Katedra Metrologii i Optoelektroniki - Jednostki Administracyjne - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Katedra Metrologii i Optoelektroniki

Filtry

wszystkich: 750

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Publikacji

Rok 2013
Rok 2012
Rok 2010
Rok 2009
  • An application of the TCRBF neural network in multi-node fault diagnosis method
    Publikacja

    - Rok 2009

    Przedstawiono nową metodę samo-testowania części analogowej w systemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Układ badany pobudzany jest przebiegiem sinusoidalnym przez generator zamontowany w systemie, a jego odpowiedź jest próbkowana w wybranych węzłach przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Detekcja i lokalizacja uszkodzenia jest dokontwana przez sieć neuronową typu TCRBF. Procedurę diagnostyczną zaimplementowano...

Rok 2006
  • On-Board Detection, Classification and Evaluation of Nonlinearities
    Publikacja

    Artykuł prezentuje tester wbudowany BIT przeznaczony do wydobywania informacji diagnostycznej z sygnału generowanego przy zastosowaniu oscylacyjnej metody testowania. Układ bazujący na technice modulacji Sigma-Delta i sztucznych sieciach neuronowych może wykrywać nieliniowość w sygnale testującym, określać rodzaj nieliniowości i szacować zawartość harmonicznych.

Rok 2004
Rok 2003
  • A metrological analysis of the input circuit of an impedance meter.
    Publikacja

    W pracy przeprowadzono analizę obwodu wejściowego miernika impedancji W analizie obwodu wejściowego, uwzględniono najważniejsze czynniki wpływające na sygnały na jego wejściu: parametry zmiennoprądowe zastosowanych wzmacniaczy, rezystancję zakresową przetwornika prąd-napięcie, pojemności montażowe. Przeprowadzono symulację sygnałów wydzielanych w obwodzie dla różnych wartości pojemności pasożytniczych, następnie dokonano badań...