Search
dr inż. Bogdan Bartosiński
Publications
Filters
total: 22
Catalog Publications
Year 2016
-
A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus
PublicationA new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for...
Year 2014
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
PublicationPrzedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...
Year 2013
-
Using an IEEE1149.1 Test Bus for Fault Diagnosis of Analog Parts of Electronic Embedded Systems
PublicationThe new solution of a BIST called the JTAG BIST for self-testing of analog parts of electronic embedded systems is presented in the paper. The JTAG BIST consists of the BCT8244A and SCANSTA476 integrated circuits of Texas Instruments controlled via the IEEE 1149.1 bus. The BCT8244A is a scan test device with octal buffers, and the SCANSTA476 is a 12-bit ADC with 8 analog input channels. Self-testing approach is based on the fault...
Year 2011
-
Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7
PublicationPrzedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...
Year 2010
-
Application of Complementary Signals in Built-In Self Testers for Mixed-Signal Embedded Electronic Systems
PublicationThis paper concerns the implementation of shape-designed complementary signals (CSs), matched to the frequency characteristic of the circuit under test, in built-in self testers (BISTs), dedicated to mixed-signal embedded electronic systems for testing their analog sections. The essence of the proposed method and solution of CS BIST is low-cost realization on the base of hardware and software resources of microcontrollers used...
-
Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących
PublicationPrzedstawiono najnowsze trendy w dziedzinie testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem opartych na brzegowej ścieżce sterująco-obserwacyjnej magistral testujących. Dla każdej magistrali przedstawiono jej strukturę oraz rozwiązania kluczowych elementów. Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych z użyciem wyposażonych w magistralę...
Year 2009
-
Fault detection in electronic circuits using test buses
PublicationA survey of test buses designed for diagnostics of digital and analog electronic circuits is presented: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled complex digital circuits. Each bus is presented with its structure, solution of key elements, particularly boundary registers and a set of test instructions. Diagnosis with the use of the described buses is...
Year 2008
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublicationPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
Year 2007
-
Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
PublicationPrzedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji...
-
Zastosowanie magistrali testującej IEEE 1149.6 do diagnostyki układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo
PublicationPrzedstawiono magistralę ułatwionego testowania standardu IEEE 1149.6 przeznaczoną do diagnostyki złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano metody transmisji sygnałów cyfrowych o b. wysokich częstotliwościach, a następnie przedstawiono rozwiązania kluczowych elementów magistrali: komórkę brzegowego rejestru wyjściowego z nadajnikiem sygnałów testowych oraz detektor sygnałów różnicowych o sprzężeniu pojemnościowym....
Year 2006
-
Implementacja mikroserwerowa TCP/IP w systemie diagnostycznym bazującym na cyfrowej magistrali testujacej IEEE 1149.1
PublicationPrzedstawiono mikrosystem pomiarowo-diagnostyczny sterowany przez Internet i pozwalający na zdalne testowanie układów analogowych. Do realizacji mikrosystemu wykorzystano kontroler ethernetu RTL8019AS, mikrokontroler PIC18F4620 oraz wyposażony w magistralę IEEE 1149.1 i przetwornik analogowo-cyfrowy układ scalony SCANSTA476. Aplikacja pozwala na przeprowadzanie zdalnego pomiaru napięcia w 8 wybieranych programowo punktach. Obszarem...
Year 2005
-
Measurements of passive components using of an IEEE 1149.4 mixed-signal test bus
PublicationW pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę układów scalonych typu STA400. Zaprezentowano metody pomiaru rezystancji pojedynczych elementów z wykorzystaniem źródła prądowego oraz źródła VH znajdującego się w analogowych modułach ABM układu STA400. Pokazano...
-
Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych
PublicationPrzedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...
-
Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...
-
Wykorzystanie technik testowania magistralowego układów cyfrowych i analogowych w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej
PublicationW referacie zaprezentowano metodykę nauczania oraz aspekty techniczne ćwiczeń w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej, prowadzonym dla studentów piątego roku specjalności Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Metodyka ćwiczeń oparta jest na wykorzystaniu metod symulacji komputerowej oraz praktycznych badaniach na stanowiskach...
Year 2004
-
Metody pomiaru elementów pasywnych z wykorzystaniem układów STA400 wyposażonych w magistralę testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów...
-
Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.
PublicationPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...
-
Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.
PublicationPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...
-
Zastosowanie komputerów w Laboratorium Metrologii i Techniki Eksperymentu.
PublicationW artykule przedstawiono metodykę nauczania oraz aspekty techniczne nowej edycji ćwiczeń w Laboratorium Metrologii i Techniki Eksperymentu. Metodyka ta oparta jest na komputerowym monitorowaniu pracy studenta i sprawdzaniu jego wiedzy. Połączenie programowanych przyrządów laboratoryjnych w system pomiarowy sterowany za pośrednictwem komputera znacznie usprawniło wykonywanie poszczególnych ćwiczeń. Komputer kieruje działaniami studenta,...
Year 2003
-
Some methods of diagnosis of analog circuit using mixed signal test bus IEEE 1149.4
PublicationW artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych:...
-
Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych...
Year 2002
-
Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationW pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena, metodą oscylacyjną oraz metodą transformacji biliniowej. W badaniach użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę. Do pomiarów zastosowano wektorowego oraz multimetr...
seen 1096 times