MICROELECTRONICS RELIABILITY - Journal - Bridge of Knowledge

Search

MICROELECTRONICS RELIABILITY

ISSN:

0026-2714

Disciplines
(Field of Science):

  • automation, electronics, electrical engineering and space technologies (Engineering and Technology)
  • biomedical engineering (Engineering and Technology)
  • civil engineering, geodesy and transport (Engineering and Technology)
  • materials engineering (Engineering and Technology)
  • environmental engineering, mining and energy (Engineering and Technology)
  • physical sciences (Natural sciences)

Ministry points: Help

Ministry points - current year
Year Points List
Year 2024 70 Ministry scored journals list 2024
Ministry points - previous years
Year Points List
2024 70 Ministry scored journals list 2024
2023 70 Ministry Scored Journals List
2022 70 Ministry Scored Journals List 2019-2022
2021 70 Ministry Scored Journals List 2019-2022
2020 70 Ministry Scored Journals List 2019-2022
2019 70 Ministry Scored Journals List 2019-2022
2018 20 A
2017 20 A
2016 20 A
2015 20 A
2014 20 A
2013 20 A
2012 20 A
2011 20 A
2010 27 A

Model:

Hybrid

Points CiteScore:

Points CiteScore - current year
Year Points
Year 2023 3.3
Points CiteScore - previous years
Year Points
2023 3.3
2022 2.8
2021 3.5
2020 3.6
2019 3.1
2018 2.6
2017 2.6
2016 2.6
2015 3.2
2014 3
2013 2.7
2012 2.4
2011 2.3

Impact Factor:

Log in to see the Impact Factor.

Filters

total: 11

  • Category
  • Year
  • Options

clear Chosen catalog filters disabled

Catalog Journals

Year 2018
Year 2014
Year 2012
  • Quality testing methods of foil-based capacitors
    Publication

    - MICROELECTRONICS RELIABILITY - Year 2012

    Kondensatory foliowe są powszechnie stosowanymi elementami pasywnymi w ukłądach zasilania. Dotychczasowe metody oceny ich jakości są długotrwałe oraz zużywają energię. W pracy przedstawiono propozycje szeregu nowych, bardziej efektywnych metod, które mogą być z sukcesem stosowane podczas ich produkcji.

    Full text available to download

Year 2011
Year 2009
Year 2008
  • Evaluation of conductive-to-resistive layers interaction in thick-film resistors
    Publication
    • K. Mleczko
    • Z. Zawiślak
    • A. W. Stadtler
    • A. Kolek
    • A. [. Dziedzic
    • J. A. Cichosz

    - MICROELECTRONICS RELIABILITY - Year 2008

    Spektroskopia szumowa w zakresie małych częstotliwości jest używana do badania oddziaływania warstwy rezystywnej i przewodzącej w wytwarzanych rezystorach grubowarstwowych. Wprowadzono dwa parametry szumowe do określania stopnia tego oddziaływania. Opisano wyniki przeprowadzonych badań oddziaływania warstw z dwutlenku rutenu, rutenku bizmutu z kontaktami ze złota, platyna-złoto, pallad-srebro, od różnych producentów.

    Full text to download in external service

  • Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality
    Publication

    Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu...

    Full text to download in external service

  • Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation
    Publication

    Przedmiotem artykułu jest, zorientowane na uszkodzenia, testowanie wielostopniowych układów w pełni różnicowych. Zaproponowano metodę testowania z zastosowaniem pobudzenia układu testowanego sygnałem wspólnym. Rozważane są dwa warianty metody. Pierwszy wariant wykorzystuje do pobudzenia wejście każdego różnicowego stopnia. Drugi wariant wykorzystuje dodatkowe wejście wzmacniacza operacyjnego i testuje wielostopniowy układ bez jego...

    Full text to download in external service

Year 2005
Year 2002

seen 635 times