Filtry
wszystkich: 353
-
Katalog
Wyniki wyszukiwania dla: embedded systems
-
Test Design Patterns for Embedded Systems,
PublikacjaTest suites for embedded systems are typically created from scratch using dif- ferent, often inadequate methods. In consequence, industry branches dealing with software-intensive embedded systems have to cope with quality problems, even though test processes are particularly time-consuming and costly. Based on an evolving model-based testing methodology we introduce test design patterns for simplifying and accelerating...
-
IPNES - Interpreted Petri Net for Embedded Systems
Publikacja -
Smart Embedded Systems with Decisional DNA Knowledge Representation
PublikacjaEmbedded systems have been in use since the 1970s. For most of their history embedded systems were seen simply as small computers designed to accomplish one or a few dedicated functions; and they were usually working under limited resources i.e. limited computing power, limited memories, and limited energy sources. As such, embedded systems have not drawn much attention from researchers, especially from those in the artificial...
-
Performance Analysis of Convolutional Neural Networks on Embedded Systems
PublikacjaMachine learning is no longer confined to cloud and high-end server systems and has been successfully deployed on devices that are part of Internet of Things. This paper presents the analysis of performance of convolutional neural networks deployed on an ARM microcontroller. Inference time is measured for different core frequencies, with and without DSP instructions and disabled access to cache. Networks use both real-valued and...
-
Model-Based Testing of Embedded Systems in the Automotive Domain
PublikacjaPhD
-
Decisional DNA based embedded systems: a new perspective
PublikacjaOmówiono nowe kierunki i perspektywy badań w zakresie systemów podporządkowanych opartych na decyzyjnym DNA.
-
A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów...
-
A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems
PublikacjaPrzedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ...
-
PSoC embedded systems and its potential applications in wireless sensors network
PublikacjaW artykule zostanie przedstawiona koncepcja bezprzewodowej sieci sensorowej z wykorzystaniem mikrokontrolerów PSoC firmy Cypress. Mikrokontrolery PSoC (ang. Programmable System on a Chip) to 8-bitowe uniwersalne układy programowalne znajdujące zastosowanie między innymi w przemyśle, elektronice medycznej, telekomunikacji i samochodowych systemach sterowania. Mikrokontrolery PSoC pozwalają użytkownikom wybierać rodzaj i liczbę peryferiów...
-
Implementation of an input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems
PublikacjaPrzedstawiono implementację zmodyfikowanej metody 2D detekcji i lokalizacji uszkodzeń sieci analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów nieuszkodzonych w systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Metoda składa się z dwóch etapów: przedtestowego - tworzenie słownika uszkodzeń i testowego, w którym dokonywany jest pomiar przez mikrokontroler amplitudy i przesunięcia fazowego odpowiedzi na pobudzenie przebiegiem...
-
A Taxonomy of Model-Based Testing for Embedded Systems from Multiple Industry Domains
PublikacjaThis chapter provides a taxonomy of Model-Based Testing (MBT) based on the approaches that are presented throughout this book as well as in the related literature. The techniques for testing are categorized using a number of dimensions to familiarize the reader with the terminology used throughout the chapters that follow. In this chapter, after a brief introduction, a general definition of MBT and related work on available MBT...
-
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
PublikacjaThe paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...
-
A solution of the integrated µBIST for functional and diagnostic testing in mixed-signal electronic embedded systems
PublikacjaMain problem of the paper is testing of analog circuits and blocks in mixed-signal electronic embedded systems (EESs), using the built-in self-test (BIST) technique. The integrated mBIST based on reusing signal blocks already present in an EES, such as processors, memories, ADCs, is presented. The novelty of the solution is the extended functionality of the mBIST. It can perform 2 testing functions: functional testing and fault...
-
Using an IEEE1149.1 Test Bus for Fault Diagnosis of Analog Parts of Electronic Embedded Systems
PublikacjaThe new solution of a BIST called the JTAG BIST for self-testing of analog parts of electronic embedded systems is presented in the paper. The JTAG BIST consists of the BCT8244A and SCANSTA476 integrated circuits of Texas Instruments controlled via the IEEE 1149.1 bus. The BCT8244A is a scan test device with octal buffers, and the SCANSTA476 is a 12-bit ADC with 8 analog input channels. Self-testing approach is based on the fault...
-
A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
PublikacjaA new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single...
-
Efficient algorithm for blinking LED detection dedicated to embedded systems equipped with high performance cameras
PublikacjaThis paper presents the concept and implementation of an efficient algorithm for detection of blinking LED or similar signal sources. Algorithm is designed for embedded devices equipped with high performance cameras being a part of an indoor positioning embedded system. An algorithm to be implemented in such a system should be efficient in terms of computational power what is hard to be achieved when large amount of data from camera...
-
Using a square-wave signal for fault diagnosis of analog parts of mixed-signal electronic embedded systems
PublikacjaArtykuł przedstawia nowe podejście do detekcji i lokalizacji pojedynczych katastroficznych i parametrycznych uszkodzeń części analogowych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych. Podejście składa się z trzech etapów: tworzenia słownika uszkodzeń na podstawie krzywych identyfikacyjnych, etapu pomiarowego w którym układ badany pobudzany jest falą prostokątną generowaną przez mikrokontroler a odpowiedź jest próbkowana...
-
Model-Driven Testing of Real-Time Embedded Systems - From Object Oriented towards Function Oriented Development
PublikacjaMBD
-
A fault diagnosis method for analog parts of embedded systems based on time response and identification curves in the 3-D space
PublikacjaPrzedstawiono nową wersję 3-D nowej metody diagnostycznej części analogowych w mieszanych sygnałowo systemach wbudowanych bazujących na mikrokontrolerach. Bazuje ona na krzywych identyfikacyjnych w przestrzeni 3-D i pomiarze próbek napięcia odpowiedzi układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym. Zalety metody: pomiary są wykonywane wyłącznie za pomocą urządzeń peryferyjnych popularnych mikrokontrolerów, procedura diagnostyczna...
-
From Functional Requirements through Test Evaluation Design to Automatic Test Data Retrieval – a Concept for Testing of Software Dedicated for Hybrid Embedded Systems
PublikacjaFrom Functional Requirements through Test Evaluation Design to Automatic Test Data Retrieval – a Concept for Testing of Software Dedicated for Hybrid Embedded Systems