Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Search results for: afm
-
The study of harmonic imaging by AFM = Badania harmonicznych w obrazowaniu AFM
Publication -
Simulation and measurements for the substance identification by AFM
Publication -
Morphology of polyurethanes revisited by complementary AFM and TEM
PublicationPrzedmiotem badań mikroskopowych TEM i AFM były lane segmentowe poliuretany o zawartości 30 i 50% segmentu sztywnego. Stwierdzono obecność sferolitów (poziom mikrometrów), fibryl i globul. Ponadto zastosowanie AFM pozwoliło na zbadanie nanomorfologii badanych poliuretanów. Zaobserwowano krótkie, cylindropodobne domeny segmentów sztywnych rozproszone w matrycy segmentów giętkich.
-
AFM-assisted investigation of conformal coatings in electronics
PublicationPurpose – This paper aims to presents a new method of investigation of local properties of conformal coatings utilized in microelectronics. Design/methodology/approach – It is based on atomic force microscopy (AFM) technique supplemented with the ability of local electrical measurements, which apart from topography acquisition allows recording of local impedance spectra, impedance imaging and dc current mapping. Potentialities...
-
Evaluation of organic coatings condition with AFM-based method
PublicationThe paper presents an atomic force microscopy (AFM)-based approach to evaluation of local protective properties of organic coatings. Apart from topography, it provides local ac and dc characteristics of examined coating. The method consists in application of ac voltage perturbation signal between conductive AFM tip and coated metal substrate. The resulting current is used to determine local impedance characteristics. Both impedance...
-
Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis
PublicationPrzedstawiono sposób usunięcia zakłóceń pojawiających się na obrazach uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych (AFM). Przybliżono kilka metod stosowanych do redukcji zakłóceń w obrazach. Następnie opisano zidentyfikowane zakłócenia harmoniczne oraz zaproponowany sposób ich znaczącej redukcji. W pracy zamieszczono szereg obrazów uzyskanych z mikroskopu AFM ilustrujących efekty powodowane zakłóceniami oraz skuteczność zaproponowanej...
-
Corrosion process monitoring by AFM higher harmonic imaging
PublicationThe atomic force microscope (AFM) was invented in 1986 as an alternative to the scanning tunnelling microscope, which cannot be used in studies of non-conductive materials. Today the AFM is a powerful, versatile and fundamental tool for visualizing and studying the morphology of material surfaces. Moreover, additional information for some materials can be recovered by analysing the AFM's higher cantilever modes when the cantilever...
-
AFM, XRD and HRTEM studies of annealed FePd thin films
Publication -
TEM and AFM studies of segmented polyester polyurethanes obtained by quasi-prepolymer method.
PublicationPrzedmiotem badań były poliestrouretany o zawartości 50% segmentów sztywnych i zmiennym stosunku NCO/OH. Wykazano, że poliestrouretany otrzymane metodą quasi-prepolimerową wykazują inną morfologię niż otrzymane za pomocą metody prepolimerowej. W poliuretanach quasi- prepolimerowych obserwowano za pomocą mikroskopu AFM agregację segmentów sztywnych o wymiarze poprzecznym rzędu200nm. Segmenty te tworzyły fazę ciągłą. Kruche...
-
Hyperelastic Microcantilever AFM: Efficient Detection Mechanism Based on Principal Parametric Resonance
PublicationThe impetus of writing this paper is to propose an efficient detection mechanism to scan the surface profile of a micro-sample using cantilever-based atomic force microscopy (AFM), operating in non-contact mode. In order to implement this scheme, the principal parametric resonance characteristics of the resonator are employed, benefiting from the bifurcation-based sensing mechanism. It is assumed that the microcantilever is made...