., metod pomiaru szumów własnych, systemów do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych. Opisano metody klasyfikacji przyrządów do grup o zróżnicowanej jakości....
-
Zasługi Profesora Michała Białki w kształtowaniu krajowej kadry naukowej w zakresie miernictwa półprzewodników.
PublikacjaPrzedstawiono działalność naukowo-badawczą w Ośrodku Miernictwa Półprzewodników w Politechnice Gdańskiej w latach 1955-2003. Omówiono zakres tema- tyki naukowej podejmowanej z inicjatywy prof. zw. dr hab. Michała Białki i Jego zasługi i osiągnięcia w kształceniu krajowej kadry na poziomie doktora i doktora habilitowanego.
-
RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices
PublikacjaPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na...
-
Przyrząd wirtualny do wykrywania szumów wybuchowych w przyrządach półprzewodnikowych metodą obrazowania szumów
PublikacjaW artykule scharakteryzowano właściwości szumów wybuchowych (RTS) w dziedzinie czasu i częstotliwości oraz omówiono stosowane metody identyfikacji szumów RTS. Przedstawiono konstrukcję systemu, do szybkiej identyfikacji szumów wybuchowych, zbudowanego w oparciu o metodę Noise Scattering Pattern (NSP). System składa się z głowicy pomiarowej, zawierającej spolaryzowany badany przyrząd półprzewodnikowy, filtru dolnoprzepustowego,...