Filtry
wszystkich: 4785
-
Katalog
- Publikacje 3997 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 29 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 1 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 121 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 74 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 17 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 15 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 12 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 14 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 161 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 7 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 337 wyników po odfiltrowaniu
wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc
Wyniki wyszukiwania dla: POMIAR RLC
-
RSC Advances
Czasopisma -
Pomiary Automatyka Robotyka
Czasopisma -
Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublikacjaPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...
-
Metodyka wykonywania pomiarów oraz ocena niepewności i błędów pomiaru
Publikacjaelem każdego ćwiczenia w laboratorium studenckim jest zmierzenie pewnych wielkości, a następnie ob- liczenie na podstawie tych wyników pomiarów wartości wielkości badanej. Rezulta- tem końcowym badań jest nie tylko otrzymany wynik liczbowy. Nie mniej ważne jest dokonanie oceny dokład- ności pomiaru oraz opraco- wanie wniosków końcowych. Warto zadać sobie pytanie: czy to, co zostało zmierzone, ma sens i co z tego wynika?...
-
A method of measuring RLC components for microcontroller systems
PublikacjaA new method of measuring RLC components for microcontroller systems dedicated to compact smart impedance sensors based on a direct sensor-microcontroller interface is presented. In the method this direct interface composed of a reference resistor connected in series with the tested sensor impedance is stimulated by a square wave generated by the microcontroller, and then its voltage response is sampled by an internal ADC of the...
-
Optimization and improvement of the ARQ mechanism in RLC layer in UMTS.
PublikacjaParametry wydajnościowe warstwy RLC systemu UMTS są silnie uzależnione od ich konfiguracji początkowej i dynamicznych zmian. Celem referatu była prezentacja efektywności pracy warstwy RLC, w trybie AM, ze szczególnym uwzględnieniem mechanizmu ARQ. Zaproponowano procedury optymalizacji ustawień parametrów RLC. Opisano też metody dalszej poprawy efektywności funkcjonowania RLC AM, poprzez zdefiniowanie i zaimplementowanie nowych...
-
Pomiar rezystancji uziemienia
PublikacjaOdpowiedź na list czytelnika objaśnia jak postępować w razie koniecznościpomiaru rezystancji uziemienia w terenie uzbrojonym.
-
Stereoskopowy pomiar odległości
PublikacjaPomiar odległości jest jedną z podstawowych operacji spotykanych w systemach przemysłowych i militarnych. W pracy przedstawiono urządzenie do precyzyjnego pomiaru małych odległości nieprzekraczających 15 m. Urządzenie będzie zainstalowane na platformie mobilnej przewidzianej do pomiaru temperatury linii wysokiego napięcia z użyciem kamery termowizyjnej. Pomiar tą metodą wymaga określenia odległości od obiektu. Wartość odległości...
-
Zastosowanie probabilistycznego modelu pomiaru do wyznaczania miar jakości testu
PublikacjaZaproponowano dwie szybkie metody wyznaczania probabilistycznych miar jakości testu na etapie projektowania, opracowane pod kątem zastosowań w testowaniu analogowych układów elektronicznych. Pierwsza analityczna metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Druga jest metodą Monte Carlo wydatnie przyspieszoną poprzez zastąpienie procesu...
-
Wyznaczanie miar jakości testu z zastosowaniem probabilistycznego modelu pomiaru
PublikacjaZaproponowano szybką analityczną metodę wyznaczania miar jakości testu na etapie jego projektowania. Metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Podano przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora w układzie testującym wyrób elektroniczny.
-
Ograniczenia wirtualnego miernika RLC zrealizowanego na układzie AD5933
PublikacjaW artykule przedstawiono wirtualny miernik elementów RLC, zrealizowany w oparciu o mikrosystem AD5933. Mikrosystem wyznacza parametry impedancyjne elementów mierzonych, wykorzystując CPS do obliczenia składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych. Przeprowadzone badania mikrosystemu, w konfiguracji zalecanej przez producenta, wykazały niekorzystny wpływ jego rezystancji wyjściowej na błąd pomiaru impedancji. Dlatego opracowano...
-
Pomiar wolnozmiennych pól elektromagnetycznych.
PublikacjaW artykule poruszono szereg spraw dotyczących charakterystyki metodyki pomiarowej pól elektromagnetycznych małej częstotlliwości, opisano podstawowe wymagania stawiane aparaturze pomiarowej przy pomiarze wolnozmiennych pól elektromagnetycznych oraz ogólne warunki wykonywanych badań.
-
RELC Journal
Czasopisma -
REC: CardioClinics
Czasopisma -
Miernik elementów RLC na bazie układu ''programmable system On a Chip''
PublikacjaW artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu ''programmable system On a Chip'' firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fouriera pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re...
-
Pomiar rozmiaru i prcochłonności oprogramowania
PublikacjaZależność pomiędzy rozmiarem wytworzonego oprogramowania a pracochłonnością jest istotną wskazówką dla skutecznego planowania procesu wytwórczego oraz konstruowania harmonogramów. W referacie skupiono się na fragmencie tego problemu dotyczącą miar oraz technik pomiaru rozmiaru i pracochłonności związanych z realizacją przedsięwzięcia informatycznego. Przedstawiono główne miary rozmiaru i pracochłonności oraz zaprezentowano narzędzie...
-
Pomiar impedancji metodą skanowania częstotliwościowego
PublikacjaW pracy przedstawiono nową metodę pomiaru impedancji. Bazuje ona na ciągłym niestacjonarnym sygnale pobudzającym CHIRP którego częstotliwość zmienia się wykładniczo w czasie. W procesie rejestracji pobudzenia i odpowiedzi prądowej zastosowano zmienną częstotliwość próbkowania. Stwierdzono iż dokładność wyników otrzymywanych tą metodą jest wprost proporcjonalna do rozdzielczości częstotliwościowej z jaką otrzymywane są wartości...
-
Pomiar położenia wrzeciona zaworów regulacyjnych
PublikacjaPrzedstawiono problemy związane z pomiarem położenia wrzeciona zaworów regulacyjnych na stanowisku pomiarowo-diagnostycznym. Rozpatrzono wykorzystanie dwóch metod: pomiar enkoderem inkrementalnym z linką przenoszącą ruch liniowy na obrotowy i pomiar dalmierzem laserowym. Przedstawiono i porównano wyniki uzyskane zastosowanymi metodami.
-
Pomiar wydajności systemów grafiki trójwymiarowej.
PublikacjaTworząc interakcyjny system graficzny należy mieć na uwadze wydajność zarówno sprzętu, jak i obsługującego go oprogramowania. Zaniedbanie analizy możliwości hardware'u i software'u grozi brakiem wydolności systemu i w efekcie koniecznością kosztownej modyfikacji sprzętu lub pracochłonnej (ze względu na przebudowę kodu) wymiany biblioteki graficznej. Oszacowanie wydajności systemu graficznego wydaje się zatem niezbędne w początkowym...
-
Pomiar lojalności klientów - wybrane wskaźniki
PublikacjaSytuacja na rynkach sprawia, że konieczne jest konkurowanie poprzez dbałość o satysfakcję i lojalność klientów. Wymaga to od przedsiębiorstw podejmowania wielu działań, ale także monitorowania ich rezultatów. Celem artykułu jest przedstawienie wybranych metod mierzenia lojalności klientów. Skoncentrowano się na wskaźnikach satysfakcji takich jak CSI, ACSI, EPSI, a także wskaźnikach lojalności, ujmujących różne aspekty tego zjawiska...