dr hab. inż. Robert Bogdanowicz
Zatrudnienie
- Profesor uczelni w Katedra Metrologii i Optoelektroniki
- Kierownik Zespołu Nanodiamond w https://www.diamondized.eu/
- Kierownik Laboratorium Innowacyjnych Materiałów i Elementów CZT Pomorze w Politechnika Gdańska
Obszary badawcze
Publikacje
Filtry
wszystkich: 238
Katalog Publikacji
Rok 2002
-
Raman investigation of sol-gel-derived hybrid polymers for optoelectronics
PublikacjaPrzedstawiono wykorzystanie spektroskopii ramanowskiej do kompleksowej diagnostyki polimerów hybrydowych stosowanych w optoelektronice. Zbadano efektywność kolejnych etapów procesu technologicznego: od monomerów do etapu produktu finalnego - cienkich warstw.
-
Komplementarne metody optyczne do badania struktury molekularnej nowoczesnych materiałów dla optoelektroniki.
PublikacjaZastosowano komplementarne metody optyczne: spektroskopię ramanowską oraz spektroskopię w podczerwieni do badania reakcji zachodzących w czasie wytwarzania polimerów hybrydowych. Umożliwiło to uszczegółowienie opisu reakcji hydrolizy monomerów w trakcie żelowania.
-
Diagnostyka ramanowska w procesie wytwarzania polimerów hybrydowych dla optoelektroniki.
PublikacjaPrzeprowadzono badanie procesu technologicznego zol-żel zastosowanego do wytwarzania cienkowarstwowych materiałów optoelektronicznych. Zaproponowano efektywne konfiguracje systemów ramanowskich, które umożliwiają dokonywanie pomiarów dla różnych postaci badanego materiału.
Rok 2003
-
Raman scattering measurements in monitoring of polymer synthesis process. Lightmetry 2002 : Metrology and Testing Techniques Using Light.
PublikacjaW artykule omówiono możliwości wykorzystania pomiarów ramanowskich do monitorowania w czasie rzeczywistym przebiegu procesów syntezy materiałów polimerowych. Wykorzystano sondy światłowodowe do sprzęgnięcia aparatury pomiarowej z typowym stanowiskiem technologicznym. Pomiary miały charakter zdalny, nieniszczący i niezakłócający przebieg reakcji.
-
Raman scattering measurements in monitoring of polymer synthesis process
Publikacja -
Raman investigation of minor component reaction during polymer synthesisprocess. IV Workshop on Atomic and Molecular Physics.
PublikacjaWykonano badania ramanowskie reakcji zachodzących podczas procesu wytwarzania polimerów hybrydowych w ich części organicznej. Optyczne monitorowanie przebiegu reakcji w czasie rzeczywistym umożliwiło zbadanie ich efektywności oraz czasu trwania. Wyjaśniono też rolę katalizatorów.
-
Chromatic monitoring technique for thickness measurementof thin transparent films.IV Workshopon Atomic and Molecular Physics.
PublikacjaW pracy opisano nową technikę monitorowania grubości cienkich warstw podczas procesu ich syntezy. Jest to optyczna metoda oparta na zdegenerowanej analizie widmowej tzw. modulacji chromatycznej. Umożliwia ona precyzyjny ciągły pomiar zmian grubości wzrastających warstw stosowanych w optyce.
Rok 2004
-
Pomiary grubości cienkich warstw metodą modulacji chromatycznej.
PublikacjaTematem artykułu jest pomiar grubości struktur cienkowarstwowych szerokostosowanych w optoelektronice, transparentnych warstw dielektrycznych. Grubość jest najistotniejszym parametrem warstwy i determinuje jej właściwościoptyczne. Metoda pomiaru grubości cienkich warstw powinna być bezkontaktowa, nieniszcząca, niekosztowna oraz odporna na zakłócenia
-
Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych.
PublikacjaW artykule opisano problemy związane z określaniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne, oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej. Opisano praktyczne układy, umożliwiające pomiary...
-
Optical measurements for thin oil film investigation in rheometric processes.
PublikacjaPrzedmiotem badań jest pomiar parametrów cienkiej warstwy oleju silikonowego AK106, powstającej na ścianach dyszy w trakcie procesu reologicznego wyciskania do form past ceramicznych, przygotowywanych ze sproszkowanego tlenków wodorotlenków AlOOH oraz oleju AK106. Parametrami badanymi były: grubość warstwy oleju, charakterystyka reflektancyjna pasty oraz skład mieszaniny. Przedstawione zagadnienie ma istotne znaczenie dla rozwoju...
-
Diagnostyka procesu CVD metodą optycznej spektroskopii emisyjnej. Diagnostics of CVD process by means of optical emission spectroscopy.
PublikacjaZastosowano optyczną spektroskopię emisyjną do badania w trybie in-situ dysocjacji cząsteczek oraz wzbudzenia i jonizacji atomów wodoru podczas procesu syntezy cienkich warstw diamentowych metodą chemicznego osadzania z par gazowych wspomaganego plazmą mikrofalową (mPACVD). Zbudowano tor światłowodowy, umożliwiający sprzężenie komory CVD z systemem spektroskopowym i wykonywanie pomiarów bezinwazyjnych. Wykonano pomiary spektralne...
-
Diagnostics of cvd process by means of optical emission spectroscopy.
PublikacjaZastosowano optyczną spektroskopię emisyjną do badania w trybie in-situ dysocjacji cząsteczek oraz wzbudzenia i jonizacji atomów wodoru podczas procesu syntezy cienkich warstw diamentowych metodą chemicznego osadzania z par gazowych wspomaganego plazmą mikrofalową (mPACVD). Zbudowano tor światłodowy, umożliwiający sprzężenie komory CVD z systemem spektroskopowym i wykonywanie pomiarów bezinwazyjnych. Wykonano pomiary spektralne...
Rok 2005
-
Raman spectroscopy in investigation of rheometric processes
Publikacja -
Raman spectroscopy in investigation of rheometric processes
PublikacjaPraca porusza problem analizy cienkiej warstwy przyściennej -oleju za pomocą spektroskopii ramanowskiej. Parametry (grubość, struktura chemiczna) cienkiej warstwy przyśniennej są istotną informacją do oceny przebiegu procesu wyciskania past modelowych. Zaprezentowano wyniki pomiarów oraz konstrukcje ramanowskich układów pomiarowych.
-
Optyczny tester chropowatości powierzchni szyb samochodowych
PublikacjaSzyby samochodowe w okresie eksploatacji ulegają uszkodzeniom czego wynikiem są kratery i zarysowania. Obecnie, stan powierzchni szyb samochodowych oceniany jest subiektywnie przez pracowników stacji diagnostycznych. Nie istnieją normy określające sposób badania chropowatości powierzchni szyb ani też przepisy, na postawie których można by określać jakość powierzchni eksploatowanej szyby. Zaproponowano metodę oceny stanu powierzchni...
-
Optical monitoring of thin oil film thickness in extrusion processes
PublikacjaPraca porusza problem pomiaru grubości cienkiej warstwy przyściennej -oleju, podczas procesu wyciskania ceramiki modelowej. Szczegółowo opisuje zjawiska fizyczne zachodzące w warstwie przyściennej oraz dynamiczne parametry wykorzystywane do oceny grubości. Autorzy opisują także metodę pomiaru oraz konstrukcję układów pomiarowych.
Rok 2006
-
Wytłaczanie past ceramicznych - optyczny monitoring poślizgu przyściennego
PublikacjaPrzedmiotem niniejszej pracy jest optyczna metoda spektroskopii reflektancyjnej do pomiaru in situ grubości warstwy przyściennej w procesie wytłaczania past ceramicznych, którą można stosować bez zakłócania przebiegu procesu. Może ona znaleźć zastosowanie do dostarczania danych w analizie i modelowaniu procesu wytłaczania, a także do kontroli on-line przebiegu procesu produkcyjnego.
-
Raman modular system with fibre-optic probes for remote monitoring of CVD process
PublikacjaW pracy opisano konstrukcję modułowego spektroskopu ramanowskiego umożliwiającego monitorowanie wzrostu warstw w procesach CVD. Przedstawiono rezultaty testów skostruowanego układu oraz wstępne wyniki pomiarów warstw diamentowych.
-
Optoelectronic monitoring of plasma discharge optimized for thin diamond film synthesis
PublikacjaPraca dotyczy optoelektronicznego monitoringu wyładowań jarzeniowych podczas syntezy diamentu cienkowarstwowego. Analizę składu plazmy wykonano za pomoca optycznej spektroskopii emisyjnej. Badania mają na celu zdalne określenie składu plazmy oraz jego wpływu na systezę warstw diamentopodobnych.
Rok 2007
-
WOPT-uniwersalny system do analizy i symulacji widm optycznych cienkich struktur dielektrycznych
PublikacjaPrzedstawiono system WOPT umożliwiający symulację złożonych, dielektrycznych powłok cienkowarstwowych. Oprogramowanie służy zarówno do projektowania specjalistycznych wielowarstwowych powłok optycznych jak i do kontroli parametrów gotowych produktów cienkowarstwowych. Za pomocą programu można wykonać analizę grubości oraz optycznych parametrów materiałowych powłok dielektrycznych na postawie wykonanych pomiarów spektralnych. Wykonano...
wyświetlono 8391 razy