Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 1592
-
Katalog
- Publikacje 1190 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 73 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 3 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 9 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 13 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 19 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 277 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 6 wyników po odfiltrowaniu
- Oferty 1 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc
Wyniki wyszukiwania dla: TESTOWANIE UKŁADÓW ANALOGOWYCH
-
Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne 2022/2023
Kursy Online{mlang en} 1. Introduction/Guide for the use of the International System of Units2. Rules and style conventions for expressing values of quantities.3. The role of measurement uncertainty in conformity assessment. 4. Probabilistic model for measurement processes, estimation theory5. Analog-digital conversion methods6. Selected structures of classical analog-digital converters7. New techniques of analog-digital conversion: sigma-delta...
-
Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne 2023/2024
Kursy Online{mlang en} 1. Introduction/Guide for the use of the International System of Units2. Rules and style conventions for expressing values of quantities.3. The role of measurement uncertainty in conformity assessment. 4. Probabilistic model for measurement processes, estimation theory5. Analog-digital conversion methods6. Selected structures of classical analog-digital converters7. New techniques of analog-digital conversion: sigma-delta...
-
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych
PublikacjaW artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...
-
System do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych
PublikacjaPrzedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...
-
Technika sygnałów analogowych. - Tom 1,2
Publikacjaom I składa się z sześciu rozdziałów. W rozdziale 1 scharakteryzowano sygnały, elementy, układy i systemy analogowe. Poznanie właściwości elementów ma kluczowe znaczenie przy przewidywaniu właściwości zbudowanych z nich układów elektronicznych. Podobnie znajomość podstawowych praw rządzących rozkładami prądów i napięć ma zasadnicze znaczenie dla zrozumienia metod analizy układów elektronicznych. Rozdział 2 jest poświęcony liniowym...
-
Złote monety bulionowe – testowanie pasywnego charakteru inwestycji
PublikacjaCel – Wyznaczenie składu optymalnego portfela inwestycyjnego o minimalnym ryzyku, zawierającego inwestycję w polskie monety bulionowe (Orzeł Bielik) oraz inwestycję na polskiej giełdzie papierów wartościowych. Testowanie pasywnego charakteru inwestycji w monety. Metodologia badania – Konstrukcja portfeli inwestycyjnych o minimalnym ryzyku według teorii H.M. Markowitza. Autorska metoda badania pasywnego charakteru inwestycji...
-
Testowanie koncepcji nowych produktów w niemieckich przedsiębiorstwach sprzętu gospodarstwa domowego
PublikacjaW artykule przedstawiono wyniki badania, odnośnie stosowania testowania koncepcji nowych produktów, przez niemieckich producentów sprzetu gospodarstwa domowego. Stwierdzono, że większość badanych firm stosuje testowanie koncepcji oraz, że występuje pozytywny związek pomiędzy stosowaniem tej metody a wynikami osiąganymi przy wdrażaniu nowych produktów.
-
Testowanie w przyrostowym i ewolucyjnym cyklu życia oprogramowania
PublikacjaArtykuł prezentuje doświadczenia dotyczące procesu testowania złożonego systemu internetowego rozwijanego w okresie ostatnich pięciu lat. System ten powstaje w cyklu przyrostowym i ewolucyjnym, przechodząc do kolejnych wydań. Rozróżniono wydania główne, które są poprzedzane pełnym zakresem testów regresji oraz wydania rozszerzające, gdzie zakres testowania jest zawężony. Wyjaśniono miejsce procesu testowania w kontekście zarządzania...
-
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych w programowalnym systemie jednoukładowym
PublikacjaW referacie przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujacy na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urzadzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...
-
Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych
PublikacjaWarystory są powszechnie stosowanym elementem zabezpieczającym przed przepięciami sieć energetyczną. Stąd, jakość tych elementów jest bardzo istotna, aby zabezpieczenie było skuteczne. Warystory są wykonywane z taniego i powszechnie stosowanego materiału - tlenku cynku wraz z dodatkami innych substancji, stanowiącymi zwykle tajemnicę producenta i decydującymi o końcowej jakości wyrobu. Produkty opuszczające fabrykę spełniają narzucone...
-
Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych
PublikacjaW pracy przedstawiono budowę warystorów, z uwzględnieniem procesów zachodzących w ich strukturach i prowadzących do zmiany ich parametrów elektrycznych oraz wybrane sposoby testowania ich jakości.
-
Testowanie jakości warystorów niskonapięciowych
PublikacjaWarystory są powszechnie stosowanym elementem zabezpieczającym przed przepięciami sieć energetyczną. Stąd, jakość tych elementów jest bardzo istotna, aby zabezpieczenie było skuteczne. Warystory są wykonywane z taniego i powszechnie stosowanego materiału - tlenku cynku wraz z dodatkami innych substancji, stanowiącymi zwykle tajemnicę producenta i decydującymi o końcowej jakości wyrobu. Produkty opuszczające fabrykę spełniają narzucone...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublikacjaPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.
PublikacjaPrzedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.
-
Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
PublikacjaRozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...
-
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
PublikacjaPrzedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...
-
Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.
PublikacjaPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...
-
A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
PublikacjaPrzedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...
-
Testowanie koncepcji nowych produktów metodą ankietową.
PublikacjaCelem pracy jest przedstawienie istoty i roli testowania koncepcji nowego produktu przy użyciu metody ankietowej. Szczególną uwagę zwrócono na sposób konstrukcji kwestionariusza w tak przeprowadzanym teście koncepcji.
-
Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy...