dr hab. inż. Zbigniew Czaja
Zatrudnienie
- Profesor uczelni w Katedra Metrologii i Optoelektroniki
Publikacje
Filtry
wszystkich: 47
Katalog Publikacji
-
Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3-D and 4-D spaces
PublikacjaPrzedstawiono ideę nowych metod diagnostycznych 3-D i 4-D opartych na przek-ształceniu biliniowym. Metody te bazują na transformacjach operujących odpo-wiednio w trzy i czterowymiarowych przestrzeniach funkcji układowych. Dlatych metod omówiono algorytm lokalizacji i identyfikacji pojedynczych uszko-dzeń parametrycznych w liniowych układach elektronicznych oraz algorytm lo-kalizacji i identyfikacji pojedynczych uszkodzeń...
-
A microcontroller system for measurement of three independent components in impedance sensors using a single square pulse
PublikacjaOpracowano nową metodę pomiaru w dziedzinie czasu i wyznaczania trzech składowych elementów modelu czujnika impedancyjnego oraz zaimplementowano ją w inteligentnym czujniku impedancji sterowanym 8-bitowym mikrokontrolerem. Metoda bazuje na pobudzeniu dzielnika napięciowego składającego się z rezystora pełniącego funkcję konwertera prąd na napięcie i z czujnika impedancji pojedynczym impulsem prostokątnym o czasie trwania T bezpośrednio...
-
A measurement method for capacitive sensors based on a versatile direct sensor-to-microcontroller interface circuit
PublikacjaIn the paper, there is presented a new time-domain measurement method for determining the capacitance values of capacitive sensors, dedicated, among others, to capacitive relative humidity sensors. The method is based on a versatile direct sensor-to-microcontroller interface for microcontrollers with internal analog comparators (ACs) and with precision voltage reference sources, e.g. digital-to-analog converters (DACs). The reference...
-
Time-domain measurement methods for R, L and C sensors based on aversatile direct sensor-to-microcontroller interface circuit
PublikacjatIn the paper new time-domain measurement methods for determining values of resistive (R), inductive(L) and capacitive (C) sensors based on a versatile direct sensor-to-microcontroller interface for microcon-trollers with internal analog-to-digital converters (ADCs) and analog comparators (ACs) are presented.The interface circuit consists of a reference resistor Rrworking as a voltage divider, a given R, L or C sensorand a microcontroller...
-
Using a square-wave signal for fault diagnosis of analog parts of mixed-signal electronic embedded systems
PublikacjaArtykuł przedstawia nowe podejście do detekcji i lokalizacji pojedynczych katastroficznych i parametrycznych uszkodzeń części analogowych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych. Podejście składa się z trzech etapów: tworzenia słownika uszkodzeń na podstawie krzywych identyfikacyjnych, etapu pomiarowego w którym układ badany pobudzany jest falą prostokątną generowaną przez mikrokontroler a odpowiedź jest próbkowana...
-
A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów...
-
An Implementation of a Compact Smart Resistive Sensor Based on a Microcontroller with an Internal ADC
PublikacjaIn the paper a new implementation of a compact smart resistive sensor based on a microcontroller with internal ADCs is proposed and analysed. The solution is based only on a (already existing in the system) microcontroller and a simple sensor interface circuit working as a voltage divider consisting of a reference resistor and the resistive sensor connected in parallel with an interference suppression capacitor. The measurement...
-
A measurement method for lossy capacitive relative humidity sensors based on a direct sensor-to-microcontroller interface circuit
PublikacjaA new time-domain measurement method for determining the capacitance and resistance values of lossy relative humidity capacitive sensors is presented. The method is based on a direct sensor-to-microcontroller interface for microcontrollers with internal analog comparators and timers. The interface circuit consists only of four reference resistors (two reference resistors if a microcontroller includes a voltage reference source),...
-
Self-Testing of Analog Parts Terminated by ADCs Based on Multiple Sampling of Time Responses
PublikacjaA new approach for self-testing of analog parts terminated by analog-to-digital converters in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers is presented. It is based upon a new fault diagnosis method using a transformation of the set of voltage samples of the time response of a tested analog part to a square impulse into localization curves placed in a multidimensional measurement space. The method can be used...
-
Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems
PublikacjaPrzedstawiono nową koncepcję testera wbudowanego bist przeznaczonego do diagnostyki w pełni różnicowych układów analogowych implementowanych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo. w trakcie testowania mierzona jest amplituda i faza wyjściowego napięcia różnicowego. procedura detekcji i lokalizacji uszkodzeń bazuje na słowniku uszkodzeń przechowywanym w pamięci programu mikrokontrolera. korzystną cechą przestrzeni pomiarowej wyznaczonej...
-
Measurement method for capacitive sensors for microcontrollers based on a phase shifter
PublikacjaA complete measurement method dedicated to capacitive sensors has been developed. It includes the development of hardware (an analogue interface circuit for microcontrollers with built-in times/counters and analogue comparators) and software (a measurement procedure and a systematic error calibration (correction) algorithm which is based on a calibration dictionary). The interface circuit consists of a low-pass filter and a phase...
-
A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
PublikacjaA new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single...
-
A New Approach to Capacitive Sensor Measurements Based on a Microcontroller and a Three-Gate Stable RC Oscillator
PublikacjaA complete smart capacitive sensor solution basedA complete smart capacitive sensor solution based on a microcontroller was developed. This approach includes the development of both the hardware and software. The hardware part comprises an 8-bit microcontroller equipped with two timers/counters and a three-gate stable RC relaxation oscillator. The software part handles system configuration, measurement control, communication control,...
-
Simple Measurement Method for Resistive Sensors Based on ADCs of Microcontrollers
PublikacjaA new, complete measurement method for resistance measurement of resistive sensors for systems based on microcontrollers equipped with analog-to-digital converters (ADCs) is proposed. The interface circuit consists of only four resistors, including a resistive sensor and a reference resistor, connected directly to the microcontroller pins. It is activated only during measurements, which significantly reduces power consumption....
-
A method of measuring RLC components for microcontroller systems
PublikacjaA new method of measuring RLC components for microcontroller systems dedicated to compact smart impedance sensors based on a direct sensor-microcontroller interface is presented. In the method this direct interface composed of a reference resistor connected in series with the tested sensor impedance is stimulated by a square wave generated by the microcontroller, and then its voltage response is sampled by an internal ADC of the...
-
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
PublikacjaW artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...
-
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
PublikacjaW pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
PublikacjaPrzedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...
-
An application of the TCRBF neural network in multi-node fault diagnosis method
PublikacjaPrzedstawiono nową metodę samo-testowania części analogowej w systemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Układ badany pobudzany jest przebiegiem sinusoidalnym przez generator zamontowany w systemie, a jego odpowiedź jest próbkowana w wybranych węzłach przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Detekcja i lokalizacja uszkodzenia jest dokontwana przez sieć neuronową typu TCRBF. Procedurę diagnostyczną zaimplementowano...
wyświetlono 2842 razy