Wyszukiwarka
dr inż. Barbara Stawarz-Graczyk
Zatrudnienie
- Adiunkt w Katedra Metrologii i Optoelektroniki
Publikacje
Filtry
wszystkich: 29
Katalog Publikacji
Rok 2018
-
PHASE OBJECT OBSERVATION SYSTEM BASED ON DIFFRACTION PHASE MICROSCOPY
PublikacjaIn the paper authors present a special measurement system for observing phase objects. The diffraction phas microscopy makes it possible to measure the dimensions of a tested object with a nanometre resolution. To meet this requirement, it is proposed to apply a spatial transform. The proposed setup can be based either on a two lenses system (called 4 f ) or a Wollaston prism. Both solutions with all construction aspects are described...
Rok 2017
-
System do pomiaru szumów elementów optoelektronicznych w szerokim zakresie prądów
PublikacjaW artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych...
Rok 2016
-
Observation on red blood cells fluctuations by diffraction phase microscopy
PublikacjaNowadays there is quite huge need for more and more precise and effective fast diagnostics methods in hematology diseases. One of the most important blood components are erythrocytes – Red Blood Cells (RBCs). Due to their size they are easy to observe using microscopy. It is commonly known that the shape and lifetime of RBCs allows for early disease identification. Authors present special measurement system for RBCs fluctuations...
Rok 2015
-
SYSTEM IDENTYFIKACJI SZUMÓW RTS TRANSOPTORÓW CNY17
PublikacjaW artykule opisano zaprojektowany i wykonany system do identyfikacji szumów wybuchowych (RTS – Random Telegraph Signal) występujących w transoptorach typu CNY17. Z metod umożliwiających ocenę parametrów szumów wybuchowych wybrano do realizacji metodę Wzorów Obrazów Szumów – WOS (ang. Noise Scattering Patterns – NSP), która w sposób bardzo prosty pozwala na rozpoznawanie szumów o rozkładach wartości chwilowych gaussowskich i niegaussowskich....
-
DIFFRACTION PHASE MICROSCOPY FOR OBSERVATION ON RED BLOOD CELLS FLUCTUATION
PublikacjaNowadays there is quite huge need for more and more precise and effective fast diagnostics methods in hematology diseases. One of the most important blood components are erythrocytes – RBCs (Red Blood Cells). Due to their size they are easy to observe using microscopy. It is commonly known that the shape and lifetime of RBCs allows for early disease identification. Authors present special measurement system for RBCs fluctuations observation...
Rok 2014
-
Investigation of RTS Noise in Reverse Polarized Silicon Carbide Schottky Diodes
PublikacjaOne of the method of electronic device quality and reliability evaluation is observation of its inherent noise. The RTS phenomena usually indicates the presence of large defects in the structure of the material of the device, therefore it can be treated as an indicator of technology quality. In the paper authors present results of RTS investigations in reverse polarized Silicon Carbide Schottky diodes. Devices being studied are...
Rok 2012
-
Method and measurement system for DC characteristics measurement of power diodes in very wide current range
PublikacjaW artykule przedstawiono układ pomiarowy do pomiaru charakterystyk stałoprądowych diod. Pomiar przeprowadzany jest metodą impulsową w celu zapewnienia stałej temperatury badanego elementu w trakcie pomiaru. Do zapewnienia odpowiedniej liczby punktów pomiarowych wykorzystano układ zmodyfikowanej drabinki R2R z pojedynczymi kluczami sterującymi.
Rok 2011
Rok 2010
-
Oszacowanie korelacji między źródłami prądowymi zlokalizowanymi w bramce i drenie tranzystora MESFET SiC
PublikacjaPrzedstawiono metodę umożliwiającą szybką ocenę korelacji między szumami generowanymi w bramce oraz w drenie tranzystorów MESFET SiC. Badania przeprowadzono dla tranzystorów CRF-24010 firmy CREE. Korelację oszacowano z przebiegów czasowych szumów w zakresie małych częstotliwości (od 2 Hz do 2 kHz), przy trzech różnych wartościach prądu drenu: Id = 1; 5; 10 mA. Porównano wynik oszacowania korelacji (dziedzina czasu) z wyznaczoną...
-
A method of RTS noise identification in noise signals of semiconductor devices in the time domain
PublikacjaIn the paper a new method of Random Telegraph Signal (RTS) noise identification is presented. The method is based on a standardized histogram of instantaneous noise values and processing by Gram-Charlier series. To find a device generating RTS noise by the presented method one should count the number of significant coefficients of the Gram-Charlier series. This would allow to recognize the type of noise. There is always one (first)...
Rok 2009
-
The Methods for RTS Noise Identification
PublikacjaIn the paper authors present two methods, which allows to identify the RTS noise in noise signal of semiconductor devices. The first one was elaborated to identify the RTS noise and also to estimate the number of its levels. The second one can be used to estimate all of the parameters of Gaussian and non-Gaussian components in the noise signal in a frequency domain.
-
Systemy do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości
PublikacjaPrzedstawiono schemat blokowy systemu do pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych. Opisano najważniejsze podzespoły takiego systemu oraz ich wpływ na wyniki pomiaru szumów.
-
Ocena parametrów statycznych diod Schottky'ego z SiC
PublikacjaPrzedstawiono wyniki pomiarów parametrów statycznych 3 prób diod Schottky'ego produkcji CREE i 2 prób diod Schottky'ego produkcji INFINEON. Stwierdzono, że charakterystyki przy polaryzacji diod w kierunku przewodzenia są w zasadzie identyczne, natomiast przy polaryzacji w kierunku zaporowym wykazują istotne różnice, szczególnie w zakresie napięć w kierunku zaporowym powyżej 600 V
-
Metoda oceny jakości transoptorów na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości
PublikacjaWe wstępie rozprawy doktorskiej przedstawiono aktualny stan wiedzy dotyczący zagadnień szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych, w szczególności transoptorów. Następnie przedstawiono ocenę parametrów statycznych transoptorów oraz ocenę współczynnika CTR i hFE. Jeden rozdział poświęcono opisowi stanowiska pomiarowego, które wykorzystano do pomiarów szumów własnych diod transoptorów, fototranzystorów transoptorów oraz transoptorów....
-
Low Frequency Noise Measurement of Reverse Polarized Silicon Carbide Schottky Diodes
PublikacjaW artykule przedstawiono wyniki pomiaró szumów cz. wstecznie spolaryzowanych diod Schottky'ego.
-
Identyfikacja szumów wybuchowych w dziedzinie czasu
PublikacjaW referacie przedstawiony został system do pomiaru szumów własnych transoptorów. Badane transoptory typu CNY17 składają się z diody LED, fototranzystora i kanału optycznego. System pomiarowy zawiera 3 głowice pomiarowe i dlatego umożliwi pomiar szumów diod LED, fototranzystorów oraz całego elementu, czy transoptora.W referacie przedstawione zostały przykładowe wyniki pomiarów szumów własnych elementów składowych transoptora i transoptora...
-
Identification of inherent noise components of semiconductor devices on an example of optocouplers
PublikacjaIn the paper, a method of estimation of parameters of Gaussian and non-Gaussian components in the noise signal of semiconductor devices in a frequency domain is proposed. The method is based on composing estimators of two spectra, corresponding to noise (Gaussian component) and two-level RTS noise (non-Gaussian component). The proposed method can be applied for precise evaluation of the corner RTS frequency fRTS in the noise...
Rok 2008
-
The noise macromodel of an optocoupler including 1/(f^alfa) noise source
PublikacjaThe course of design of an optocoupler's PSpice macromodel including noise sources is described. The PSpice macromodel is proposed for the low frequency range. The PSpice model of a MOSFET transistor was applied as the noise source type 1/(f^alfa) in an optocoupler PSpice macromodel. In the enhanced macromodel the value of an exponent α can be changed in the range of 0.8 - 1.25.
-
Metody analizy szumu telegrafistów przyrządów półprzewodnikowych
PublikacjaScharakteryzowano szum telegrafistów (Random Telegraph Signal - RTS), który może występować w szumie własnym przyrządów półprze-wodnikowych, jako składowa niegaussowska. Podkreślono, że szum telegrafistów jest efektem defektów materiałów zastosowanych w produk-cji przyrządów półprzewodnikowych lub nieprawidłowości procesu pro-dukcyjnego. Przedstawiono metody identyfikacji wielopoziomowego szumu telegrafistów, na przykładzie przebiegów...
Rok 2007
-
Szumowy model transoptora z uwzględnieniem źródeł szumów typu 1/f^alfa
PublikacjaW publikacji zaprezentowano ideowy zastepczy schemat szumowy transoptora. Schemat przedstawiono na podstawie wyników pomiarów szumów. Schemat zawiera wszystkie źródła szumów, które występują w diodzie LED, fototranzystorze oraz kanale optycznym. Zaprezentowano proces konstruowania modelu szumowego transoptora stoworzonego w programie typu SPICE. Makromodel pozwala modelować wartości parametru alfa, który wykorzystuje się opisu...
wyświetlono 1150 razy